X射線熒光全息術中入射能量對原子像的影響

摘要: 　X 射線熒光全息術是一種新型的顯微成像技術,它能在原子水平上直接觀察到晶體內部的三維結構。然而它所得到的原子像存在明顯的孿生像現象。因此,采用多重能量的全息記錄來消除孿生像。分別以單個和多個鐵原子為模型,數值模擬了它們在4π立體角范圍內、不同范圍的入射能量的情況下記錄的全息圖。比較由這些全息圖重構得到的原子像,發現入射能量范圍越寬,其消除孿生像的效果越好,而且隨著入射能量的提高,其原子像的分辨力也越高。