XRF問題匯總（六）

51.生鐵中 的 Si分析與化學分析 誤差比較大,C和S 與碳硫分析儀 對不上C的差距最
大，S的分析有時候差距比較大 一般 正負2 左右.分析標樣還可以 為什么會這樣?
(1) 我分析可能是制樣導致的差距,可以多分析幾個標樣,看看怎樣,如果標樣分析不相差,只是樣品分析存在差距,可以從制樣過程中找原因,樣品制樣過程過熱,也可能導致碳有差距.僅為個人看法. 
(2) 建議用儀器制造商提供的人工晶體分析Si（如果有的話）；通常，XRF分析 C和S沒有碳硫分析儀準確。
(3) 主要是基體影響造成的。要采用與被測樣品基體相同、含量接近的標準物質進行校正，予以克服。
(4) 碳分析不是熒光強項,大偏差正常;其它元素分析時必須考慮制樣問題,保持分析樣品與建立曲線時一致.
(5) C用熒光肯定誤差較大，根據我過去的開發經驗，S與CS分析儀還是比較接近的，可能你的標準曲線樣與測試樣基體差別較大，一般工業上要每天對曲線進行維護的！  (6) 分析生鐵中的硅可能會出現與化學值形成系統性的偏差,這可能是和生產工藝及澆鑄過程有關,可以采用數學方法進憲修正,關于碳硫,可能產生不穩定的偏差,這與制樣手法,磨樣力度,時間等制樣條件有關,所以,一般生鐵中碳硫最好不要用X熒光分析,可以用碳硫儀分析.
(7) 兩種方法都存在誤差。XRF對SI的重現性不好，其受溫度影響較大，精度不高，XRF對重元素的分析精度還可以。CS分析儀對CS分析的重現性很好，應可以信任。
(8) 首先你要搞清楚分析方法的適用范圍，確定分析結果的不確定度，這樣問題就突現的比較明顯了 
51.X光管為什么有的上照射有的下照射？應用上有什么區別？ 這是在調研儀器時，儀器公司給我的，與大家分享。 A下照射式光譜儀的優點和缺陷：
優點：可以分析純液態樣品；樣品下表面為分析面，液樣受熱后產生的氣泡對分析無影響。
缺陷：分析粉末壓片樣品時一旦樣品破碎，污染檢測室、損毀X光管！日常分析時碎屑落在X光管Be窗上難于處理，不利于儀器維護； B上照射式光譜儀的優點和缺陷：
缺陷：不能分析純液態樣品；分析液樣只能采用其他方法； 優點：有利于儀器維護保養，保護X光管不受損； 兩類儀器分析精度沒有區別。 
52.銅，鐵基質的產品如果測ROHS指令的話用什么方法? (1) 要用分析重金屬元素的方法
(2) 銅合金鉛，鎘，汞，六價鉻和溴代物的測定可以采取酸溶消化，成水樣后用ICP,AAS或者UV來測定，汞和溴的話消解要密封消解，然后選擇你適合的儀器，看你經濟實力定購買儀器，以上三種ICP作除了六價鉻外，所有元素，AAS作鉛，鎘，UV所有都可以作
(3) 金屬基質的產品如銅，鐵可以直接用XRF檢測，如果上有鍍層的話 可以把鍍層刮下來用分析純級的酸溶解后放在XRF上測兩者和值，這樣應該比較準確 
(4) 一般X-ray會建立好幾種曲線,常用的有五種:PE,PVC,焊錫,銅合金,鋁合金.這樣的話方便檢測. 
53.熒光儀一次水的流量計轉子用弱酸清洗后需要把一次水全部換掉嗎？

一次水是為冷卻二次水用的,流量計轉子臟是因為水冷機中的銅管氧化而使流量計發綠,清洗后不必全部更換一次水,它對熒光儀不能造成影響.為了更好的保護流量計轉子的清潔,可在水冷機與熒光儀間安裝一個過濾器. 
54.在edx分析中，電壓與電流選擇的原則是什么？基于何種原理？ 重元素選擇大的電壓小的電流，輕元素選擇小電壓大電流 
55.一般我們用的檢量線的測試法都是默認10MM為孔徑的，但事實上卻有很多小于10MM的樣品，但工程師又說用其他孔徑做標準曲線會導致背景吸收不準確，請問應該怎么解釋?
EDX- 720型中只有PVC-PE是使用10MM孔徑的，金屬是使用3MM孔徑的，所以你測試金屬時不需要測試10MM的直徑。而PVC-PE一般都可以滿足 10MM這個要求。如果真的不能滿足這個要求，也無所謂，你就先滿足厚度要求，把測試樣品放在孔徑的中間位置，EDX-720會自動檢測到樣品的面積大小 而進行自動調整測試面積。但是這里要注意，不能手動把PVC-PE的檢量線的孔徑調成其它大小，這樣誤差會很大。金屬的檢量線沒有這個功能。
如果他真的會有自動調節孔徑的大小，它何必提供1，3，5，10給我們人手選擇呢？ 其 實在你測試PVC時，如果你的測試樣品的面積不夠大，不會調整孔徑，只是會在計算時把空白的地方去掉，不把這部分的面積也計算進來，以免影響測試結果。有 4種孔徑是為了你做試驗時的方便，因為孔徑越大，測試準確度就越好。例如你的金屬樣品只有1MM大，那么你用1MM的孔徑測試比用3MM孔徑測試準確；如 果你對某個金屬樣品的測試結果有疑問，可以用5MM或者10MM孔徑來測試以獲取更精確的測試值。金屬的3MM孔徑只是可以滿足最基本的要求，而不是最好 的測試孔徑。 
56.我們有一臺EDX熒光分析儀，已經用了兩年的時間。想了解一下EDX測試出來的結果（PPM）與譜峰的高度由直接關系，還是與整個譜峰的面積由直接的關系?PPM與譜峰強度之間具體的換算公式是什么？
(1) 一般光譜多用峰高 色譜多用峰面積的 具體的關系式你可以看一下幫助文件或儀器的說明書 （應該是和計數器有關系） (2) 和面積有直接關系
強度一般都是面積與時間的比值
時間有死時間 活時間 實時間 我們是除活時間 面積計算基本為感興趣區計數的總和
一般要是一次曲線的話 y=k(x-b) y為強度 x為你說的PPM (3) 我對島津EDX-720的數據文件進行分析的結果是：
1、單位使用cps/uA，由cps除以檢測時間（Livetime）得到；
2、擬合方式首先對檢測區間內的數據點進行曲線擬合，并對此區間內的曲線進行積分，也就是算出檢測區域內的峰面積，如果選擇了內標校正，則還要除以內標物（可能是背景）的對應的數值，最終得到結果顯示中的凈強度（Net Int.）；
3、此強度與標準曲線中的強度進行對比，得到檢測樣品的ppm值。 
57.最近我們公司買了一臺島津的EDX-720的儀器。聽別人說因為有時候單看檢測結果（定量結果）是不準的，要看一下波峰才行。比方說Pb，如果這個波峰強度比較大的話，那么就要用ICP進一步測Pb含量了。現在的問題是這個波峰強度的大與小該怎么分呢？
(1) 看兩條以上的譜線，例如Pb，需要看PbLa和PbLb1這兩條。如果Pb元素真的含有，則兩條譜線都會有比較明顯的波峰出現，如果Pb元素真的含有而受到其它元素的干擾而造成了偏大，則兩條譜線都會出現波峰，但是兩條譜線所測試出來的結果會相差比較大。
(2) 即使如CdKa(Cd的單個分析物的特征 X-射線為Ka)有一定峰的話,但是其它的譜線沒峰,也不能認為它就一定含這種物質.一般來說，要有兩條譜線以上（包括兩條）出現波峰才能確定是含有此元素，一條譜線無法確定。
(3) 我們不是用的EDX-720的，我們用的是ED-10，X-TEC公司生產的，但如果都用的是檢量線法的話，判定方法應該也都差不多，判定Pb時是這樣的，要看La和LB的波峰是否同時存在。如果只有一個波峰存在，則不能判定其一定存在。
另外，要看Pb的干擾元素是否存在，ED-10的軟件可查看干擾元素的波形，如果干擾元素的波峰和Pb的波峰重疊。則要判定重疊峰大小，可用軟件加以區別和分離。 
58.我在壓制X熒光分析所用樣品時出現以下問題：
1、有些樣品不管壓制時怎么加壓，壓出來后還是容易碎裂；
2、還有些樣品壓制出來后過一段時間就會變色或者表面有一層白色結晶體，盡管放在干燥器里面了還是如此，這些樣品主要含鋅、鐵、鉛。
(1) 我個人感覺首先不是壓力越大壓制效果就越好；另外你壓片時是用鋼環、PVC環硼酸包邊還是什么別的方法，邊上物體的膨脹系數如果與樣品相差很大可能也會造 成這種現象；如果確實是樣品本身特別難壓，我想向樣品中少加點硬脂酸或石蠟等粘結劑可能會有一定的效果，當然使用這種方法要重做曲線。
(2) 有些樣品是比較難壓一些的，比如硅砂。在壓這些樣品時，粒度一定要夠細，如果難壓成的話，可以加淀粉或硬脂酸什么的混合壓餅，一壓一個好，不過要注意混合的量要精確控制。
(3) 粉末壓片一般不長期保持，有些樣品壓成片后，間隔幾個小時測定的結果都有變化的，因為在新鮮的壓片中，原子接觸比較緊密，打出來的強度和放置一段時間的不一致的。 
59.EDXRF應該選擇什么樣的壓片機?
本人感覺壓片機是通用設備，主要選擇操作簡單、皮實耐用的，壓力能滿足你的樣品，配置符合你儀器的模具，最好選電動的。 
60.我現在用EDXRF做RoHS，用的是帕納科的儀器，感覺測塑料的結果比測金屬的好。 金屬總是定量測不準，而且偏差較大，特別是cd和pb。請問這是標準曲線做的不好或者制樣有問題，還是儀器本身的限制。
(1) 測金屬的干擾項比較多吧,應該是偏差大的原因之一
(2) 基體是影響分析穩定性的一個原因。塑膠類基體是CHO，他們對相關分析元素干擾影響比較小。金屬就大了。同時標準樣品質量或有無也影響分析的準確度。