aes檢測器理論知識

　　原子發射光譜（ICP/AES）理論知識（8）——檢測器

　　在原子發射光譜中，被檢測的信號是元素的特征輻射，常用的檢測方法有目視法，攝譜法和光電法。

　　一、

　　目視法

　　目視法是用眼睛觀察試樣中元素的特征譜線或譜線組，以及比較譜線強度的大小來確定試樣的組成及含量。由于眼睛感色范圍有限，工作波段僅限于可見光區400～700nm范圍。常用的儀器稱看譜鏡，是一種小型簡易的光譜儀，主要用于合金鋼、有色金屬合金的定性和半定量分析。

　　二、

　　攝譜法

　　攝譜法是將感光板置于分光系統的焦面處，接受被分析試樣的光譜的作用而感光（攝譜），再經過顯影、定影等操作制得光譜底片，譜片上有許多距離不等、黑度不同的光譜線。然后．在映譜儀上觀察譜線的位置及大致強度，進行定性分析及半定量分析；在測微光度計上測量譜線的黑度，進行光譜定量分析。

　　感光板上譜線的黑度與曝光量有關，曝光量越大，譜線愈黑。曝光量用H表示，它等于照度E與曝光時間的乘積，而照度又與輻射強度I成正比，所以

　　 H=E·t =KI t

　　K為比例常數

　　譜線變黑的程度稱為黑度：

　　S＝lg(i0 / i)

　　i0 是感光板未曝光部分透過光的強度；i是是譜板曝光變黑部分透過光的強度。

　　黑度S與曝光度H之間的關系較復雜，通常用圖解法表示。如果逐漸改變曝光量將感光板進行曝光，則可得到黑度不同的譜線，在測微光度計上依次測量這些譜線的黑度，然后以黑度S作縱坐標，以曝光量的對數值lgH為橫坐標作圖．即得乳劑特性曲線。

　　光譜定量分析中，通常需要利用乳劑特性曲線正常曝光部分BC，因為此時黑度S和曝光量的對數lgH呈直線關系，令BC段的斜率為γ，由上圖可見

　　 S = γ(lgH－lgHi) = tgα（lgH－lgHi）

　　對于一定的乳劑，γlgHi為一定值并以i表示，則

　　 S = γlgH-i

　　式中lgHi為直線部分BC延長后在橫軸上的截距，Hi稱為感光板的惰延量；斜率γ稱為感光板的反襯度，它表示當曝光量改變時，黑度值改變的快慢。反襯度高的感光板，當曝光量改變時，黑度變化較快。光譜定量分析時，宜選用反襯度高的感光板，因為濃度變化時，這種相板的黑度變化較明顯，例如紫外I型感光板。定性分析時則選用靈敏度較高的紫外Ⅱ型感光板。

　　三、

　　光電法

　　光電法利用光電倍增管作光電轉換元件，把代表譜線強度的光信號轉換成電信號，然后由電表顯示出來，或進一步把電信號轉換為數字顯示出來。