X射線熒光光譜分析
本文評述了我國在2005年至2006年X射線熒光光譜,包括粒子激發的X射線光譜的發展和應用,內容包括儀器研制、激發源、探測器、軟件、儀器改造、儀器維護和維修、樣品制備技術、分析方法研究和應用。 更多還原......閱讀全文
X射線熒光光譜分析的樣品說明
X射線熒光光譜分析基本上是一種相對分析方法，需要有相應的標準樣品作為測量基準。因此，制樣方法的好壞是X射線熒光光譜分析儀應用的關鍵，標準樣品與待測試樣應經過同樣的制樣處理，制成物理性質和化學組成相似的、表面平整均勻、有足夠代表性的形式。使用X射線熒光光譜分析的樣品一般有固體樣品、粉末樣品和液體樣
X射線熒光光譜分析的樣品制備
進行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。 對金屬樣品要注意成分偏析產生的誤差；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數率也不同；成分不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后制成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要研
X射線熒光光譜定性定量分析方法
樣品制備 進行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產生的誤差；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數率也不同；成份不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要
X射線熒光光譜儀分析誤差的來源
X射線熒光儀器分析誤差的來源主要有以下幾個方面：1．?采樣誤差：非均質材料樣品的代表性2．?樣品的制備：制樣技術的穩定性產生均勻樣品的技術3．?不適當的標樣：待測樣品是否在標樣的組成范圍內標樣元素測定值的準確度標樣與樣品的穩定性4．?儀器誤差：計數的統計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現性5．?不適當的
X射線熒光光譜儀中X射線的由來和性質分析
X射線熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所
X射線熒光光譜的概念
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
什么是X射線熒光光譜
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X射線熒光光譜儀熒光光譜的相關介紹
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的 半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍
偏振X射線熒光光譜儀的貴金屬分析
?近期全新推出SPECTROCUBE型X射線貴金屬測試儀器，采用高分辨、高計數檢測器技術，縮短了樣品的測量間隔，儀器軟件直觀、簡捷，測試流程輕松流暢，大大減少了宕機時間。???貴金屬分析?? SPECTROCUBE型X射線貴金屬測試儀器作為新儀器的推出，為測試中心、純度標識和分析實驗室，以及珠寶制造
偏振X射線熒光光譜儀的應用和分析
? 它分析專業、檢出下限低，靈敏度高、穩定性好，還能應對歐洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準。?? SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射線熒光光譜儀應用廣泛，應用于石油、化工、冶金、礦業、制藥、食品、環保、地質、建材、廢物處理以及再加工工業等。以油中各種元素的分析為例，
分析多道x射線熒光光譜儀的產品優點
多道x射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型(WD)和能量色散型(ED)。波長色散型是由色散元件將不同能量的特征X射線衍射到不同的角度上，探測器需移動到相應的位置上來探測某一能量的射線。而能量色散型，去掉了色散系統，是由探測器本身的能量分辨本領來分辨探測到的X射線的。波長色散型能量分辨本領高，而
X射線熒光光譜儀的構成與分析原理
X射線熒光光譜儀?(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生發射X射線(一次X射線)，激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測
X射線熒光光譜分析技術的重要應用
X射線熒光光譜分析技術屬于一種能夠實現快速分析的無損檢測技術，新型、成本更低的X射線光譜儀更容易在被檢測材料或者組件的整個生命周期內進行多元測量和驗證。利用摩擦效應產生X射線的低成本、移動型X射線熒光光譜儀將會和原位檢測或者實驗室檢測實現互補。 對于質量管理部門、冶金實驗室、機械工廠、金屬加工
進行X射線熒光光譜分析的樣品制備
進行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產生的誤差；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數率也不同；成分不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要研磨至
能量彌散X射線熒光光譜分析技術介紹
能量彌散X射線熒光（EDXRF）光譜分析技術主要基于兩點：一是其簡便性，二是它非常適用于現場手持測試。 每個EDXRF光譜分析系統通常包含三個主要部分： 激發源、一臺光譜儀或檢測器以及一個數據收集或處理器。與波長色散X射線熒光光譜分析系統相比，EDXRF光譜分析系統具有以下特點：操作簡單、分析進
X射線熒光光譜分析法的簡介
X射線熒光光譜分析法，利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。 [1] 在成分分析方面，X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。
X射線熒光光譜分析法的特點
(1）分析速度快。 (2）X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態及物理狀態無關。 (3）非破壞分析。 (4）X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對化學性質上屬于同一族的元素也能進行分析。 (5）分析精密度高。 (6) X射線光譜比發射光譜簡單,故易于解析。 (7）制樣簡單。 (8）X射線
X射線熒光光譜儀樣品室的故障分析
光譜室和樣品室的真空抽不到規定值，樣品室最常見的漏氣部位是樣品自轉裝置上的密封圈，樣品測量時通常以0.5轉/秒的速度自轉，儀器幾年運行下來，樣品自轉處的密封圈磨損，密封效果變差。
X射線熒光光譜分析技術的發展
歸納了X-射線熒光光譜分析技術發展的進程。從現代控制技術的改善、儀器檢測性能的提高、元素檢測范圍的擴大等8方面闡述了波長色散X-射線熒光光譜技術的進展,還就能量色散X-射線熒光光譜儀的X射線管和探測器技術的快速發展及近10年來我國在X-射線熒光光譜分析方法方面的論文發表情況進行了總結,對近年來X-射
X射線熒光光譜分析儀應用實踐
介紹了X熒光分析儀在煉鐵廠的應用情況,以大量的試驗為基礎,闡述了X熒光光譜分析儀粉末壓片法的規范操作及燒結礦和混勻礦在X熒光光譜分析儀上的檢測應用,保證儀器的穩定性和分析數據的準確性的前提下,為生產提供準確、可靠的數據。?更多還原
X射線熒光光譜儀的構成與分析原理
? X射線熒光光譜儀?(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生發射X射線(一次X射線)，激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將
X射線熒光光譜分析技術的發展
歸納了X-射線熒光光譜分析技術發展的進程。從現代控制技術的改善、儀器檢測性能的提高、元素檢測范圍的擴大等8方面闡述了波長色散X-射線熒光光譜技術的進展,還就能量色散X-射線熒光光譜儀的X射線管和探測器技術的快速發展及近10年來我國在X-射線熒光光譜分析方法方面的論文發表情況進行了總結,對近年來X-射
X射線熒光光譜儀無標樣分析方法
對于以固體進樣為主的X射線熒光分析技術，要獲得一套高質量的固體標準樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應用范圍。 而X射線熒光光譜無標樣分析技術是20世紀90年代推出的新技術，其目的是不用標準樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測量標準樣品，儲存強度和工作曲線，然后將這些數據
X射線熒光光譜分析基本原理
X射線是一種電磁輻射，其波長介于紫外線和γ射線之間。它的波長沒有一個嚴格的界限，一般來說是指波長為0.001-50nm的電磁輻射。對分析化學家來說，最感興趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超鈾元素的K系譜線，24nm則是最輕元素Li的K系譜線。1923年赫維西(Hevesy,?G.?V
硫化礦樣品的X射線熒光光譜分析
射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家
XRF（X射線熒光光譜分析）各品牌介紹
1.美國Xenemetrix（能量色散） 美國Xenemetrix在過去30年內一直是能量色散X射線熒光光譜分析方面的領先創新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年經驗和專業知識的頂峰設計，該儀器占地面積少、性能優越。強大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射線熒光
X射線熒光光譜儀光譜室和樣品室的故障分析
X射線熒光光譜分析通常在真空光路條件下工作，但光譜室和樣品室有很多部位與外部相連，可能漏氣的部位很多。檢查真空故障時，將可能出問題的地方人為分隔為三部分：真空泵、樣品室、光譜室，對這三部分逐一檢查以縮小范圍。 1、真空泵 將真空泵與光譜室和樣品室的接口拆下并用橡皮塞堵住，然后抽真空，如果能在