掃描電鏡／X射線能譜儀／X射線波譜儀組合檢測射擊殘留物
在司法物證檢驗中,通常采用掃描電鏡/X射線能譜儀自動檢測槍擊案件中的射擊殘留物。但在檢出的可疑顆粒物中,經常遇到硫(S)、銻(Sb)元素含量偏低的情況,用X射線能譜儀很難認定該顆粒物就是射擊殘留物。本文采用了掃描電鏡/X射線能譜儀/X射線波譜儀組合方法,能檢測出射擊殘留物中的S和Sb元素,彌補了X射線能譜儀的不足。這種組合形式,能夠在微量物證檢驗工作中發揮很好的作用。 ......閱讀全文
掃描電鏡/X射線能譜儀/X射線波譜儀組合檢測射擊殘留物
在司法物證檢驗中,通常采用掃描電鏡/X射線能譜儀自動檢測槍擊案件中的射擊殘留物。但在檢出的可疑顆粒物中,經常遇到硫(S)、銻(Sb)元素含量偏低的情況,用X射線能譜儀很難認定該顆粒物就是射擊殘留物。本文采用了掃描電鏡/X射線能譜儀/X射線波譜儀組合方法,能檢測出射擊殘留物中的S和Sb元素,彌補了X射
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點 分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 ?目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。Si(Li)能譜儀的優點 ?分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
【科普】X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
一,能譜儀 能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀,其關鍵部件是Si(Li)檢測器,即鋰漂移硅固態檢測器,它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點： (1)分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
應用掃描電鏡和X射線能譜儀研究鈦酸鋇
該文使用發射掃描電子顯微鏡和X射線能譜儀對鈦酸鋇進行表征。針對鈦酸鋇的材料特性和工作目標,采用了多種測試工作條件,通過其結果對比,找到了對鈦酸鋇進行形貌觀察的最佳條件,并分析了其成分。
X射線能譜儀的原理介紹
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
軟X射線能譜儀數據采集系統
在 線 存 儲 軟X射線能譜儀的結構框圖見圖1。不同能量的軟X射線被Johann彎晶衍射分光,分光后的能量分布轉化成在探測器上對應的位置分布。位置靈敏、時間分辨好的MWPC和MCP都可做為這種探測器。軟X射線區適用的MWPC采用逐絲陽極讀出法以允許高計數率,同時也是為了滿足將可測能區延伸到更低能區時
應用X射線能譜儀檢驗原子印油
?原子印章是一種新型的印章。原子印章攜帶和使用極為方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊結構,其印油的成份不同于普通的印臺油及印泥。早期的原子印油多為國外進口,目前國內亦有一些廠家生產。我們應用掃描電子顯微鏡和 X 射線能譜儀對原子印油進行檢驗,獲得一些有用的信息。
掃描電鏡及X射線能譜儀在首飾鍍層檢測中的應用
采用掃描電鏡及X射線能譜儀對首飾鍍層進行了檢測,并對兩種方法進行了比較。結果表明,鍍銠首飾采用無損檢測法較合適,而鍍金首飾采用破壞性檢測法較合適。?
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
多層鏡軟X射線能譜儀的研制
軟X射線能譜測量是ICF實驗中的重要內容,測量意義重大。軟X射線能診斷通過光譜分析,可以得到X射線總的通量,輻射溫度,轉換效率以及反照率。這些都是間接驅動黑腔熱力學的重要參數。作為黑體腔特征診斷系統,軟X射線能診斷系統測量黑體腔中發射出的X射線,可得出黑腔中輻射溫度的時間變化圖。針對目前常用的譜儀往
美國KEVEX公司8000型x射線能譜儀
?8000型X射線能譜儀主要做能量分散X射線分析,可用于冶金、電子、地球化學勘探、化工、石油、生物醫學等許多領域。儀器由X射線探測器,分析儀,小型計算機、大容量存貯器,顯示器,鍵盤和軟件構成。?
X射線光電子能譜儀原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理
X射線能譜儀的使用原理及應用
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。? X射線能譜儀的簡介? X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法是在
X射線能譜儀的工作原理和應用
1 X射線能譜儀的工作原理 當電子槍發射的高能電子束進入樣品后，與樣品原子相互作用，原子內殼層電子被電離后，由較外層電子向內殼層躍遷產生具有特定能量的電磁輻射光子，即特征X射線。X射線能譜儀就是通過探測樣品產生的特征X射線能量來確定其相對應的元素，并對其進行相應的定性、定量分析。 2 掃描電
1650萬，－南京大學采購色質聯用、X射線能譜儀、X射線衍射儀等
近日，南京大學就“南京大學蘇州校區科研儀器共享中心高效液相色譜質譜聯用儀采購項目”、“南京大學蘇州校區科研儀器共享中心多功能X射線光電子能譜儀采購項目”、“南京大學蘇州校區科研儀器共享中心X射線衍射儀(基礎版)采購項目”、“南京大學蘇州校區科研儀器共享中心X射線單晶衍射儀采購項目”發布公開招標公
1650萬，－南京大學采購色質聯用、X射線能譜儀、X射線衍射儀等
高等學校具有學科和人才方面的優勢，因而積聚著科學技術的巨大潛力，是發展科學技術的重要基地。它不僅提供了大量的科研成果，還直接影響著科研與開發的質量，對國家的政治、經濟、文化和教育各個方面起著保證和平衡的作用，在科學研究事業中占有極為重要的地位。 近日，南京大學就“南京大學蘇州校區科研儀器共享中
掃描電鏡結合X射線能譜儀在皮革鑒定中的應用
利用掃描電鏡和X射線能譜儀對牛皮革、羊皮革、豬皮革肉面纖維束和人造革底基纖維進行了形態結構觀察和元素分析。結果表明:皮革肉面纖維束與人造革底基纖維在形態結構與元素組成等方面存在著顯著性差異,可以用于皮革的鑒定中。?
X射線波譜儀的基本信息介紹
X射線波譜儀的特點是分辨率高，通常為5—10eV，且可在室溫下工作，因此分析的精度高而檢測極限低。此外，根據布拉格定理2dsinθ=λ，采用晶面間距d大的分光晶體，可以分析標識X射線波長為λ的硼、碳、氮、氧等輕元素。但是X射線波譜儀也有其局限性，它的分光晶體接受X射線的立體角小，X射線的利用率低
高能脈沖X射線能譜測量
給出了高能脈沖X射線能譜測量的基本原理及實驗結果.采用Monte-Carlo程序計算了高能光子在能譜儀中每個靈敏單元內的能量沉積,利用能譜儀測量了"強光Ⅰ號"加速器產生的高能脈沖X射線不同衰減程度下的強度,求解得到了具有時間分辨的高能脈沖X射線能譜,時間跨度57ns,時間步長5ns,光子的最高能量3
DPF脈沖X射線能譜測量
采用濾光法對ＤＰＦ脈沖Ｘ射線源裝置的Ｘ射線能譜進行了測量，取得了較好的結果，為輻射效應環境測量提供了一種手段。?
X射線能譜數據處理
本文提出運用FFT,對雙路實測能譜信息在變換域中加以濾波修正,同時完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并與諸元素特征峰及背底的譜分析相比較,獲取濾波修正頻窗。文中編制了雙路能譜同時作濾波修正程序。試驗表明:此法實現了數據壓縮及零相位校正,增快了濾波速度,減小了相位滯移量,提高了分
X射線能譜定性分析
X射線能譜定性分析快速有效，是電子探針和掃描電鏡分析必須的組成部分。用X射線能譜儀測量試樣特征X射線全譜中各譜峰的能量值，計算機釋譜得出試樣的元素組成。X射線能譜定性分析要注意背景的判別、峰的位移、峰的重疊、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干擾峰等問題，以免導致錯誤的分析結果。(1)背景的判別在使用X射線