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概述 數字式四探針測試儀由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。 特點 儀器采用了最新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。......閱讀全文
概述 數字式四探針測試儀由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。 特點 儀器采用了最新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩
1．HAD-SZT-2C主機采用世界的先進電路設計，所測數值更精、更快、更準（一代為傳統式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。2．屏幕采用彩色液晶顯示（一代為只有數碼管顯示）。3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據輸入指定厚度，自動比照并
四探針電阻率測試儀是一種測量半導體材料的電阻率的儀器。 對于半導體材料的電阻率，一般采用四探針、三探針和擴展電阻。 電阻率是反映半導體材料導電性能的重要參數之一。測量電阻率的方法很多，四探針法是一種廣泛采用的標準方法。它的優點是設備簡單、操作方便，精確度高，對樣品的形狀無嚴格要求。 最常用
大屏幕液晶顯示■ 采用SMT表面貼裝工藝■ 可手動或自動選擇合適的電流源量程■ 電流源方向有正方向、反方向和正反方向三種選擇■ 預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率■ 報警門限預設，可用于HI PASS LOW 分選■ 200個讀
本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，zui小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業中能測量到的zui小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置
多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量 儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、 GB/T&nbs
四探針測試儀適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。 四探針軟件測試系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數據并對測試數據進行統計分析。 測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，
測量范圍 電阻率：10-4～105 Ω.cm(可擴展)； 方塊電阻：四探針測試儀 電導率：10-5～104 s/cm； 電阻：10-4～105 Ω； 可測晶片直徑 140mmX150mm(配S-2A型測試臺)； 200mmX200mm(配S-2B型測試臺)； 400mmX500mm(
高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，
高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備1