粒子成像測速（PIV）
全名：Particle Image Velocimetry,又稱粒子圖像測速法，是七十年代末發展起來的一種瞬態、多點、無接觸式的流體力學測速方法。近幾十年來得到了不斷完善與發展，PIV技術的特點是超出了單點測速技術（如LDV）的局限性，能在同一瞬態記錄下大量空間點上的速度分布信息，并可提供豐富的流場空間結構以及流動特性。PIV技術除向流場散布示蹤粒子外，所有測量裝置并不介入流場。另外PIV技術具有較高的測量精度。由于PIV技術的上述優點，已成為當今流體力學測量研究中的熱門課題，因而日益得到重視。目前PIV測速方法有多種分類，無論何種形式的PIV，其速度測量都依賴于散布在流場中的示蹤粒子，PIV法測速都是通過測量示蹤粒子在已知很短時間間隔內的位移來間接地測量流場的瞬態速度分布。若示蹤粒子有足夠高的流動跟隨性，示蹤粒子的運動就能夠真實地反映流場的運動狀態。因此示蹤粒子在PIV測速法中非常重要。在PIV測速技術中，高質量的示蹤粒子要求為：（1）比重要盡可能與實驗流體相一致；（2）足夠小的尺度；（3）形狀要盡可能圓且大小分布盡可能均勻；（4）有足夠高的光散射效率。通常在水動力學測量中大都采用固體示蹤粒子，如聚苯乙烯及尼龍顆粒、鋁粉、熒光粒子等，國外已有公司專門為PIV測量研制出了在流體中接近上述要求的高質量固體粒子，但目前這種粒子價錢非常昂貴。