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  • 發布時間:2022-09-25 15:42 原文鏈接: x射線熒光光譜測厚儀的技術指標介紹

      1、同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。

      2、分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)

      3、任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。

      4、多變量非線性回收程序 適應范圍為15℃至30℃。

      5、電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

      6、外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

      7、重量:90kg

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