XRF測試即X射線熒光光譜法（XRF）原理是使用X射線照射樣品產生的特征熒光，進行定性和定量分析。那么，XRF測試的元素有哪些呢？下面中科百測XRF測試機構為您總結出下面這些。
利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素 （F）到92號元素（U）。
X射線熒光光譜分析法的特點
(一）優點
(1）分析速度快。
(2）X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態及物理狀態無關。
(3）非破壞分析。
(4）X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對化學性質上屬于同一族的元素也能進行分析。
(5）分析精密度高。
(6) X射線光譜比發射光譜簡單,故易于解析。
(7）制樣簡單。
(8）X射線熒光分析系表面分析，測定部位是0.1mm深以上的表面層。
(二）缺點
(1）難于作分析,故定量分析需要標樣。
(2）原子序數低的元素，其檢出限及測定誤差都比原子序數高的元素差。
X射線熒光光譜法XRF樣品要求：
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干；
2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；
3.檢測單元表面盡量平整，且尺寸為4-4.5cm。