地學實驗室及儀器掃盲（1）離子探針實驗室

實驗設備 

名稱：二次離子探針質譜儀（SIMS）

儀器描述：法國Cameca公司生產的IMS 1280是國際最新型的二次離子質譜儀。儀器同時裝備有氣體雙等離子體源和銫離子源兩個離子源，而且不同離子源的切換非常方便；具有先進的離子透鏡系統，具有較高的離子傳輸效率；在應用過程中，離子束直徑可以降至數微米；采用大半徑磁場與靜電場分析器實現二次離子的雙聚焦，實現高達40000的分辨率。

儀器主要配件：檢測器有5個法拉第杯，5個電子倍增器，1個CCD。主要配件有恒溫恒濕機，鍍金儀，拋光機，超聲清洗機，冷卻循環水機。

儀器主要功能：IMS 1280型二次離子探針質譜儀具有高精度、高靈敏度、高分辨率和高效率的微區微量分析能力，。它具備優異的微區微量放射性同位素分析功能，廣泛應用于含U礦物如鋯石等的微區微量同位素年代學測定，已經成為地質年代學的最重要技術選擇。它實現了低質量數同位素的微區分析，如O、C、N、S、H、B、Cl、Ti、Mg等，在地球科學、天體化學、生命科學中，有非常廣泛的應用。它在獲取同位素或微量元素的面分布圖像，以及在分析樣品垂向上的同位素和微量元素深度分布等方面，更是國際同行的最佳選擇，特別適合材料科學研究。
儀器詳細信息：分析前需將樣品鑲嵌在樹脂材料的標準靶上，并對其進行清洗、拋光、打磨、鍍金或鍍碳、拍攝透反射光照片或者陰極發光照片等前期準備工作。

實驗室簡介 


所屬系統：地球物質成分與物質性質分析系統