地學實驗室及儀器掃盲（1）離子探針實驗室

二次離子質譜儀簡介

　　二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。[1]　　在傳統的SIMS實驗中，高能一次

二次離子質譜儀（SIMS）

二次離子質譜儀（SIMS）分析方法介紹美信檢測 失效分析實驗室 1.簡介?二次離子質譜儀（secondary ion mass spectroscopy，簡稱SIMS），是利用質譜法分析初級 離子入射靶面后，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質譜儀分 析對象包括金屬及合金、半導

二次離子質譜儀原理簡介

二次離子質譜儀原理簡介二次離子質譜儀（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又稱離子探針（Ion Microprobe），是一種利用高能離子束轟擊樣品產生二次離子幵迚行質譜測定的儀器，可 以對固體或薄膜樣品迚行高精度的微區原位元素和同位素分析。由于地學樣品的復雜

二次離子質譜儀組成介紹

　　SIMS主要包括一次離子源、進樣室、質量分析器、真空系統、數據處理系統等部分，對于絕緣樣品還配有電荷補償的電子中和槍，同時根據分析目的不同，還配有不同的離子源，常見的有氣體放電源（如O、Ar、Xe）、表面電離源（如Cs）、熱隙源（如C60）和液態金屬及團簇源（如Bin、Aun、Ga）等。　　這是

同位素質譜儀和離子探針

　　同位素質譜儀　　同位素質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確，樣品用量少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。廣泛用于核科學，地質年代測定，同位素稀釋質譜分析，同位素示蹤分析。　　離子探針　　離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m

北京離子探針中心離子探針質譜儀器研發進入攻堅階段

　　2010年1月16-17日，由北京離子探針中心主辦的“2009北京SHRIMP成果報告會”在京隆重舉行。中國科學院多位院士、政府相關部門負責人以及來自全國各地的地學界同仁等約100人出席了開幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流會”已經成為中國地學界同仁們進行學術交

扇形磁場二次離子質譜儀簡介

　　　　扇形磁場二次離子質譜儀器通常使用靜電和扇形磁場分析器來進行濺射二次離子的速度和質量分析。扇形磁場使離子束偏轉，較輕的離子會比較重的離子偏轉更多，而較重的離子則具有更大動量。因此，不同質量的離子會分離成不同的光束。靜電場也應用于二次光束中，以消除色差。由于這些儀器具有更高的工作電流和持續光束，

二次離子質譜儀的發展歷史

　　自從Dunnoyer 第一次發現離子在真空中沿直線運動已經有100年的歷史，自此以后，分子束的應用在二十世紀持續到二十一世紀，它為重大技術進步和基礎研究奠定了基礎，分子束用于濺射源是其中應用之一。　　盡管在是十九世紀中葉濺射的現象已經觀察到，直到十九世紀四十年代，隨著真空技術的進步，Herzog

質譜儀離子探針質譜儀產品介紹、特點和應用領域

離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限

二次離子質譜儀的質譜原理

　　Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基于質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基于一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如圖1所示）。帶有幾千電子伏特能量的一次離子轟擊樣品表面，在轟擊的區域引發一系列物理及化學過程，包括一次離子散射及表面原子、原子

DPiMS2020原位探針離子化質譜儀

島津液質聯用儀, DPiMS-2020 是一種基于探針電噴霧電離的單極質譜儀。它使用探針從樣品板上放置的樣品中取出微量的液體, 并將其注入 MS 單元進行質量分析。 它是非常容易操作和它能測量樣品例如化工產品、食物材料和生物樣品, 直接地或以非常極小的樣品預處理。

關于二次離子質譜儀操作模式的介紹

　　SIMS大致可以分為“動態二次離子質譜”（D-SIMS）"和“靜態二次離子質譜“（S-SIMS）兩大類。雖然工作原理上它們并無本質差別，但是兩種模式的應用特點卻有所不同。一次離子束流密度大小是劃分兩種模式的主要標準。一般在S-SIMS模式下，一次離子束流被控制在1013離子/cm2，常用飛行時間

二次離子質譜儀對分析物的要求

　　在二次離子的常規檢測中，可以用于分析的樣品可以固體，也可以是粉末、纖維、塊狀、片狀、甚至液體（微流控裝置）。如果從導電性考慮，這些樣品可以是導電性好的材料，也可以是絕緣體或者半導體。從化學組成上來分，可以是有機樣品，如高分子材料、生物分子，也可以是無機樣品，如鋼鐵、玻璃、礦石等。

簡述二次離子質譜儀的應用領域

　　當前二次離子質譜領域發展迅速，在半導體制造中元素摻雜，薄膜的組分測量和其他無機材料，宇宙中同位素比例，地球中微量元素等領域具有非常重要應用。　　通過二次離子質譜的深度剖析來分析材料薄膜結構是一種獨特的分析手段，尤其是對于分析不同薄層中的材料，以及相鄰兩層之間材料的相互影響 分析亞微米尺度下的特征

飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）

飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次

高級玩具：二次離子質譜儀器核心技術研發

二次離子質譜儀器核心技術項目通過驗收

　　2011年6月21日，由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭，聯合了中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”(編號：2006BAK03A21)在京

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術?本文簡要敘述法國CAMECA公司,德國IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次離子質譜的特色,著重介紹這些儀器改進過的和新增加的 儀器部件的原理、性能及功用。關鍵詞?二次離子質譜?飛行時間二次

關于飛行時間二次離子質譜儀的介紹

　　飛行時間二次離子質譜儀(ToF-SIMS)。在此類質譜儀中，二次離子被提取到無場漂移管，二次離子沿既定飛行路徑到達離子檢測器。由于給定離子的速度與其質量成反比，因此它的飛行時間會相應不同，較重的離子到達檢測器的時間會比較輕的離子更晚。此類質譜儀可同時檢測所有給定極性的二次離子，并具有極佳質量分辨

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術 本文簡要敘述法國CAMECA公司,德國IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次離子質譜的特色,著重介紹這些儀器改進過的和新增加的 儀器部件的原理、性能及功用。關鍵詞 二

一單位880萬采購飛行時間二次離子質譜儀

　　某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目公開招標公告　　項目概況 某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目 招標項目的潛在投標人應在http://www.oitccas.com/獲取招標文件，并于2023年10月30日13點30分（北京時間）前遞交投標文件。　　一、項目基本情況　　項目編號：OITC-G

關于四級桿二次離子質譜儀器的介紹

　　　　由于這些儀器的質量分辨率相對有限（單位質量分辨率不能解決每超過一個峰值的質量），因此這些儀器越來越稀有。四級桿利用一個共振電場，其中只有特定質量的離子才能穩定通過震蕩場。與扇形磁場儀器相類似的是，這些儀器需要在高一次離子電流下操作，且通常被認為是“動態二次離子質譜”儀器（比如用于濺射深度剖析

TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的工作原理

1. 利用聚焦的一次離子束在樣品上進行穩定的轟擊，一次離子可能受到樣品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固體樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。一次離子將其部分能量傳遞給晶格原子，這些原子中有一部分向表面運動，并把能量傳遞給表面離子使之發射，這種過程成為粒子

1500萬！遼寧材料實驗室計劃采購二次離子質譜儀

東方國際招標有限責任公司招標公告（招標編號：0729-244OIT270108)　　東方國際招標有限責任公司受招標人委托對下列產品及服務進行國際公開競爭性招標，于2024-04-19在中國國際招標網公告。 本次招標采用傳統招標人式，現邀請合格投標人參加投標。　　1、招標條件　　項目概況：二次離子質譜

二次離子質譜儀器核心技術項目在京順利通過驗收

?? 由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭，聯合了中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”（編號：2006BAK03A21）在京順利通過驗收。課題驗收會由“十

花落誰家？復旦大學二次離子質譜儀設備中標結果公告

2024年1月9日，中國政府采購網發布了復旦大學二次離子質譜儀設備國際中標公告，最終 Quantum Design Hong Kong Limited 以416.7萬的成交額提供該設備。　　一、項目編號：1069-234Z20234470（HW2023111401）（招標文件編號：1069-234Z

離子探針方法

離子探針方法是將質譜測定技術與離子發射顯微鏡技術相結合的現代儀器分析方法。能提供一般質譜分析所不能提供的試樣微區質譜。由于它能對固體物質作微區、微量及深度成分分析，在某些條件下檢測靈敏度可達ppb數量級，因此被廣泛地應用于半導體、冶金、地質和生物研究等部門。其原理是利用聚焦的高能一次離子束轟擊試樣表

離子探針原理

離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負氧離子轟擊樣品表面，測定被飛濺活化出來并發生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發展的新型質譜計，它具有許多其他測年方法所沒有的優點：不需要化學處理；具有高的分辨率，可同時獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉，有無鉛丟失；可對樣

“二次離子質譜儀器核心技術研發”項目子課題通過驗收

　　2月21至22日，由國家質檢總局科技司委托組成的測試專家組，對中科院大連化學物理研究所承擔的“十一五”國家科技支撐計劃項目課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”中的子課題“角反射飛行時間質量分析器”進行了現場考核與測試。驗收專家組組長由北

“高分辨率二次離子質譜儀研制”項目啟動會召開

原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/2/494313.shtm近日，由中科院海洋研究所牽頭承擔的國家重點研發計劃“基礎科研條件與重大科學儀器設備研發”重點專項“高分辨率二次離子質譜儀研制”項目啟動暨實施方案論證會在青島召開。 會議現場?