1916年，美籍荷蘭物理學家、化學家德拜（Peter Joseph Wilhelm Debye，1884-1966）和瑞士物理學家謝樂（Paul Scherrer，1890-1969）發展了用X射線研究晶體結構的方法，采用粉末狀的晶體代替較難制備的大塊晶體。粉末狀晶體樣品經X射線照射后在照相底片上可得到同心圓環的衍射圖樣（德拜-謝樂環）,可用于鑒定樣品的成分，測定晶體結構。因當時正值第一次世界大戰，信息交流受阻，1917年，美國科學家Hull也獨立提出了這一方法。德拜因利用偶極矩、X射線和電子衍射法測定分子結構的成就而獲1936年諾貝爾化學獎。