多維突破光啟新章復享光學2026年新品發布會開啟測量新紀元

　　2026年3月18日，以 “光啟新元·勢引未來” 為主題的第二十一屆慕尼黑上海光博會（LASER World of PHOTONICS China）在上海新國際博覽中心盛大啟幕。作為亞洲光電行業的年度風向標，本屆展會在規模、陣容與產業影響力上均再上新臺階，不僅匯聚了全球頂尖智慧，更以前沿科技為鑰，開啟產業發展的新紀元。

復享光學展臺

　　上海復享光學股份有限公司（以下簡稱“復享光學”）在本屆展會上舉辦以“Beyond Measurement, Into Insight”為主題的2026年新品發布會，正式推出成像光譜儀、薄膜量測儀器、光譜分析儀器等多款核心系列新品，全面展示復享光學從單一光譜測量向全維測量的戰略跨越。本次發布會吸引了眾多業內人士、專家學者及專業媒體到場，共同見證復享光學在薄膜測量領域的最新突破。

　　聚焦多維測量新紀元

　　新品發布會上，復享光學創始人、半導體集成測控事業部總經理殷海瑋博士上臺致辭。

復享光學創始人、半導體集成測控事業部總經理 殷海瑋博士

　　殷海瑋表示，在中國從制造大國向制造強國轉變、以及AI深刻改變世界的時代背景下，復享光學選擇深入科技前沿與先進產業，在改變世界的技術發生的第一線、在改變世界的產品創造的現場，去服務工程師、服務科學家。今天發布的新品，正是復享光學在半導體先進制程、先進封裝及先進材料領域深耕的又一重要成果。

復享光學儀器事業部總經理 崔靖

　　復享光學儀器事業部總經理崔靖帶來主題是“一光萬象：全維測量新紀元”的演講報告。

　　她回顧了復享光學以微型光譜儀、角分辨光譜、顯微光譜解決方案三條核心產品線進入中國市場的歷程，并指出客戶需要的從來不只是儀器本身，而是對材料特性的精準分析、對工藝質量的可靠監控、對科學問題的精確洞察。

　　崔靖介紹，當前客戶群覆蓋半導體、先進材料、生物科學、新能源、量子科技等領域，測量需求正從單一維度向多維、原位、高通量、動態追蹤方向快速演化。為此，復享光學對產品進行了技術、場景、價值三個維度的全面升級。

　　她表示，本次發布的新品涵蓋微型光譜儀、成像光譜儀、顯微光譜系統、角分辨光譜及膜厚儀等多個領域，構成全維測量的產品矩陣。所有產品共享同一套高精度光學基因，基于驗證的測量準確性和長期穩定性承諾。

復享光學營銷中心總監 董磊

　　復享光學營銷中心總監董磊帶來主題是“新市場·新視點”的分享。

　　他表示，通過今天的新品發布會，復享光學正在對品牌進行重構：從過去業界認知的光纖光譜測試專家，向覆蓋不同焦距、更高分辨率、更高光通量的全品類光譜儀品牌邁進。從光纖光譜儀到不同焦距的光譜儀，復享光學已成為國內光譜儀品類覆蓋率最全、實力最強的廠家之一。復享光學正在完成從光譜儀制造商到光譜分析儀器制造商的蛻變。

　　在市場落地層面，董磊介紹，復享光學將建立市場推廣和專業化的銷售隊伍，并在華東、華北等地區推行本地化銷售與服務，為用戶提供更多本地化的支持與服務。他強調，復享光學不僅是一個品牌，更是一個平臺，希望在這個平臺上實現資源共贏化、應用深度多元化，同時保持產品的標準化與模組化。

復享光學儀器事業部產品經理 楊子筠

　　復享光學儀器事業部產品經理楊子筠帶來了主題是“光譜萬象·極致探測 微信光譜儀產品線介紹”的演講報告。

　　楊子筠闡述了光譜作為物質“指紋”的基本原理，以及光譜分析非接觸、速度快、可同時分析多成分、測量范圍廣、靈敏度高等優勢。復享光學微型光譜儀擁有六大核心系列產品，包括Nova系列制冷型高靈敏光譜儀、NIR系列近紅外光譜儀、PG系列高分辨率光譜儀等。

　　楊子筠重點介紹了本次發布的新品Nova EVO制冷型高靈敏度光譜儀。該產品相較上一代進行了光學平臺與電學平臺全面升級，動態范圍達85000:1，雜散光小于1‰，線性度優于99.9%，同時保持高性價比。

復享光學儀器事業部產品經理 胡松婷

　　復享光學儀器事業部產品經理胡松婷帶來成像光譜產品線的全新系列——HELENA零像散系列與TEMBO高分辨系列兩大新品。她指出，針對傳統光譜儀普遍存在的像散問題導致空間分辨率模糊、多通道信號串擾、波長重復性與精度不足等痛點，復享光學通過光學設計創新推出這兩大系列。

　　HELENA零像散系列采用主動像散矯正技術，在光路中加入像散矯正鏡片，實現全視場范圍內優于0.08納米的分辨率，多通道無串擾，中心視場與邊緣視場成像質量一致。TEMBO高分辨系列配備325mm、500mm、750mm三種焦距，分辨率小于0.1納米，波長精度0.2納米、重復性0.15納米，支持多光柵塔輪與單入雙出等多種配置。

　　這些產品可廣泛應用于核聚變等離子體診斷、材料表征、微納診斷等領域，并提供樣機演示、免費軟件升級、定制開發、快速交付等本土化服務。

復享光學儀器事業部產品經理 劉然

　　復享光學儀器事業部產品經理劉然介紹了顯微光譜產品線。他重點介紹了gora-X顯微原位多維光譜表征平臺，這是一款以模塊化思路設計的原位多維光譜測量平臺，通過透射、反射模組、偏振拓展以及高低溫、真空、高壓等原位平臺組合，集成拉曼、熒光、熒光壽命、非線性等多維光譜檢測功能，被稱作“客戶自己的光譜實驗室”。該系統具備亞微米空間分辨率、寬波段消色差能力，保證光譜高性能。

　　他還介紹了gora共焦拉曼光譜儀，該設備采用光纖共焦技術，具備優于1微米的空間分辨率，可兼容不同焦距成像光譜儀實現高光譜分辨率，能實現在共焦狀態下的即插即用。

復享光學儀器事業部產品經理 孫沛智

　　復享光學儀器事業部產品經理孫沛智帶來了主題是“多維光場·精準感知”的演講報告，深入闡述了多維光場測量的理論框架與實踐成果。他從光場表達式切入，指出對光場振幅、偏振、相位、動量、頻率等維度的研究與調控，是微納光學、生物檢測、先進顯示、光子芯片等領域的基礎。而復享光學的多維光場測量技術，正是為了驗證這些調控效果是否達成設計目標。

　　孫沛智重點介紹了兩款核心產品：ARMS顯微角偏光譜儀與MetronLens超構透鏡光學檢測系統。ARMS顯微角偏光譜儀采用光學傅里葉變換技術，具備毫秒級瞬態光譜采集能力、微米級樣品信號采集能力、可見到近紅外寬波段探測能力，角度分辨率優于0.5度。通過結合穆勒矩陣橢偏原理，ARMS可實現從穆勒矩陣橢偏譜到散射矩陣譜的推算，最終獲得樣品的拓撲結構與拓撲演化動態過程，實現對多維光場的完整解析。

　　MetronLens超構透鏡光學檢測系統則更側重于應用支持，核心技術為離軸數字全息與多距離相位反演技術，具備光場分布、相位分布、遠場分布三個核心測量功能。在超構透鏡表征中，該系統可獲取與掃描電鏡相同級別的細節恢復能力，并輸出焦距、光斑分布、點擴散函數、調制傳遞函數等核心指標，為超構透鏡的制備工藝評估與光學性能評價提供定量依據。

復享光學儀器事業部產品經理 陳敏婕

　　復享光學儀器事業部產品經理陳敏婕壓軸登場，正式發布本次發布會的重磅新品——全自動穆勒矩陣橢偏儀MetronME-XT-300。

MetronME-XT-300全自動穆勒矩陣橢偏儀

　　MetronME-XT-300全自動穆勒矩陣橢偏儀采用雙旋轉補償器技術，一次采集可獲得16組穆勒矩陣光譜，覆蓋各項同性與各項異性材料。設備膜厚重復性優于0.005納米，折射率重復性優于0.001，可測量膜厚、Psi/Delta、反射率/透射率、偏振態等眾多參數。該設備支持4至12英寸晶圓全自動掃描，可自定義掃描路徑與點位密度，適用于半導體量產中的全晶圓均勻性檢測。

　　除橢偏儀外，陳敏婕還介紹了復享光學反射膜厚測量全系列解決方案。其中，MetronFilm-MS顯微反射膜厚儀可實現多層膜高精度擬合，最小光斑可達微米級，適用于晶圓圖案化區域、精密小件等微區測量場景。該系列產品可適配半導體晶圓、光學涂層、生物器件、大尺寸曲面樣品等各類場景，全方位滿足實驗室與產線檢測需求。

　　復享光學已與眾多設備廠商、鍍膜廠商建立合作，在3D NAND堆疊存儲器、復合光學涂層、芯片封裝固化層等領域積累了大量應用案例。

　　 發布會期間，復享光學特別安排了15分鐘的“云逛展”環節，通過鏡頭帶領線上線下觀眾參觀復享光學的展位，近距離觀看包括MetronME-XT-300在內的多款新品樣機。現場技術人員與觀眾就產品性能、應用場景等進行了深入交流。

　　本次新品發布會全面展示了復享光學在光譜測量領域的深厚積累與創新突破。從微型光譜儀到全自動穆勒矩陣橢偏儀，從單一維度測量到全維測量解決方案，復享光學正以其“共同的光學基因”與持續的技術投入，踐行“無論測量需求如何演變，我們始終在場”的承諾。

　　作為2026慕尼黑上海光博會的重要參與企業，復享光學的新品發布不僅為展會增添了技術亮點，也為中國光電產業在高端測量儀器領域的自主創新注入了新的信心與動能。