橢圓型晶體譜儀譜測量的解譜

描述了橢圓型晶體譜儀配X射線CCD相機的X射線譜測量系統(EBCS-XCCD),研究了CCD相機記錄信號的解譜處理方法,推出了對實測原始譜曲線辨認或標識值的計算公式及激光等離子體輻射X射線在某一波長光譜強度的公式,使之應用在激光打靶產生的等離子體源輻射X射線譜的回推,辨認出了激光等離子體X射線源能譜,并與文獻[1]的結果進行了比較,結果基本一致。測試結果證實了解譜方法的可行性,表明X射線CCD相機適用于橢圓型晶體譜儀的光譜測量記錄。在已知晶體的積分反射率、濾片透射率和CCD探測效率的條件下,可以獲得X射線源光譜強度,為下一步診斷激光等離子體的電子溫度和離子密度的空間分布輪廓和進一步細化X射線激光研究奠定了基礎。