2025年ParkSystems納米圖像挑戰賽

以AFM之眼 探納米之秘

— 2025年Park Systems納米圖像挑戰賽

　　 近日，2025年Park Systems 納米圖像挑戰賽面向全球科學家、研究員及創新者發出誠摯邀約。

　　 本次賽事旨在搭建跨領域的交流平臺，鼓勵科研工作者通過原子力顯微鏡發掘納米尺度下的獨特美感，推動科學與藝術的深度融合，讓納米技術成果以更具視覺沖擊力的圖像形式呈現，激發全球科研界對納米領域探索的熱情與創新動力。

　　 本次挑戰賽設置了四大獎項，分別是年度最佳綜合圖像獎、最具科學價值圖像獎、最具美學價值圖像獎和最具創新實驗圖像獎。目前，賽事已開啟作品征集通道，期待全球科研者的踴躍參與，用精彩的AFM圖像解鎖納米世界的更多可能。

　　獎項類別

　　一等獎（1名）：

年度最佳綜合圖像獎 (Overall Image of the Year)

　　二等獎（8名）：

　　最具科學價值圖像獎(Scientific Value Image)

　　最具美學價值圖像獎 (Aesthetic Image)

　　最具創新實驗圖像獎(Creative Experiment Image)

　　獎項設置

　　一等獎 (1名)： iPad Air 11（128GB）

　　二等獎 (8名)：下面獎品可任選其一

　　 -Apple Watch, AirPods Pro 3,Galaxy Watch, Galaxy Ring

　　* 以實際獎品為主，最終解釋權歸Park所有*

　　掃碼進入頁面報名

　　提交截止時間：

　　2025年11月30日

　　獲獎者公布：2025年12月10日

　　圖像提交格式：TIFF

　　文件大小：最大20MB

　　聯系電話: 400 878 6829

　　聯系微信號: parksystems

　　 關于Park Systems:

　　 帕克股份有限公司 (Park Systems) 公司是是一家以自主核心技術為基礎、專注于先進納米計量設備與計量技術研發的全球化企業。公司產品涵蓋原子力顯微鏡（AFM）、白光干涉儀（WLI）、納米紅外光譜儀（AFM-IR）、橢偏成像顯微鏡（ISE）、主動隔振系統（AVI）和數字全息顯微鏡（DHM)。Park Systems公司對專業的執著追求已經帶來了多項開創性的創新，包括非接觸式成像(Non-contact?)、3D測量技術以及能夠同時滿足研究和工業需求的全自動AFM系統，并面向學術研究和產業應用不斷提供高質量的解決方案。憑借長期的研發積累，Park Systems的產品已在半導體、材料科學、生命科學、數據存儲及顯示等多個領域得到廣泛應用，并憑借技術表現獲得了全球多家半導體企業以及國內外多所高校和研究機構的廣泛認可。

　　 此外，Park Systems還持續推動技術迭代與產品升級，通過優化操作流程、提升設備智能化水平，讓更多科研工作者能夠便捷地探索納米世界，為納米科技的普及與發展提供有力支撐。

參賽說明

　　參賽要求

　　1.作品來源：作品圖需使用Park Systems AFM 相關核心技術完成。

　　2.作品格式與質量：

　　提交高分辨率的 TIFF 格式圖像（主圖與副圖），每個文件大小不得超過 20 MB。

　　允許添加標簽或注釋；但評審委員會可能會要求提供原始文件（RAW 或未處理版本）以進行驗證。

　　請附上不超過 200 字的簡短說明，介紹樣品、科學背景和研究內容。

　　參賽渠道

　　直接掃描參賽二維碼即可提交作品。

　　參賽須知

　　1.參賽費用：無參賽費用。

　　2.作品原創性：所有提交的作品必須為參賽者本人原創，且未在其他比賽中獲獎或入選。

　　3.評選與獲獎：獲獎通過郵件通知，失聯則視為棄權，獎項順延。

　　4.獎品規則：獎品不可轉讓、不兌換現金；獎品售后由生產廠家負責。

　　5.其他說明：作品內容需符合法律法規和公序良俗；截止日期、獎品可能調整，將通過郵件或新聞通知；最終解釋權歸Park Systems所有。