質譜分析法術語激光電離質譜法
激光電離質譜法（ laser ionization mass spectrornetry， L IMS）是利用激光電離質譜儀進行質譜分析的一種方法，具有微區分析功能，可進行逐層剖析，剖析深度可達1um至幾十微米，分析雙敏度高，相對檢測極限5μg/g，在高純材料、生物、醫學等領域獲得成功應用。......閱讀全文
質譜分析法術語激光電離質譜法
激光電離質譜法（ laser ionization mass spectrornetry， L IMS）是利用激光電離質譜儀進行質譜分析的一種方法，具有微區分析功能，可進行逐層剖析，剖析深度可達1um至幾十微米，分析雙敏度高，相對檢測極限5μg/g，在高純材料、生物、醫學等領域獲得成功應用。
質譜分析法術語表面電離質譜法
表面電離質譜法（surface ionization mass spectrometry）熱電離質譜法的一種，將預測量樣品涂覆在高熔點、高功函數的金屬帶表面或金屬絲表面，借助通過帶或絲的電流產生的高溫而電離，電離生成的離子進入質量分析器進行分離和測量。
質譜分析法術語光共振電離質譜法
激光共振電離質譜法（? laser resonance ionization mass spectrometry， LRIMS）是利用激光共振電離質儀進行質譜分析的方法。原則上 LRIMS可實現單原子探測，具有極高的元素、核素選擇性和探測靈敏度，是復雜基質下超痕量中長壽命核素定量分析的有效方法，在材
質譜分析法術語質譜法
質譜法（ mass spectrometry，MS）亦稱質譜學（ mass spectroscopy），采用不同離子化方式，將待測物電離形成帶電離子，離子按質荷比m/z分離、檢測的方法。質譜法是實現原子（分子）質量測定，同位素分離、分析，物質結構鑒定以及氣相離子化學基礎研究的譜學方法。作為一種檢測手
質譜分析法術語無機質譜法
無機質譜法（ inorganic mass spectrometry）用質譜儀器對無機元素或無機化合物進行定性定量分析的方法。早期以火花源質譜法、二次離子質譜法為主，隨著電感耦合等離子體質譜法、輝光放電質譜法的成熟，拓寬了無機質譜法的應用領域。在高純氣體、高純材料中痕量雜質分析，無機物元素分析，固體
質譜分析法術語放電電離
放電電離（discharge ionization）一種利用放電現象（如電弧、輝光、火花、電暈等）進行離子化的方法。
質譜分析法術語電離度
電離度（degree of ionization）泛指液體、氣體或氣溶膠在高溫或高頻電場作用下，生成的離子濃度M+與該體系中仍然存有的自由原子濃度M和生成離子濃度M+之和的比[M+（M＋M+)]。電離度遵從Saha方程，即原子的電離度與原子蒸氣的分壓強、元素原子的電離電位和體系的溫度密切相關。
質譜分析法術語電離效率
電離效率（ionization efficiency）電離效率泛指在特定環境下，經電離生成的原子離子數與進入電離區預測量樣品原子總數之比，電離效率的高低取決于所采用的電離方法、電離機制和電離時的相關參數。
質譜分析法術語表面電離
表面電離（surface ionization，SI）原子或分子與熾熱的固體表面相互作用實現離子化。樣品涂覆在金屬表面，當加熱金屬表面時樣品受熱蒸發，蒸發出的原子（或分子）大部分飛離金屬表面，一部分與熱金屬表面直接作用形成離子的過程即表面電離。樣品受熱激發釋放電子形成正離子稱其為正熱電離；樣品吸收電
質譜分析法術語靜態真空質譜法
靜態真空質譜法（static vacuum mass spectrometry，SVMS）當進行樣品分析時，質譜儀的分析系統處于靜態真空，即在離子源、分析器和接收器恒定真空狀態下測量，稱之為靜態真空質譜法。靜態真空質譜法主要應用于惰性氣體同位素分析，故也稱為惰性氣體質譜法（inert gas mas
質譜分析法術語火花源質譜法
火花源質譜法（spark source mass spectrometry，SSMS）采用火花源質譜儀對被測成分（元素、同位素）進行定性、半定量和定量分析的質譜方法。該法電離效率高，幾乎能使所有被測成分電離，且對所有元素有大致相同的電離效率，實現多元素同時檢測，曾經是高純材料、痕量雜質測量的有效方法
質譜分析法術語電離效率曲線
電離效率曲線（ionization efficiency curve）特定離子的離子流強度隨提供的能量大小變化的曲線。
質譜分析法術語負離子電離
負離子電離（negative ion ionization，NII）對于具有電子親和力比較大的元素捕獲一個電子可生成負離子，這種離子化的方法稱為負離子電離法。
質譜分析法術語光致電離
光致電離（photo ionization，PI）亦稱光誘導電離（photo-induced- ionization），用光照射樣品分子，使樣品分子吸收能量而實現離子化的方法。在各種光源中，激光具有高能、單色、易于調制、可聚焦成激光微束等特點。當使用激光為離子化光源時，稱為激光電離（laser io
質譜分析法術語場致電離
場致電離（field ionization，FI）將金屬絲或金屬針加上高電壓，形成107～108V/cm的高場強，氣態的樣品分子在強電場作用下失去電子生成分子離子，分子離子的能量為12～13eV，適用于可以氣化的有機化合物的離子化，是一種溫和的“軟”電離方式。
質譜分析法術語電離能
電離能（ionization energyionization potential）亦稱電離電位（ionization potential）。當原子獲得足夠大的能量，其一個或某些外層電子脫離該原子核的作用力范圍，成為自由電子，這時原子由于失去電子成為離子，這種現象稱為電離。為使原子發生電離所需的能量
質譜分析法術語加速器質譜法
加速器質譜法（ accelerator mass spectrometry，AMS）使用加速器質譜儀進行高能量離子分篇析的質請方法。AMS測量的離子具有高能量，有效克服了傳統質謝測量時的同量異位素和分子本感干找限制，提高了同位素測量的豐度靈度（可達10?-16），為地質、考古、海洋、環境等領域的科學
質譜分析法術語同位素質譜法
同位素質譜法（ （isotope mass spectrometry）用質譜儀器進行同位素組成的研究和原子質量測量的方法。主要用于核科學、同位素地質學、同位素地球化學和天體物質中同位素豐度的測定。隨著同位素稀釋法和穩定同位素標記技術的發展，同位素質譜法在生物學、臨床醫學、藥學、農學和環境科學領域也得
質譜分析法術語火輝光放電質譜法
輝光放電質譜法（glow discharge mass spectrometry，GDMS）利用輝光放電質譜儀進行質譜測量的一種分析方法。GDMS是無機固體材料，特別是高純材料中痕量雜質檢測的有效方法。
質譜分析法術語快粒子轟擊電離
快粒子轟擊電離（ fast particle bombardment，FPB）利用具有數千電子伏，或數萬電子伏動能的原子、分子或離子對樣品進行轟擊，以實現樣品離子化的方法統稱快粒子轟擊電離。
質譜分析法術語快原子轟擊電離
快原子轟擊電離（ fast atom bombardment，FAB）質譜常用的一種軟電離方法。在離子槍中，用電子轟擊的方法使高壓中性氣體（氬或氙）電離，形成的氬（或缸）離子被電子透鏡聚焦，經過一個中和器，中和掉氬或氙離子束所攜帶的電荷，成為定向高速運動的中性原子束，高速中性原子（Ar、Xe等）對溶
質譜分析法術語激光消融
激光消融（ laser ablation）又稱激光燒蝕。用強脈沖激光對固體表面照射時，表面被迅速加熱并被熔化，由于產生的蒸氣激烈釋放，使固體表面受到侵蝕的現象。
質譜分析法術語二次離子質譜法
二次離子質譜法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次離子質譜儀進行質析的方法，該法依賴于所用不同二次離子質譜儀，可劃分為四極桿二次離子質（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辯二次離子質譜儀（ high resolu
質譜分析法術語離氣體穩定同位素質譜法
氣體穩定同位素質譜法（ gas stable isotope ratio mass spectrometry， GSIRMS）該法因測量氣體穩定同位素比值而得名，如測量碳、氧、氮、硫等元素的穩定性同位素，測量結果的品位通常以δ表示，在同位素地球化學、同位素地質學、石油勘探與開采、同位素宇宙學、海洋學
質譜分析法術語同位素稀釋法
同位素稀釋法（isotope dilution method）采用同位素稀釋進行定量分析的方法。如在含有自然豐度的某元素未知濃度溶液中，加入該元素已知豐度的定量濃縮同位素或貧化同位素溶液，等待兩種溶液均勻混合，通過待測樣品、混合溶液的同位素豐度質譜法測量，根據待測、濃縮和混合溶液中的同位素豐度和所加
質譜分析法術語峰匹配測量法
峰匹配測量法（peak matching measurement）一種測定離子精確質量的方法。精度可達（110）×10-6根據扇形磁質譜儀的基本公式:m/z＝KB21V，當B2不變時，質量分別為m1和m2的兩個離子有如下關系:m1:m2＝V1:V2。在離子接收狹縫前裝上一對偏轉電極，并在電極上加一個
質譜分析法術語質譜
質譜（mass spectra mass spectrum）按照被測體質量大小排序的譜線。
質譜分析法術語同位素示蹤法
同位素示蹤法（isotope tracer method）用同位素作為示蹤劑來觀察和研究生命體，或物體中某一物質行為的方法。
質譜分析法術語質荷比
質荷比（mass charge ratio，m/z）離子質量（以相對原子質量為單位）與它所帶電荷（以電子電量為單位）的比值。
質譜分析法術語質譜圖
質譜圖（mass spectrogram）質譜測定結果經計算機處理統計后，以棒狀圖（或數據列表形式）表示的譜圖。它是二維圖譜，橫坐標表示離子的質荷比（m/z），對于單電荷的離子，電荷數z＝1，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把被記錄的各個質量數的離子峰