離子探針分析儀的應用概述
由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究： 1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的深度濃度 分布最有效的表面分析工具。 3. 面分析 通過離子成像法可以提供關于元素橫向分布的信息和適當條件下單定量信息。目前離子成像已經用于研究晶界析出物、冶金和單晶的效應、橫向擴散、礦物相的特征以及表面雜質分布等。 4. 微區分析（區域直徑小于25μm的微區），用于元素的痕量分析、雜質分析、空氣中懸浮粒子的分析等。 5. 體分析 即對固體一般特性的分析。 由于離子探針有許多優點，故自問世以來在半導體、金屬、礦物、環境保護、同位素和催化劑各個方面的應用都有很大發展。......閱讀全文
離子探針分析儀的應用概述
由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究： 1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的
離子探針分析儀應用
離子探針分析儀應用由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同
離子探針分析儀應用
目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的深度濃度 分布最有效的表面分析工
離子探針分析儀簡介
離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表面，使之激發和濺射二次離子，經過加速和質譜分析，分析區域可
離子探針分析儀特點
離子探針分析儀有以下幾個特點：1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。4. 可作同位素
詳述離子探針分析儀在各方面的應用
（1）在半導體材料方面的應用 由于半導體材料純度要求很高，要求分析的區域最小，迫切要求做表面分析和深度分析，因此也是最適合離子探針發揮作用的領域，其中有代表性的工作有： ? 表面、界面和體材料的雜質分析 ? 離子注入濃度及摻雜的測定 ? 在實效分析方面的應用 （2）在金屬材料方面的應用
離子探針分析儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
離子探針分析儀儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
鋅離子熒光染料探針的應用
鋅離子在許多生理和病理過程中都起到至關重要的作用,因此對鋅離子進行探測和識別有重要理論和實際意義。熒光探針因其設計簡單、易于操作、靈敏度高、可細胞成像等諸多優點而廣泛應用于鋅離子的識別研究。鋅是生物中含量第二高的過渡金屬（僅次于鐵), 大腦中大多數Zn?2+緊密結合，因此細胞外和細胞內的游離Zn?2
離子探針分析儀的組成結構介紹
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。 ① 一次離子發射系統 一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、
離子探針質量顯微分析儀
離子探針質量顯微分析儀ion microprobe mass analyzer以聚焦很細(1～2微米)的高能(10～20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。簡史 應用離子照射樣品產生二
請問離子探針分析儀有哪些特點？
SISM有以下幾個特點： 1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。 2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。 3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。 4
離子探針分析儀基本原理
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成
離子探針分析儀基本原理
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成
關于離子探針質量顯微分析儀的簡介
離子探針質量顯微分析儀（ion microprobemass analyzer）,以聚焦很細（1～2 微米）的高能（10～20 千電子伏）一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。
離子探針分析儀的基本原理簡介
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質離子探針分析儀基本原理譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。 被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過
離子探針原理
離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負氧離子轟擊樣品表面，測定被飛濺活化出來并發生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發展的新型質譜計，它具有許多其他測年方法所沒有的優點：不需要化學處理；具有高的分辨率，可同時獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉，有無鉛丟失；可對樣
離子探針方法
離子探針方法是將質譜測定技術與離子發射顯微鏡技術相結合的現代儀器分析方法。能提供一般質譜分析所不能提供的試樣微區質譜。由于它能對固體物質作微區、微量及深度成分分析，在某些條件下檢測靈敏度可達ppb數量級，因此被廣泛地應用于半導體、冶金、地質和生物研究等部門。其原理是利用聚焦的高能一次離子束轟擊試樣表
離子探針產品介紹、特點和應用領域
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限
關于離子探針質量顯微分析儀的儀器介紹
離子探針質量顯微分析儀主要包括四部分： ①能夠產生加速和聚焦一次離子束的離子源； ②樣品室和二次離子引出裝置； ③能把二次離子按質荷比分離的質量分析器； ④二次離子檢測和顯示系統及計算機數據處理系統等。 應用：元素檢測、能檢測包括氫在內的、元素周期表上的全部元素，對不同的元素，檢測靈敏
關于離子探針質量顯微分析儀的分析介紹
1、離子探針質量顯微分析儀的深度分析： 作動態分析時，在一次離子束剝蝕作用下，樣品成分及其濃度將隨剝蝕時間而變化，因而得到了樣品深度-濃度分布曲線。離子探針在半導體材料中對控制雜質元素注入量和注入深度及濃度分布上起著重要作用。還以其橫向分辨率為1～2 微米、深度分辨率為50～100 埃的本領，
關于離子探針質量顯微分析儀的簡史介紹
應用離子照射樣品產生二次離子的基礎研究工作最初是R.H.斯隆（1938）和R.F.K.赫佐格（1949）等人進行的。1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研制成了直接成像式離子質量分析器。1967 年H.利布爾在電子探針概念的基礎上，用離子束代替電子束，以質譜儀（見質譜
關于離子探針質量顯微分析儀的展望介紹
離子探針質量顯微分析儀的展望：離子探針作為一個具有分析微量元素的高靈敏度的微區分析方法正在迅速發展。但是，由于二次離子濺射機理較為復雜，定量分析仍存在許多問題。今后發展和改進的主要方向是：提高質譜分辨率，以減少和排除二次離子質譜干擾；實現多種質譜粒子探測，以獲得樣品和多種粒子的信息和資料；定量分
電子探針X射線顯微分析儀概述
電子探針X射線顯微分析儀(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的簡稱為電子探針 。在眾多樣品化學成分分析的儀器中，電子探針分析技術(EPMA)是一種應用較早、且至今仍具有獨特魅力的多元素分析技術。 二戰以來，世界經濟和社會的迅猛發展極大的促進了科
電子探針X射線顯微分析儀概述
電子探針可以對試樣中微小區域微米的化學組成進行定性或定量分析，除做微區成分分析外，還能觀察和研究微觀形貌、晶體結構等。電子探針技術具有操作迅速簡便、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點，在冶金、地質、土壤、生物、醫學、考古以及其他領域中得到日益廣泛應用，是土壤和礦物測
量子點作為熒光離子探針應用的研究進展
1. 引言量子點是一種準零維納米晶粒，因其三個維度均受到量子限域，從而表現出一些獨特的光學性能，如激發波長范圍寬、發射波長范圍窄且對稱、量子產率高、熒光壽命長、光學性能穩定等優點。量子點作為熒光離子探針在離子以及小分子檢測領域引起了許多研究人員的關注并且取得了不錯的進展。離子和無機小分子與量子點之間
開爾文探針系統的概述
開爾文探針系統是一款可以被大多數客戶所接收的高端掃描開爾文探針系統，它是在ASKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置。 吸附，電池系統，生物學和生物技術，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術，教育，光/熱散發，費米級掃描，燃料
鈣離子熒光探針：比值型熒光探針
前面我們介紹了熒光指示劑法可以將Ca2+檢測的實驗與其他技術結合使用，如可以與流式細胞儀、熒光分光光度計、或者熒光顯微鏡進行聯合檢測 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，數量較少，可見光型數目較多，包括Fluo-3、鈣黃綠素、Rhod-2等。熒光指示劑根據測光原理和數據
質譜儀離子探針質譜儀產品介紹、特點和應用領域
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限
北京離子探針中心離子探針質譜儀器研發進入攻堅階段
2010年1月16-17日，由北京離子探針中心主辦的“2009北京SHRIMP成果報告會”在京隆重舉行。中國科學院多位院士、政府相關部門負責人以及來自全國各地的地學界同仁等約100人出席了開幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流會”已經成為中國地學界同仁們進行學術交
