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定量分析用于測定樣品中組分的精確濃度，準確度高。 ICP-MS在多元素測定中具有很髙靈敏度，能夠測得高質量數據。此外， ICP-MS能夠進行穩定同位素測試，無需高質量標準物質即可進行準確定量。為使測試結果準確，需排除可能的干擾或采用合適的方法進行校正。因此，定量分析過程必須采用合適方法排除干擾或進行干擾校正。 一、直接校正1)標準工作曲線( calibration curves)定量分析中最常采用的方法是使用標準工作曲線法。該工作曲線建立了待測元素離子電流與校準標樣濃度之間的關系。稀溶液分析時，通常采用高純金屬鹽按重量法制備相應的標準溶液。這些金屬鹽可以是硝酸鹽或氧化物，避免使用金屬氯化物，防止分子離子干擾。另外還可采用購買的校準標準溶液。將高濃度標準溶液稀釋后，加入高純硝酸，防止痕量待測元素沉積或被盛放器皿內壁所吸附。 標準儲備液濃度通常在1~10mg·L-1。若采用正確方式儲存，能夠穩定存在，保質期1年。......閱讀全文
定量分析用于測定樣品中組分的精確濃度，準確度高。 ICP-MS在多元素測定中具有很髙靈敏度，能夠測得高質量數據。此外， ICP-MS能夠進行穩定同位素測試，無需高質量標準物質即可進行準確定量。為使測試結果準確，需排除可能的干擾或采用合適的方法進行校正。因此，定量分析過程必須采用合適方法排除干擾或進行
ICP-MS中的干擾可分為兩大類：“ 質譜干擾”和“非質譜于擾”或稱為“基體效應”。質譜干擾是 ICP-MS中見到的最嚴重的干擾類型，通常對分析物離子流測量結果產生正誤差。可進一步分為：同量異位素重疊干擾；多原子離子干擾；難熔氧化物干擾；雙電荷離子干擾。第二種類型的干擾大體可分為：抑制和增強效應；由
高頻振蕩器發生的高頻電流，經過耦合系統連接在位于等離子體發生管上端，銅制內部用水冷卻的管狀線圈上。石英制成的等離子體發生管內有三個同軸氬氣流經通道。冷卻氣(Ar)通過外部及中間的通道，環繞等離子體起穩定等離子體炬及冷卻石英管壁，防止管壁受熱熔化的作用。工作氣體(Ar)則由中部的石英管道引入，開始工作
一、抑制或增強型干擾空間電荷效應是 ICP-MS中的基體干擾干擾主要原因。通常表現為分析信號的受到抑制或增強。?在等離子體和超聲射流中，離子電流被相等的電子流所平衡，因此，整個離子束基本上呈現出電中性。而當離子束離開截取錐后，由透鏡建立起的電場將收集離子而排斥電子。以使離子被束縛在一個很窄的離子束中
原理：ICP-MS是一個以質譜儀作為檢測器的等離子體，它的進樣部分及等離子體與ICP-OES的是及其相似的。ICP-OES測量的是光學光譜，ICP-MS測量的是離子質譜，ICP-MS除了元素含量測定外，還可測量同位素。 元素分析范圍：3號鋰(Li)-92號鈾(U) 分析特點：可以分
在TOF-ICP-MS中，根據離子飛行時間進行分離，不同于掃描型質譜根據離子質荷比進行分離。離子從等離子體采樣后，加速至相同的動能，使特定質荷比的離子達到檢測器的時間固定。受加速過程的影響，不同質荷比的電子在自由漂移區獲得的速率不同（較輕的離子獲得速率大），因此飛行時間不同。利用離子響應強度及到達檢
定性分析是確定樣品中是否存在某個元素或一組元素。儀器能否進行完全定量分析直接與分析方法及儀器檢測能力有關。理想狀態下，希望只用一個樣品溶液同時測定主量、微量、痕量及超痕量元素含量。這就要求儀器對不同元素同位素具有寬的動態響應范圍。實際使用過程中，通常難以在一個樣品溶液同時測定主量元素(響應強度高)及
一、內容概述電感耦合等離子體質譜法（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，縮寫為ICP-MS）是20世紀80年代發展起來的新的分析測試技術。它以獨特的接口技術將ICP的高溫（7000K）電離特性與四極桿質譜計的靈敏快速掃描的優點相結合而形成的一種新
??? 電感耦合等離子體質譜是實驗室的一位大神級別的儀器，日常維護保養不容懈怠，今天就看看咱們的維護保養做的到位嗎？? 一、進樣系統? 1、蠕動泵? 進樣蠕動泵管的好壞直接影響信號的穩定性,所以應經常檢查,定期更換。排廢液管使用期限可以長一些。但也必須經常檢查,以防排廢不暢,引起霧室內廢液聚集
金秋十月，ANTOP 2018第二期申報工作正在如火如荼的進行，多家科學儀器企業競相參與申報，這里將為您介紹ANTOP獎項“打榜”產品。 NexION 2000融合了多項獨特的創新技術，專為適應所有基體、克服一切干擾、挑戰任何納米顆粒檢測而打造。 NexION 2000 ICP