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    X射線衍射儀的原理你了解嗎

    X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。 X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析,如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定(晶體結構分析)、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可地測定物質的晶體結構,如:物相定性與定量分析,衍射譜的指標化及點陣參數。 X射線衍射儀的原理: x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍......閱讀全文

    一文看懂XRD基本原理

     XRD全稱X射線衍射(X-RayDiffraction),利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征,經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相,并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷(位錯)和晶格缺陷等,下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理

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    技術 | 一文看懂XRD基本原理

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    X射線衍射儀的的原理

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      樣品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三個方面。物相分析一般使用 X-射線粉末衍射儀(XRD)和電子顯微鏡。形貌和粒度可通過掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)直接觀測到粒子的大小和形狀。但由于電鏡只能觀測局部區域,可能產生較大的統計誤差。晶粒(注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念,在多數情況下

    X射線衍射儀相關知識了解

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