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實驗采用同步輻射光源作為激發光源。分別測定室溫和低溫條件下，能量范圍60-200eV同步輻射光源激發一價貴金屬多晶Cu、Ag樣品的s、p、d電子所得的光電子能譜。采用能量為650eV同步輻射光源激發多晶Au樣品s、p、d以及f電子所得的光電子能譜。運用origin繪圖軟件畫出結合能與相對強度的圖像，分析不同金屬電子的能帶和光電子能譜譜峰的性質，從這些不同能量激發和不同溫度條件下的光電子能譜中找有較獨特性質的譜峰（類似(E)函數），用固體物理的能帶論計算Cu、Ag、Au樣品的導帶的寬度。分析Cu、Ag樣品在室溫和低溫下光電子能譜有差異的原因。研究的目標是找到能譜峰形狀最接近(E)函數的單色性好的光電子束波源。主要研究工作如下：第一部分：主要闡述電子能譜的基礎知識。分別從三個方面：（1）介紹了電子能譜的按照產生機制和按照光源能量的分類、標識方法和應用。（2）介紹了光電子能譜儀組成，并對光電子能譜儀的各部分進行詳細的闡述。（3）介紹了......閱讀全文
根據所采用的激發源的不同，電子能譜分析主要可分為以下兩大類：一是以光電子能譜（簡稱PES）；二是電子束作激發源去照射樣品，測量樣品所發射出的俄歇電子能量，稱為俄歇電子能譜（簡稱AES）。1、光電子能譜以一定能量的X射線或光（如紫外光）照射固體表面時，被束縛于原子各種深度的量子化能級上的電子被激發而產
拉曼光譜的原理及應用 拉曼光譜由于近幾年來以下幾項技術的集中發展而有了更廣泛的應用。這些技術是：CCD檢測系統在近紅外區域的高靈敏性，體積小而功率大的二極管激光器，與激發激光及信號過濾整合的光纖探頭。這些產品連同高口徑短焦距的分光光度計，提供了低熒光本底而高質量的拉曼光譜以及體積小、容易使用的
紅外光譜的原理及應用 (一)紅外吸收光譜的定義及產生 分子的振動能量比轉動能量大，當發生振動能級躍遷時，不可避免地伴隨有轉動能級的躍遷，所以無法測量純粹的振動光譜，而只能得到分子的振動-轉動光譜，這種光譜稱為紅外吸收光譜 紅外吸收光譜也是一種分子吸收光譜。當樣品受到頻率連續變化的紅外光照射
（1）固體表面的激發與檢測 X射線光電子能譜（XPS）：激發源為X射線，用X射線作用于樣品表面，產生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結構。又稱為化學分析光電子能譜法（ESCA）。 紫外光電子能譜（UPS）：激發源為紫外光，只能激發原子的價電子，用于量子化
(三)X射線光電子能譜法的應用 (1)元素定性分析 各種元素都有它的特征的電子結合能，因此，在能譜圖中就出現特征譜線，可以根據這些譜線在能譜圖中的位置來鑒定周期表中除H和He以外的所有元素。通過對樣品進行全掃描，在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素。 (2)元
（1）固體表面的激發與檢測X射線光電子能譜（XPS）：激發源為X射線，用X射線作用于樣品表面，產生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結構。又稱為化學分析光電子能譜法（ESCA）。紫外光電子能譜（UPS）：激發源為紫外光，只能激發原子的價電子，用于量子化學研究。俄歇
電子能譜分析方法是20世紀70年代以來迅速發展起來的表面成分分析方法。這種方法是對用光子（電磁輻射）或粒子（電子、離子、原子等）照射或轟擊材料（原子、分子或固體）產生的電子能譜進行分析的方法。其中俄歇電子能譜、光電子能譜、X射線光電子能譜和紫外光電子能譜等對樣品表面的淺層元素的組成能給出比較精確的分
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
一 X光電子能譜分析的基本原理 X光電子能譜分析的基本原理：一定能量的X光照射到樣品表面，和待測物質發生作用，可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。該過程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er；其中：hn：X光子的能量；Ek：光電子的能量；Eb：電子的結合能；
實驗采用同步輻射光源作為激發光源。分別測定室溫和低溫條件下，能量范圍60-200eV同步輻射光源激發一價貴金屬多晶Cu、Ag樣品的s、p、d電子所得的光電子能譜。采用能量為650eV同步輻射光源激發多晶Au樣品s、p、d以及f電子所得的光電子能譜。運用origin繪圖軟件畫出結合能與相對強度的圖像，
近日，中科院大連化學物理研究所楊學明院士應邀為Energy & Environmental Science雜志撰寫題為Surface Photochemistry Probed by Two-Photon Photoemission Spectroscopy的綜述文章。該
超全面石墨烯檢測方法大匯總，看完就是石墨烯檢測專家了！ 2004年，康斯坦丁博士通過膠帶從石墨上分離出石墨烯這種“神器的材料”，它的出現在全世界范圍內引起了極大轟動…… 石墨烯具有非同尋常的導電性能、極低的電阻率極低和極快的電子遷移的速度、超出鋼鐵數十倍的強度，極好的透光性……這些優異的性能
該成果由周興江小組、陳創天小組、許祖彥小組、趙忠賢小組等合作完成 3月20日，中科院物理所向外界宣布，中外科學家利用我國自主研制的尖端科學儀器，在高溫超導體中研究中取得了初步成果。這項成果是由中科院物理所周興江研究組，理化技術所陳創天研究組，物理所許祖彥研究組、趙忠賢研究組以及美國Brookh
能譜儀EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是電子顯微鏡（掃描電鏡、透射電鏡）的重要附屬配套儀器，結合電子顯微鏡，能夠在1-3分鐘之內對材料的微觀區域的元素分布進行定性定量分析。 原理：利用不同元素的X射線光子特征能量不同進行
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
金屬-氧化物界面（Metal-oxide interface）在很多先進的應用材料中起著非常重要的作用,有時甚至起著決定性的作用,比如:功能金屬陶瓷材料、氧化物彌散強化合金、金屬的氧化物防護、催化劑等等。眾所周知,材料的宏觀性質是由其微觀結構所決定的,因此,為了改善材料的宏觀性能,有必要弄清楚材料的
隨著科學技術的不斷發展,人們正在尋求更新的實用材料.金屬氧化物,包括金屬氧化物薄膜的各種實用材料,在工業界、信息產業界和能源開發等方面的應用前景,早已引起國內外學者的極大關注.例如,由于氧化物具有各種特殊的介電和光學性質,研究和開發基于氧化物薄膜的氣敏材料非常熱門.如何制備出有實用價值的各種薄膜材料
X射線光電子能譜技術（XPS）是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術，以X射線為激發光源的光電子能譜，簡稱XPS或ESCA。XPS不但為化學研究提供分子結構和原子價態方面的信息，還能為電子材料研究提供各種化合物的元素組成和含量、 化學狀態、分子結構、化學鍵方面的信息。 X射線光子的能量
X射線光電子能譜技術（XPS）是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術，以X射線為激發光源的光電子能譜，簡稱XPS或ESCA。XPS不但為化學研究提供分子結構和原子價態方面的信息，還能為電子材料研究提供各種化合物的元素組成和含量、 化學狀態、分子結構、化學鍵方面的信息。 X射線光子的能量
主要包括X射線光電子能譜XPS和俄歇電子能譜法AES（1）X射線光電子能譜(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射線光電子能譜(XPS )就是用X射線照射樣品表面，使其原子或分子的電子受激而發射出來，測量這些光電子的能量分布，從而獲得所需的信息。隨著
主要包括X射線光電子能譜XPS和俄歇電子能譜法AES（1）X射線光電子能譜(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射線光電子能譜(XPS )就是用X射線照射樣品表面，使其原子或分子的電子受激而發射出來，測量這些光電子的能量分布，從而獲得所需的信息。隨著微電子技
分析測試百科網訊 2016年4月22-26日，2016全國表面分析應用技術學術交流會在古都西安召開。交流會由全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會、中國科學院化學研究所、北京師范大學、北京化工大學、廣東省表面分析專業
表面分析方法表面分析方法有數十種，常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析，其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術，以及場離子顯微鏡分析等。離子探針分析離子探針分析，又稱離子探針顯微分析。它是利用電子光學方法將某些惰性氣體或氧的離子加速并聚
分析測試百科網訊 2018年4月18日，第十六屆全國低溫物理學術研討會在河南省新鄉市河南師范大學開幕。在大會開幕式上，2018第四屆馬丁?伍德爵士中國物理科學獎舉行了頒獎儀式，獎項得主揭曉。 馬丁?伍德爵士中國物理科學獎由牛津儀器在2013年設立，旨在發掘和獎勵國內年輕科學家在低溫或強磁場環境
美國布朗大學與中國清華大學的科學家合作，發現元素周期表中5號化學元素硼也可能形成類似石墨烯的單層平面原子結構，并將其稱之為硼墨烯。該論文發表在近期出版的《自然·通信》雜志。 石墨烯被譽為神奇材料，其碳原子排列成六邊形，呈蜂窩環狀結構，因其強度比鋼還要大，導電性能比銅好，引起人們高度重視，認為其
XPS：X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量，而EDS不能測價態，且測試的深度為幾十納米到幾微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。 原理：用X射線去輻射樣品，使
表面分析系統表面分析系統包括x射線光電子能譜（XPS）儀和紫外光電子能譜（UPS）儀，利用表面分析系統，可從原子層面上分析陰極材料的凈化效果，分析激活前后陰極表面原子的構成和排列，進而可較深入地研究陰極的激活機制和NEA特性的形成機制。下面簡單介紹激活評估實驗系統中的表面分析子系統：x射線光電子能潛
離子探針質量顯微分析儀ion microprobe mass analyzer以聚焦很細(1～2微米)的高能(10～20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。簡史 應用離子照射樣品產生二
二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加