HaverCPA（光學視圖顆粒分析系統）升級產品重裝登場

        在傳統的顆粒分析領域，Haver&Boecker作為篩分機的制造商，一直引領著行業的發展。90年代早期，Haver&Boecker率先在這一領域進行創新革命，通過引入強大的計算機技術，揭開了顆粒分析領域發展的全新歷史篇章。發展到現在，Haver CPA已經成為目前科技發展的最尖端產品。從標準實驗室儀器到工業定制品，從藥物、食品、礦石、塑料到工業肥料，Haver CPA已經擁有最廣泛的應用。

        由Haver & Boecker推出的HAVER CPA測量系統是您進行顆粒粒徑及其粒形精確分析的首選。
        HAVER CPA測量儀器基于數字圖像處理的原理。高分辨率的線性攝像機以LED光陣列為背景對自由落體顆粒進行拍照，其記錄頻率最高可達每秒28,000次。CPA將所有的掃描整合起來，形成了一個連續不間斷的數據記錄。在測量的同時，顆粒投射的陰影在HAVER REAL TIME中得到實時評估。每秒可對高達10,000個顆粒進行檢測分析，并且可以得到測量范圍的所有顆粒的粒徑和粒形的結果。因此，HAVER CPA是普通振篩機的理想替代品。 

        HAVER CPA CONVEYOR主要是為分析長條的物料而研發的，這是由于圖像分析時物料重疊或旋轉會帶來測量結果的偏差。在使用CPA CONVEYOR時，物料被加載到一個計量通道上而后轉運到一高速運轉的傳送帶上。物料的速度差異使其得到有效分離，并在掃描分析前，將其帶入穩定的方向運轉。
        HAVER CPA CONVEYOR的測量在真正意義上消除了顆粒在測量過程中隨機旋轉所帶來的誤差。

        多種規格的HAVER CPA，可以滿足實驗室、工業以及科研等廣大領域的使用需求。所有CPA系統均具有結果的高重現性、極其省時、可提供其它粒形參考值以及自動化方案等特點，讓您盡享成本降低和效率提高的雙重利益！

        歡迎來電咨詢或索取HAVER CPA樣本！