上海交通大學尖端物質結構研究中心成立
國際先進電鏡技術研討會同時舉行 3月29日，國際先進電鏡技術研討會暨上海交通大學尖端物質結構研究中心揭牌儀式在上海交通大學閔行校區舉行。上海交通大學校長張杰院士與日本電子株式會社社長栗原権右衛門共同為尖端物質結構研究中心揭牌。 清華大學副校長薛其坤院士、清華大學朱靜院士、浙江大學張澤院士、上海交通大學潘健生院士等出席。日本東北大學櫻井利夫教授，上海交大林棟梁教授、張國定教授，晶澳太陽能控股有限公司副總裁黃新明教授，以及來自其他高校、企業代表、上海交大機關部處、上海交大材料學院領導等70余人出席會議，全校師生100余人參加研討會。開幕暨揭牌儀式由上海交大材料科學與工程學院院長孫寶德教授主持。尖端物質結構研究中心主任陳明偉教授向與會人員致了歡迎詞。 張杰院士首先代表上海交通大學致辭。他對中心的成立表示了熱烈的祝賀，他還詳細的介紹了該中心建立的目的，講述了中心建立過程中的故事，強調了中心的建立對材料學科甚至整個學校的重......閱讀全文
透射電鏡廠商大揭秘（三）：－無所不能的HITACHI——日立
今天主要來談一下三家主要的透射電鏡供應商的最后一家——日立HITACHI。如果說JEOL和FEI算是比較專一型的企業的話，那么Hitachi就是比較博愛了。 HITACHI 日立是日本的一家超級大國企，可以說它本身就是一個完整的工業體系，涉及的產業從核電站，鐵路，軍工，到家電，醫療，物流，通
清華大學儀器共享平臺JEOL－透射電子顯微鏡
儀器名稱：透射電子顯微鏡儀器編號：03006800產地：日本生產廠家：日本電子有限公司型號：JEM2010出廠日期：200203購置日期：200307所屬單位：化工系>化工系測試平臺>反應工程實驗室放置地點：清華大學工物館（東側）102房間固定電話：62796284固定手機：15120075839固
清華大學儀器共享平臺JEOL－透射電子顯微鏡
儀器名稱：透射電子顯微鏡儀器編號：03006800產地：日本生產廠家：日本電子有限公司型號：JEM2010出廠日期：200203購置日期：200307所屬單位：化工系>化工系測試平臺>反應工程實驗室放置地點：清華大學工物館（東側）102房間固定電話：62796284固定手機：15120075839固
清華大學儀器共享平臺JEOL－透射電子顯微鏡
儀器名稱：透射電子顯微鏡儀器編號：03006800產地：日本生產廠家：日本電子有限公司型號：JEM2010出廠日期：200203購置日期：200307所屬單位：化工系>化工系測試平臺>反應工程實驗室放置地點：清華大學工物館（東側）102房間固定電話：62796284固定手機：15120075839固
清華大學儀器共享平臺高分辨場發射透射電子顯微鏡
儀器名稱：高分辨場發射透射電子顯微鏡儀器編號：16003997產地：日本生產廠家：日本電子型號：JEM出廠日期：2014.9購置日期：201603所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D119固定電話：固定手機：固定email：聯系人：宗瑞隆（010-62781686,1362
清華大學儀器共享平臺JEOL－2100F場發射透射電子顯微鏡
儀器名稱：2100F場發射透射電子顯微鏡儀器編號：16044975產地：日本生產廠家：日本電子型號：JEM-2100F出廠日期：2016.2購置日期：201612所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>透射電子顯微鏡（TEM）分室放置地點：逸夫樓A129固定電話：010-62782758固定手機
清華大學儀器共享平臺JEOL－2100F－場發射透射電子顯微鏡
儀器名稱：2100F場發射透射電子顯微鏡儀器編號：16044975產地：日本生產廠家：日本電子型號：JEM-2100F出廠日期：2016.2購置日期：201612所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>透射電子顯微鏡（TEM）分室放置地點：逸夫樓A129固定電話：010-62782758固定手機
清華大學儀器共享平臺JEOL－2100F－場發射透射電子顯微鏡
儀器名稱：2100F場發射透射電子顯微鏡儀器編號：16044975產地：日本生產廠家：日本電子型號：JEM-2100F出廠日期：2016.2購置日期：201612所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>透射電子顯微鏡（TEM）分室放置地點：逸夫樓A129固定電話：010-62782758固定手機
預算2400萬－這所高校招標采購球差校正透射電子顯微鏡
近日，山東第一醫科大學（山東省醫學科學院）科教融合科創中心二期建設球差校正透射電子顯微鏡購置公開招標，預算金額2400萬。 一、項目基本情況： 項目編號：SDGP370000000202202006846 項目名稱：山東第一醫科大學（山東省醫學科學院）科教融合科創中心二期建設球差校正透射
透射電子顯微鏡的起源與發展
透射電子顯微鏡的起源與發展?透射電子顯微鏡起源于20?世紀20~30?年代。1924?年，德布羅意提出了粒子具有波動性。1926—1927?年，Davisson、Germer?以及Thompson Reid?實驗發現了電子衍射，從而證明了電子的波動性，因此想到可以用電子代替可見光來制作電子顯微鏡，以
冷場發射掃描電子顯微鏡
冷場發射掃描電子顯微鏡是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2011年5月1日啟用。 技術指標 分辨率：1.0nm (15KV), 1.4 nm (1KV) 放大倍數：25-100萬倍加速電壓：0.1KV-30KV 束流強度：10-13-2x10-9。主要附件：牛津儀器INCA 能譜儀。 主
透射電子顯微鏡結構
透射電子顯微鏡結構 透射電子顯微鏡的結構透射電子顯微鏡（TEM）是觀察和分析材料的形貌、組織和結構的有效工具。TEM用聚焦電子束作照明源，使用對電子束透明的薄膜試樣，以透過試樣的透射電子束或衍射電子束所形成的圖像來分析試樣內部的顯微組織結構。 圖1（a）（b）是兩種典型的透射電鏡的實物照片。透射
Park－Systems與JOEL簽訂原子力顯微鏡在日分銷協議
分析測試百科網訊 2015年10月6日，Park Systems宣布其子公司Park Systems Japan 與日本電子簽訂Park Systems原子力顯微鏡產品在日本市場的分銷協議。日本電子與Park Systems Japan的合作伙伴關系將為客戶更方便地提供掃描電子顯微鏡（
日本電子2022財年營收1627億日元增18％創新高
????截至2023年3月31日的2022-2023財年，JEOL日本電子收入1626.89億日元（12.2億美元），較上年的1384.08億日元增長17.5%；凈利潤為178.3億日元（1.3億美元），利潤率為11%。銷售額、營業利潤刷新最高紀錄，訂單和積壓訂單也創下歷史新高。? ??? ????
電子顯微神兵利器——各種型號的透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy,TEM）是通過穿透樣品的電子束進行成像的放大設備。電子束穿過樣品以后，帶有樣品之中關于微結構及組成等方面的信息，將這些信息進行方法和處理，便可得到所需要的顯微照片及多種圖譜。現在商業透射電鏡最高的分辨率已經達到了0
球差校正透射電鏡
電子顯微鏡的分辨本領由于受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對于常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恒為正值。在40年代由于兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像
超3.3億！多高校發布電鏡類儀器招標公告
近日，多高校發布采購電鏡類儀器招標公告。據分析測試百科網粗略統計，12月初開始各高校電鏡類儀器累計采購預算金額已超過3.3億。詳細信息如下表：序號采購單位采購項目名稱采購品目采購需求概況預算金額(萬元)預計采購日期備注1上海交通大學A02100301顯微鏡場發射掃描電子顯微鏡詳見項目詳情400202
追隨諾貝爾足跡——2017年北京市電子顯微學年會在京召開
2017年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開。 分析測試百科網訊2017年12月19日，2017年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開，本次會議年會由北京市電鏡學會、北京理化分析測試技術學會主辦，旨在推動北京及周邊地區廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學，生命科
球差校正透射電鏡ABC速成知識
了解球差校正透射電鏡，從這里開始前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納
6630萬！天津大學雙球差校正透射電子顯微鏡等設備采購
招標項目編號:0618-224TC229908R招標項目名稱:天津大學企業信息資產處學科交叉平臺電鏡中心雙球差校正透射電子顯微鏡等設備采購項目實施地點:中國天津市招標產品列表(主要設備):序號產品名稱數量簡要技術規格備注1雙球差校正透射電子顯微鏡1套詳見招標文件2200KV透射電子顯微鏡1套詳見招標
JEOL發布新型場發射冷凍電鏡JEMZ200FSC
分析測試百科網訊 近日JEOL有限公司宣布發布新的場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z200FSC（CRYO ARM?200）。冷凍電鏡已經建立了無需固定和無染色觀察細胞和生物分子的方法，由于近期硬件和軟件的快速發展，這種顯微技術作為原子尺度的結構分析方法已經變得越來越重要。此外，冷凍電鏡已經開發了能
透射電子顯微鏡的發展趨勢
透射電子顯微學（TEM）是一門探索電子與固態物質結構相互作用的科學。 透射電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。由電子槍發射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品
冷場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：冷場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16003996產地：日本生產廠家：日立型號：SU-8010出廠日期：2014.1購置日期：201603所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：清華大學理科樓D120房間固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-62783586
透射電子顯微鏡結構原理
透射電鏡的總體工作原理是：由電子槍發射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內部的結構信息，樣品內致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經過物鏡的會聚調焦和初級放大后，電子束進
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡由以下幾大部分組成：照明系統，成像光學系統；記錄系統；真空系統；電氣系統。成像光學系統，又稱鏡筒，是透射電鏡的主體。（詳見右圖） 照明系統主要由電子槍和聚光鏡組成。電子槍是發射電子的照明光源。聚光鏡是把電子槍發射出來的電子會聚而成的交叉點進一步會聚后照射到樣品上。照明系統的作用就
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡的結構 透射電子顯微鏡結構包括兩大部分：主體部分為照明系統、成像系統和觀察照相室;輔助部分為真空系統和電氣系統。 1、照明系統 該系統分成兩部分：電子槍和會聚鏡。電子槍由燈絲(陰極)、柵級和陽極組成。加熱燈絲發射電子束。在陽極加電壓，電子加速。陽極與陰極間的電位差為總的加速電壓
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）是目前使用最普遍的一種電鏡，占使用電鏡的80%，其分辨率、放大倍數及各項性能都比其他類型電鏡高。透射電鏡是用電子束照射標本，用電子透鏡收集穿透標本的電子并放大成像，用以顯示物體超微結構的裝置。透射電鏡的分辨
JEM1200EX透射式電子顯微鏡燈絲的養護及清洗
JEM-1200EX透射式電子顯微鏡燈絲的養護及清洗電子顯微鏡工作時應處于高真空狀態，即使不工作也應使其保持真空狀態，以保護鏡筒內透鏡和重要部件不受外界環境的影響，延長其使用壽命。在工作狀態下，如果鏡筒內存在空氣，氣體分子將與高速運動的電子相互碰撞，使氣體電離放電，引起電子束閃爍和不穩定。熾熱的燈絲
清華大學儀器共享平臺JEM2010－透射電子顯微鏡
儀器名稱：透射電子顯微鏡儀器編號：03006800產地：日本生產廠家：日本電子有限公司型號：JEM2010出廠日期：200203購置日期：200307所屬單位：化工系>化工系測試平臺>反應工程實驗室放置地點：清華大學工物館（東側）102房間固定電話：62796284固定手機：15120075839固
2016北京市電子顯微學年會召開－探討電鏡技術應用新進展
分析測試百科網訊 2016年12月20日，2016年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開，會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。來自電子顯微學領域相關單位的200余人參加了此次會議。2016年度北京市電子顯微學