上海交通大學尖端物質結構研究中心成立
國際先進電鏡技術研討會同時舉行 3月29日，國際先進電鏡技術研討會暨上海交通大學尖端物質結構研究中心揭牌儀式在上海交通大學閔行校區舉行。上海交通大學校長張杰院士與日本電子株式會社社長栗原権右衛門共同為尖端物質結構研究中心揭牌。 清華大學副校長薛其坤院士、清華大學朱靜院士、浙江大學張澤院士、上海交通大學潘健生院士等出席。日本東北大學櫻井利夫教授，上海交大林棟梁教授、張國定教授，晶澳太陽能控股有限公司副總裁黃新明教授，以及來自其他高校、企業代表、上海交大機關部處、上海交大材料學院領導等70余人出席會議，全校師生100余人參加研討會。開幕暨揭牌儀式由上海交大材料科學與工程學院院長孫寶德教授主持。尖端物質結構研究中心主任陳明偉教授向與會人員致了歡迎詞。 張杰院士首先代表上海交通大學致辭。他對中心的成立表示了熱烈的祝賀，他還詳細的介紹了該中心建立的目的，講述了中心建立過程中的故事，強調了中心的建立對材料學科甚至整個學校的重......閱讀全文
球差色差校正透射電鏡
球差色差校正透射電鏡：球差校正器經過多年的發展，在最新的五重球差校正器的幫助下，人類成功地將球差對分辨率的影響校正到小于色差。只有校正色差才能進一步提高分辨率，于是球差色差校正透射電鏡就誕生了。我們欣賞一下放置在德國Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO雙球差
球差校正透射電鏡簡介
1，前言球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里將給大家
球差校正透射電鏡簡介
1，前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里
第9次華北五省市電鏡會在呼倫貝爾召開－新技術層出不窮
分析測試百科網訊 2016年7月23日，由華北五省電子顯微鏡學會和北京理化分析測試技術學會組織的“第九次華北五省市電子顯微學研討會及2016年全國實驗室協作服務交流會”在內蒙古呼倫貝爾市召開。會議囊括了透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析、掃描探針顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡等在材料、生命科學、
透射電子顯微術－TEM
分析原理：高能電子束穿透試樣時發生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象譜圖的表示方法：質厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結構和晶格與缺陷等
掃描電鏡和透射電鏡的區別
電子顯微鏡已經成為表征各種材料的有力工具。?它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應用中非常有價值的工具。?其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）。?在這篇博客中，將簡要描述他們的相似點和不同點。???掃描電鏡和透射電鏡的工作原理?從相似點開始, 這兩種設
細胞研究用的顯微鏡分類和工作原理（四）
DIC顯微鏡使細胞的結構，特別是一些較大的細胞器，如核、線粒體等，立體感特別強，適合于顯微操作。目前像基因注入、核移植、轉基因等的顯微操作常在這種顯微鏡下進行。（八）、倒置顯微鏡組成和普通顯微鏡一樣，只不過物鏡與照明系統顛倒，前者在載物臺之下，后者在載物臺之上（圖2-11），用于觀察培養的活細胞，具
透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡，簡稱透射電鏡，英文名為Transmission Electron Microscope，縮寫為TEM，是一種利用高速運動的電子束作為光源，穿透固體樣品，再經過電磁透鏡成像的顯微鏡。透射電鏡由電子光學系統、觀察記錄系統、真空和冷卻系統以及電源系統等組成。電子光學系統又可分為照明系統和成
廣東工業大學4000萬元采購雙球差校正透射電子顯微鏡
近日，廣東工業大學發布“雙球差校正透射電子顯微鏡采購”中標公告，廣東省中科進出口有限公司將提供包括布魯克、賽默飛、NanoMEGAS等在內的5家公司共計近4000萬元產品。詳細信息如下： 一、項目編號：0809-2241GDG12268 二、項目名稱：雙球差校正透射電子顯微鏡采購 三、采購結果
透射電子顯微鏡的結構原理
透射電鏡的總體工作原理是：由電子槍發射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內部的結構信息，樣品內致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經過物鏡的會聚調焦和初級放大后，電子束進入下
透射電子顯微鏡的結構組成
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真空系
透射電子顯微鏡的結構組成
TEM系統由以下幾部分組成?電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。聚光鏡：將電子束聚集，可用于控制照明強度和孔徑角。樣品室：放置待觀察的樣品，并裝有傾轉臺，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻
透射電子顯微鏡的結構組成
TEM系統由以下幾部分組成電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。聚光鏡：將電子束聚集，可用于控制照明強度和孔徑角。樣品室：放置待觀察的樣品，并裝有傾轉臺，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻等
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
JEOL臺式掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：臺式掃描電子顯微鏡儀器編號：20023020產地：日本生產廠家：JEOL型號：JCM-7000出廠日期：購置日期：2020-11-26所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：清華大學微納加工平臺一層實驗室固定電話：01062784044-216固定手機：135522074
JEOL臺式掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：臺式掃描電子顯微鏡儀器編號：20023020產地：日本生產廠家：JEOL型號：JCM-7000出廠日期：購置日期：2020-11-26所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：清華大學微納加工平臺一層實驗室固定電話：01062784044-216固定手機：135522074
透射電子顯微鏡的進一步研究
第二次世界大戰之后，魯斯卡在西門子公司繼續他的研究工作。在這里，他繼續研究電子顯微鏡，生產了第一臺能夠放大十萬倍的顯微鏡。這臺顯微鏡的基本設計仍然在今天的現代顯微鏡中使用。第一次關于電子顯微鏡的國際會議于1942年在代爾夫特舉行，參加者超過100人。隨后的會議包括1950年的巴黎會議和1954年
JEOL攜最新科技亮相ASMS－2024，展示前沿分析解決方案
作為ASMS 2024的一部分，JEOL攜最新的科學儀器和解決方案再次登場，引發了與會者的極大興趣。JEOL將在展位218號展示其最新的分析儀器，包括質譜儀、電子顯微鏡和核磁共振光譜儀，為科研人員提供了解決方案。JEOL 展臺JEOL的質譜儀產品系列包括MassWorks軟件、AccuTOF-DAR
掃描電鏡和透射電鏡的區別
電子顯微鏡已經成為表征各種材料的有力工具。?它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應用中非常有價值的工具。?其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）。?在這篇博客中，將簡要描述他們的相似點和不同點。???掃描電鏡和透射電鏡的工作原理?從相似點開始, 這兩種設
一文讀懂球差透射電鏡
01——球差電鏡的原理及分類球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統都無法做到完美。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法會聚到一
透射電子顯微鏡的結構原理介紹
透射電鏡的總體工作原理是：由電子槍發射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內部的結構信息，樣品內致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經過物鏡的會聚調焦和初級放大后，電子束進
透射電子顯微鏡結構和成像原理
1、照明系統????該系統分成兩部分：電子槍和會聚鏡。電子槍由燈絲（陰極）、柵級和陽極組成。加熱燈絲發射電子束。在陽極加電壓，電子加速。陽極與陰極間的電位差為總的加速電壓。經加速而具有能量的電子從陽極板的孔中射出。射出的電子束能量與加速電壓有關，柵極起控制電子束形狀的作用。電子束有一定的發散角，經會
掃描透射電子顯微鏡的結構功能
掃描透射電子顯微鏡是指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場發射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點而出現的一種新型分析方式。掃描透射電子顯微鏡是透射電子顯微鏡的一種發展。掃描線圈迫使電子探針在薄膜試樣上掃描，與掃描電子顯微鏡不同之處在
透射電子顯微鏡原理及結構（二）
2、成像系統該系統包括樣品室、物鏡、中間鏡、反差光欄、衍射光欄、投射鏡以及其它電子光學部件。樣品室有一套機構，保證樣品經常更換時不破壞主體的真空。樣品可在X、Y二方向移動，以便找到所要觀察的位置。經過會聚鏡得到的平行電子束照射到樣品上，穿過樣品后就帶有反映樣品特征的信息，經物鏡和反差光欄作用形成一次
透射電子顯微鏡原理及結構（一）
透射電子顯微鏡?透射電子顯微鏡（英文：Transmission electron microscopy，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。
基礎篇：透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）是目前使用最普遍的一種電鏡，占使用電鏡的80%，其分辨率、放大倍數及各項性能都比其他類型電鏡高。透射電鏡是用電子束照射標本，用電子透鏡收集穿透標本的電子并放大成像，用以顯示物體超微結構的裝置。透射電鏡的分辨率可
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享應用
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
如何通過透射電子顯微鏡（TEM）初步確定待測樣品
束1. 選區電子衍射（selected area electron diffraction）： 判斷樣品的晶體結構，晶格常數，點陣應變等。通常需要結合X射線衍射來綜合判斷。但選區電子衍射的選區范圍最小只能達到~200 nm。這主要是來自物鏡像差的限制。現在前沿的技術是納米電子微區衍射(Nanobea
透射電子顯微鏡
1、基本原理 在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構（submicroscopic structures）或超微結構（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，
透射電子顯微鏡
1、基本原理在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構（submicroscopic structures）或超微結構（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨