拉曼光譜法和X射線熒光光譜法檢驗香煙水松紙的研究
隨著經濟的發展,香煙品牌越來越多,我國煙民數量也呈上升趨勢,因此在現場提取到煙蒂物證的幾率也較大。通過對香煙水松紙的檢驗可推斷香煙品牌,縮小偵查范圍,但目前尚未形成系統的檢驗方法,這就為公安檢驗鑒定部門提出了新的研究課題。本文利用顯微共焦激光拉曼光譜法和X射線熒光光譜法對香煙水松紙進行了檢驗,取得以下研究成果:1.建立了拉曼光譜檢驗香煙水松紙的分析方法,優化了實驗條件:激光光源為785nm;光柵為1200 l/mm,針孔聚焦能量為0%,采集時間為20s,采集次數為10次,采集方式為點掃描,光譜采集范圍為100-2000cm-1。2.對樣品拉曼光譜圖進行分析,通過與樣品常用的填料、著色劑標準品的拉曼光譜圖比對,表征樣品印刷面所含填料、著色劑種類,依據填料、著色劑種類與配比的不同對樣品進行分類,考察香煙品牌與填料、著色劑的種類和配比的相關性。3.將拉曼光譜圖轉換為多維矢量(excel數據),運用SPSS統計分析軟件,考察原始拉曼......閱讀全文
拉曼光譜法和X射線熒光光譜法檢驗香煙水松紙的研究
隨著經濟的發展,香煙品牌越來越多,我國煙民數量也呈上升趨勢,因此在現場提取到煙蒂物證的幾率也較大。通過對香煙水松紙的檢驗可推斷香煙品牌,縮小偵查范圍,但目前尚未形成系統的檢驗方法,這就為公安檢驗鑒定部門提出了新的研究課題。本文利用顯微共焦激光拉曼光譜法和X射線熒光光譜法對香煙水松紙進行了檢驗,取得以
X熒光光譜與拉曼光譜“合作”－鑒定古陶瓷年代
日前，香港皇廷2016秋季中國藝術品拍賣會在廈門開始了其全國巡展首站，展出了19件歷朝陶瓷精品。這些拍品采用了“科技+人文”鑒寶的新模式，也是目前唯一附有國際標準化組織ISO認證機構檢測報告的古陶瓷拍品。 據介紹，儀器檢測是將瓷器放進真空環境的X熒光光譜儀后，再經過拉曼光譜儀檢測釉面成分。隨后
X射線熒光光譜和熒光光譜－區別
一、理論上。熒光光譜是比較寬的概念，包括了X射線熒光光譜。二、從儀器分析上，熒光光譜分析可以分為：X射線熒光光譜分析、原子熒光光譜分析，1）X射線熒光光譜分析——發射源是Rh靶X光管2）原子熒光光譜分析——可用連續光源或銳線光源。常用的連續光源是氙弧燈，常用的銳線光源是高強度空心陰極燈、無極放電燈、
X射線熒光光譜原理
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能
拉曼光譜與熒光光譜的區別
簡單來說,拉曼就是光散射后發生的頻率改變;熒光則是分子吸收能量再由于碰撞釋放能量產生的。熒光光譜:當物質分子吸收了特征頻率的光子,就由原來的基態能級躍遷至電子激發態的各個不同振動能級.激發態分子經與周圍分子撞擊而消耗了部分能量,迅速下降至第一電子激發態的最低振動能級,并停留約10-9秒之后,直接以光
拉曼光譜與熒光光譜的區別
簡單來說,拉曼就是光散射后發生的頻率改變;熒光則是分子吸收能量再由于碰撞釋放能量產生的。熒光光譜:當物質分子吸收了特征頻率的光子,就由原來的基態能級躍遷至電子激發態的各個不同振動能級.激發態分子經與周圍分子撞擊而消耗了部分能量,迅速下降至第一電子激發態的最低振動能級,并停留約10-9秒之后,直接以光
物質的拉曼光譜和熒光光譜
做生物樣品的拉曼光譜，在獲得的圖里面有很強的熒光，有的說，如果拉曼得不到就用其熒光譜。那么在拉曼譜里面得到的熒光背景，是真正的熒光特征譜嗎？這和熒光光譜儀里面的熒光圖有什么區別？?1.?原則上說，拉曼譜中的熒光和熒光譜中的熒光是一樣的，只要激發波長和功率密度相同。注意橫坐標要從波數變換為納米，即用1
x射線衍射、x熒光、直讀光譜區別
1、X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域. X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,廣泛應用于各大、專院校,科研院所及廠礦企業. 基
拉曼光譜和熒光光譜的主要差異
熒光光譜：在輻射能激發出的熒光輻射強度進行定量分析的發射光譜分析方法。物體經過較短波長的光照，把能量儲存起來，然后緩慢放出較長波長的光，放出的這種光就叫熒光。如果把熒光的能量--波長關系圖作出來，那么這個關系圖就是熒光光譜。拉曼光譜：光照射到物質上發生彈性散射和非彈性散射. 彈性散射的散射光是與激發
X射線熒光光譜的概念
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
什么是X射線熒光光譜
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
拉曼光譜
1、單道檢測的拉曼光譜分析技術。2、以CCD為代表的多通道探測器的拉曼光譜分析技術。3、采用傅立葉變換技術的FT-Raman光譜分析技術。4、共振拉曼光譜分析技術。5、表面增強拉曼效應分析技術。
拉曼光譜
一、拉曼光譜的基本原理用單色光照射透明樣品時，光的絕大部分沿著入射光的方向透過，一部分被吸收，還有一部分被散射。用光譜儀測定散射光的光譜，發現有兩種不同的散射現象，一種叫瑞利散射，另一種叫拉曼散射。1.瑞利散射散射是光子與物質分子相互碰撞的結果。如果光子與樣品分子發生彈性碰撞，即光子與分子之間沒有能
拉曼光譜
一、拉曼光譜的基本原理用單色光照射透明樣品時，光的絕大部分沿著入射光的方向透過，一部分被吸收，還有一部分被散射。用光譜儀測定散射光的光譜，發現有兩種不同的散射現象，一種叫瑞利散射，另一種叫拉曼散射。1.瑞利散射散射是光子與物質分子相互碰撞的結果。如果光子與樣品分子發生彈性碰撞，即光子與分子之間沒有能
X射線光譜
1914年，英國物理學家莫塞萊（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射線光譜儀研究不同元素的X射線，取得了重大成果。莫塞萊發現，以不同元素作為產生X射線的靶時，所產生的特征X射線的波長不同。他把各種元素按所產生的特征X射線的波長排列后，發現其次序與元素周期表中的次序一致，他稱這
X熒光和拉曼光譜成為古陶瓷鑒定新手段
古陶瓷鑒定不再憑經驗，而是靠科學技術手段。7月1日，皇朝遺珍古陶瓷實驗室在深圳舉行夏季科學鑒定和古陶瓷巡展，來自兩岸三地的30多件宋元明清瓷器悉數亮相，一批古陶瓷接受科學鑒定。 中國地緣遼闊，歷史悠久，有很多古陶瓷珍品在民間被廣泛收藏，但古陶瓷市場魚龍混雜，不乏眾多高仿贗品，讓無數古陶瓷愛好
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀熒光光譜的相關介紹
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的 半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍
拉曼光譜儀fProbe－熒光探頭
fProbe 熒光探頭 ? ? ? ?超過 OD4 的激光抑制 / 集成設計、操作方便 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?熒光探頭
簡述x射線熒光光譜測厚儀特色
1.可測量0.01um-300um的鍍層。 2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量。 3.除平板形外，還可測量圓形、棒形（細線）等各種形狀。 4.可制作非破壞性膜厚儀的標準板。 5.該電鍍膜厚檢測儀可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度。 6.可高精度測量其他方式不易測量的三層以上的
X射線熒光光譜儀簡介
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X射線熒光光譜分析
X射線熒光的激發源使用X射線而不使用電子束，因為使用X射線避免了樣品過熱的問題。幾乎所有的商品X射線熒光光譜儀均采用封閉的X射線管作為初始激發光源。某些較簡單的系統可能使用放射性同位素源，而電子激發一般不單獨使用在X射線熒光光譜儀中，它僅限于在電子顯微鏡中X射線熒光分析中使用。X射線熒光譜儀具有快速
X－射線熒光光譜分析
本文評述了我國在2005年至2006年X射線熒光光譜,包括粒子激發的X射線光譜的發展和應用,內容包括儀器研制、激發源、探測器、軟件、儀器改造、儀器維護和維修、樣品制備技術、分析方法研究和應用。?更多還原