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：隨著納米結構材料的廣泛應用,新型微納尺度表征技術成為納米科學技術發展的重要途徑。本文基于局域電子信息全面性的思想,從俄歇電子能譜的原理出發,理論推導出俄歇價電子能譜的簡明表述方式,確定俄歇價電子能譜與微觀電子結構信息的內在聯系和物理意義,建立了俄歇電子能譜探測微區一系列宏觀參量的新技術。其中應力測量技術的空間分辨率可優于20nm,為微納尺度力學測量的發展提供了重要的方法;非接觸性的局域電學性質測量技術,超越了傳統電學測量方法的思想框架,實現了無外場驅動的電荷密度分布、電場分布等本征電學性質表征、以及半導體異質結構整個空間區域的能帶構造;結構相的測定技術,使納米微區材料的晶體結構相識別成為可能;半導體微區導電類型測定技術,延續了非接觸性電學測量的優點,并且能夠靈活地探測分析復雜光電器件結構中不同區域的導電類型分布。通過實際應用于側向外延GaN不同區域、AlxGa1-xN/GaN超晶格量子阱結構、ZnO納米顆粒等納米尺度復雜體系的......閱讀全文
：隨著納米結構材料的廣泛應用,新型微納尺度表征技術成為納米科學技術發展的重要途徑。本文基于局域電子信息全面性的思想,從俄歇電子能譜的原理出發,理論推導出俄歇價電子能譜的簡明表述方式,確定俄歇價電子能譜與微觀電子結構信息的內在聯系和物理意義,建立了俄歇電子能譜探測微區一系列宏觀參量的新技術。其中應力測
隨著納米結構材料的廣泛應用,新型微納尺度表征技術成為納米科學技術的重要組成部分。發展在納米尺度下的各種檢測與表征手段,以用于觀測納米結構材料的原子、電子結構,和測量各種納米結構的力、電、光、磁等特性,日益引起人們的重視。針對目前廣泛使用的各種光子譜技術、X射線衍射和精細吸收譜、高分辨的電子顯微術等技
俄歇電子能譜簡稱AES，是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應，而逃脫出來的電子稱為俄歇電子。1953年，俄歇電子能譜逐漸開始被實際應用
近年來,俄歇電子能譜儀( AES) 在材料表面化學成分分析、表面元素定性和半定量分析、元素深度分布分析及微區分析方面嶄露頭角。AES 的優點是,在距表面 0.5 ～ 2nm 范圍內, 靈敏度高、分析速度快,能探測周期表上 He 以后的所有元素。最初,俄歇電子能譜儀主要用于研究工作 ,現已成為一種常規
俄歇電子能譜儀（AugerElectronSpectroscopy，AES），作為一種最廣泛使用的分析方法而顯露頭角。這種方法的優點是：在靠近表面5-20埃范圍內化學分析的靈敏度高；數據分析速度快；能探測周期表上He以后的所有元素。雖然最初俄歇電子能譜單純作為一種研究手段，但現在它已成為常規分析
海南大學周陽副教授 海南大學周陽副教授發表主題為“俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy）原理介紹及其在元素成像中的應用”的精彩報告。俄歇電子能譜（AES）是一種表面科學和材料科學的分析技術，可用于獲得元素種類，含量和分布等信息。其原理是：當原子內層電子被激發
1、通過俄歇電子譜研究化學組態：原子“化學環境”指原子的價態或在形成化合物時，與該(元素)原子相結合的其它(元素)原子的電負性等情況。2、定性分析：對于特定的元素及特定的俄歇躍遷過程，其俄歇電子的能量是特征的。由此，可根據俄歇電子的動能來定性分析樣品表面物質的元素種類。3、定量分析或半定量分析：俄歇
新一代的俄歇電子能譜儀多采用場發射電子槍,其優點是空間分辨率高,束流密度大,缺點是價格貴,維護復雜 ,對真空要求高。除 H 和 He 外,所有原子受激發后都可產生俄歇電子,通過俄歇電子能譜不但能測量樣品表面的元素組分和化學態,而且分析元素范圍寬,表面靈敏度高。顯微AES是 AES 很有特色的分析功能
俄歇電子能譜法是用具有一定能量的電子束(或X射線)激發樣品俄歇效應，通過檢測俄歇電子的能量和強度，從而獲得有關材料表面化學成分和結構的信息的方法。利用受激原子俄歇躍遷退激過程發射的俄歇電子對試樣微區的表面成分進行的定性定量分析。
摩擦、磨損與潤滑 由 高鉻鋼制成的葉片泵的定子，在水 乙氨酸系潤滑油中長時間工作后，在摩擦面上會產生局部變色區。先用大直徑的電子束斑進行俄歇分析，發現摩擦面上存在氧、鐵、錫、鈣、碳、鉀、氯和硫等元素。然后用細聚焦電子束作微區分析。結果表明，定子摩擦面的局部變色區是由于錫的偏聚所造成的。 在潤