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俄歇電子能譜(AES)、x 光電子能譜(XPS)、x 射線能量色散譜(EDS)是目前應用最廣泛的顯微分析方法。與 AES 和 XPS 相比,EDS 有諸多優點,如測試方便、不損壞試樣、分析速度快；但缺點是分辨率和定量分析準確度不夠高,這主要是由于大的加速電壓和束流導致大的分析面積和表面效應。 ......閱讀全文
分析測試百科網訊 2016年4月22-26日，2016全國表面分析應用技術學術交流會在古都西安召開。交流會由全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會、中國科學院化學研究所、北京師范大學、北京化工大學、廣東省表面分析專業