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新型納米力學成像探針實現原子力顯微鏡下DNA的直讀檢測和高分辨成像 近日，中國科學院上海應用物理研究所物理生物學研究室與上海交通大學、南京郵電大學合作，基于DNA納米技術發展了一系列DNA折紙結構并作為納米力學成像探針，實現了原子力顯微鏡下對基因組DNA的直讀檢測和高分辨成像。相關結果發表于《自然-通訊》(Nature Communications 2017, 8, 14738)。DNA折紙結構是利用DNA堿基互補配對原則，通過程序性設計將M13 DNA在上百條DNA短鏈的輔助下折疊成指定幾何形狀。上海應物所博士張宏陸等在研究員樊春海指導下，并與晁潔、師詠勇等合作，通過設計DNA折紙結構作為原子力顯微鏡的納米力學成像探針，在單分子水平下實現了對DNA分子的特異性標記和單核苷酸變異性(SNP)的直讀檢測。相較于基于熒光成像的直讀方法，這種新技術將分辨率提升一個數量級，可達到遠超光學衍射極限的10納米分辨。基于DN......閱讀全文
新型納米力學成像探針實現原子力顯微鏡下DNA的直讀檢測和高分辨成像 近日，中國科學院上海應用物理研究所物理生物學研究室與上海交通大學、南京郵電大學合作，基于DNA納米技術發展了一系列DNA折紙結構并作為納米力學成像探針，實現了原子力顯微鏡下對基因組DNA的直讀檢測和高分辨成像。
近日，中國科學院上海應用物理研究所物理生物學研究室與上海交通大學、南京郵電大學合作，基于DNA納米技術發展了一系列DNA折紙結構并作為納米力學成像探針，實現了原子力顯微鏡下對基因組DNA的直讀檢測和高分辨成像。相關結果發表于《自然-通訊》(Nature Communications 2017,
近日，中國科學院上海應用物理研究所物理生物學研究室與上海交通大學、南京郵電大學合作，基于DNA納米技術發展了一系列DNA折紙結構并作為納米力學成像探針，實現了原子力顯微鏡下對基因組DNA的直讀檢測和高分辨成像。相關結果發表于《自然-通訊》(Nature Communications 2017,
近日，中國科學院上海應用物理研究所物理生物學研究室與上海交通大學、南京郵電大學合作，基于DNA納米技術發展了一系列DNA折紙結構并作為納米力學成像探針，實現了原子力顯微鏡下對基因組DNA的直讀檢測和高分辨成像。相關結果發表于《自然-通訊》（Nature Communications 2017,
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法。原子力顯微鏡探針包括探針本體和設置在探針本體的針尖一側的接觸體，接觸體具有連接段和接觸段，接觸段具有接觸端面；接觸段為二維材料，且接觸端面為原子級光滑且平整的單晶界面。本發明專利技術的原子力顯微鏡探針可精確地檢測受測樣品的各種性質。 介紹 隨著
記者7月12日從上海理工大學獲悉，該校科學家與暨南大學、新加坡國立大學的同行們合作，開發出一種可發光的鑭系元素納米探針，該探針可用于亞細胞結構的低功率受激發射損耗（STED）顯微鏡和深層組織超分辨率成像。相關成果發表在《自然·納米技術》上。 光學顯微技術在生物領域中是一個重要工具，借助這
原子力顯微鏡（AFM),是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。首臺原子力顯微鏡在1985年研發成功，其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多種模式。AFM探針由于應用范圍僅限于原子力顯微鏡，屬于高科技儀器的耗材，應用領域不廣，全世界的使用量也不多。主要的生產廠家分布在德國，瑞士，保
探針和樣品間的力-距離關系是此儀器測量的關鍵點。當選擇不同的初始工作距離時,探針所處的初始狀態也是不同的。由此可將原子力顯微鏡的操作模式分為3大類型:接觸模式(Contact Mode)、非接觸模式(Non-contact Mode)和輕敲模式(Tapping Mode)。圖2給出了AFM不同操作
根據尖端運動的性質，原子力顯微鏡的操作通常被描述為三種模式之一的接觸模式，也稱為靜態模式(與稱為動態模式的其他兩種模式相反)；敲擊模式，也稱為間歇接觸、交流模式或振動模式，或在檢測機制后調幅AFM；非接觸模式，或者再次在檢測機制之后，頻率調制AFM。 應該注意的是，盡管有命名法，排斥接觸
AFM探針基本都是由MEMS技術加工 Si 或者 Si3N4來制備。探針針尖半徑一般為10到幾十nm。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微懸臂大約100μm長、10μm寬、數微米厚。 利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而