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  • X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。......閱讀全文

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器,而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器,而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。

    X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

    X射線衍射儀(XRD)是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。

    X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹

      相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關,可用于研究物質的結構。  其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品,測量衍射線的角度與強度,從而推斷樣品的結構,這就是X射線衍射結構分析(XRD)。  另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體

    x射線衍射、x熒光、直讀光譜區別

    1、X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域.  X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,廣泛應用于各大、專院校,科研院所及廠礦企業.  基

    X射線粉末衍射儀和X射線衍射儀又什么區別

    “X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶衍射儀器".由于物質要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術是主流的X射線衍射分析技術.單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構.粉末衍射也可以分析出空間結構.但是大分子(比如蛋白質等)等復雜的很難分析.X射線粉末衍射可以

    X射線衍射儀

    特征X射線及其衍射X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質,并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線,它具有靶中元素相對應的特定波長,稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra

    X射線衍射儀

    產品型號:?X'Pert PRO生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.(原飛利浦分析儀器)儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計,可針對不同的要求采用最優的光學系統

    X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹

      當X射線穿過物質時,一方面受散射作用偏離原來的傳播方向,另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收,散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。  當一單色X射線穿過均勻物體時,其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix,X射線的衰減符合指數衰減定律:  式中,μ為質量衰減系數;ρ為樣

    X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹

      除光電吸收外,入射光子還可與原子碰撞,在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種,即相干散射和非相干散射。  相干散射:當X射線照射到樣品上時,X射線便與樣品中的原子相互作用,帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多,原子核的振動可忽略不計,主要是原

    概述X射線熒光光譜儀X射線的產生

      根據經典電磁理論,運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的:利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶,電子被金屬靶所減速,便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線,也包括了特征譜線。  1、連續譜線  連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受

    X射線熒光光譜儀X射線光管結構

      常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成,并利用高壓電纜與高壓發生器相接,同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。  當電流流經X射線光管燈絲線圈時,引起陰極燈絲發熱發光,并向四周發射電子

    x射線單晶衍射儀和多晶衍射儀的區別

    衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的,因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底

    X射線衍射儀構造

    X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構成很相似,為X射線衍射儀的基本構造原理圖,主要部件包括4部分。  (1)高穩定度X射線源  提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。  (2)樣品及樣品位置取向的調整機構系統  樣品須是單晶、粉

    多晶X射線衍射儀

      多晶X射線衍射儀是一種用于材料科學領域的分析儀器,于2008年7月1日啟用。  技術指標  ● X射線高壓發生器:最大功率:3kW,最大電壓:60kV,最大電流:60mA ● 陶瓷X光管:Cu靶,最大功率:2.2kW, 最大電壓:60kV,最大電流:55mA ● q/q 掃描模式,掃描范圍:0.

    X射線衍射儀原理

    x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物

    多晶x射線衍射儀

    主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等,因此,在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用,是理工科院校和材料研究、

    X射線衍射儀法

    X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來,因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質

    X射線衍射儀法

    X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來,因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質

    X射線衍射儀應用

    Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量,并形成了定性、定量的巖性識別方法,為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜,樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中,一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成

    X-射線熒光光譜儀

    用X射線照射試樣時,試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長,同時又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。圖

    X射線單晶與多晶衍射技術的區別

    衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的,因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底

    非衍射X射線光譜儀的簡介

    中文名稱非衍射X射線光譜儀英文名稱nondiffraction X-ray spectrometer定  義一種不采用衍射原理的X射線光譜儀。它的檢測器輸出信號或與X射線光子能量有關或與試樣對X射線的選擇吸收有關。應用學科機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析

    x射線衍射和xrd的區別

    XRD即X-ray diffraction的縮寫,中文翻譯是X射線衍射,通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。用于確定晶體結構,其中晶體結構導致入射X射線束衍射到許多特定方向。X射線是一種波長很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質,并能

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