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真空低溫電學測試探針臺是一種用于材料科學領域的電子測量儀器，于2019年7月9日啟用。 主要功能 低溫探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，進行材料的凝聚態物理、磁學、低溫物理、半導體物理、自旋電子學、超導材料、顯示屏技術、分子磁體材料、磁光材料、磁電阻材料、稀磁半導體材料、納米晶磁性材料、稀土永磁材料、磁流體、生物磁性材料、太陽能電池、透明氧化物半導體、光電和熱電材料、能量轉換器件、有機電子器件、納米管、納米線、量子阱、有機/聚合物/分子材料的低溫測試。......閱讀全文
真空低溫電學測試探針臺是一種用于材料科學領域的電子測量儀器，于2019年7月9日啟用。 主要功能 低溫探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，進行材料的凝聚態物理、磁學、低溫物理、半導體物理、自旋電子學、超導材料、顯示屏技
1、溫度范圍：80 K-475 K； 2、制冷形式：采用液氮制冷； 3、循環時間：小于2.5小時； 4、4個直流探針臂，用來做電學實驗，可進行直流到50 MHz的電學測量； 5、探針臂的可移動距離X方向51 mm； 6、*在一個探針臂上安裝溫度計，可方便實時監測探針溫度，準確判斷系統是
高低溫真空微波探針臺是一種用于電子與通信技術領域的工藝試驗儀器，于2016年10月16日啟用。 技術指標 1、六個探針臂接口，可以安裝六個探針臂。2、一個CF40 真空抽氣口，一個快速破真空進氣口。3、載物Chuck 溫度范圍：4K-500K ；CF法蘭接口，系統極限真空優于5*10-6Pa
可進行真空環境下的高低溫測試（4.2K~500K），可升級加載磁場，低溫防輻射屏設計，樣品臺采用高純度無氧銅制作，溫度均勻性更好，溫度傳感器采用有著良好穩定性和重復性的PT100或者標定過的硅二極管作為測溫裝置，支持光纖光譜特性測試，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動，器件的高頻特性(支持高67GHz
1.集成電路失效分析 2.晶圓可靠性認證 3.元器件特性量測 4.塑性過程測試(材料特性分析) 5.制程監控 6.IC封裝階段打線品質測試 7.液晶面板的特性測試 8.印刷線路板的電性測試 9.低噪音/低電流測試 10.微波量測(高頻) 11.太陽能電池領域檢測分析 12.
磁場低溫探針臺是一種用于物理學領域的計量儀器，于2017年3月6日啟用。 技術指標 1、 ±2.5T垂直磁場 2、 10K基礎溫度，溫度范圍：10K-500K 3、 制冷方式：閉循環制冷，不需要消耗液氦 4、 控溫穩定性：優于±200mK 5、 探針臂X方向可移動距離不小于51mm
通過和外接的測試儀器4156C以及溫度控制設備TP03000A的連接，組成一個測試平臺，完成對器件封裝前的電性能測試（電阻，C/V,擊穿特性等）。
晶圓測試是在半導體器件制造過程中執行的一個步驟。在此步驟中，在將晶圓送至芯片準備之前執行，晶圓上存在的所有單個集成電路都通過對其應用特殊測試模式來測試功能缺陷。晶圓測試由稱為晶圓探針器的測試設備執行。晶圓測試過程可以通過多種方式進行引用：晶圓最終測試 (WFT)、電子芯片分類 (EDS) 和電路
靜電力EFM是從輕敲模式AFM發展而來的細分成像模式，可以對樣品表面的電場分布進行掃描。它采用兩次掃描的方法，第一次掃描（主掃描， Main Scan）采用輕敲模式獲得表面形貌，第二次掃描（Interleave掃描，Interleave Scan）將探針抬起
靜電力EFM是從輕敲模式AFM發展而來的細分成像模式，可以對樣品表面的電場分布進行掃描。它采用兩次掃描的方法，第一次掃描（主掃描， Main Scan）采用輕敲模式獲得表面形貌，第二次掃描（Interleave掃描，Interleave Scan）將探針抬起一定高度，并給探針施加一個偏壓，利用第一次