掃描電鏡分辨率
分辨率指能分辨的兩點之間的最小距離。分辨率d可以用貝克公式表示：d=0.61l/nsina ，a為透鏡孔徑半角，l為照明樣品的光波長，n為透鏡與樣品間介質折射率。對光學顯微鏡 a＝70°－75°，n=1.4。因為 nsina<1.4，而可見光波長范圍為： 400nm-700nm="" 0.5l="" d="">200nm。要提高分辨率可以通過減小照明波長來實現。SEM是用電子束照射樣品，電子束是一種De Broglie波，具有波粒二相性，l＝12.26/V0.5(伏) ，如果V＝20kV時，則l＝0.0085nm。目前用W燈絲的SEM，分辨率已達到3nm-6nm, 場發射源SEM分辨率可達到1nm 。高分辨率的電子束直徑要小，分辨率與子束直徑近似相等。 影響掃描電鏡的分辨率的主要因素有： 1.入射電子束束斑直徑：為掃描電鏡分辨率的極限。一般，熱陰極電......閱讀全文
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡“弱視”，
對材料微觀結構的觀測離不開“微觀相機”——掃描電子顯微鏡，一種高端的電子光學儀器，它被廣泛地應用于材料、生物、醫學、冶金、化學和半導體等各個研究領域和工業部門。? ??“比如，在材料科學領域，它是非常基礎的科研儀器，毫不夸張地說，材料領域70%—80%的文章都要用到掃描電鏡提供的信息。”中國科學院上
掃描電鏡原理
掃描電子顯微鏡的設計思想和工作原理，早在1935年便已被提出來了。1942年，英國首先制成一臺實驗室用的掃描電鏡，但由于成像的分辨率很差，照相時間太長，所以實用價值不大。經過各國科學工作者的努力，尤其是隨著電子工業技術水平的不斷發展，到1956年開始生產商品掃描電鏡。近數十年來，掃描電鏡已廣泛地應
掃描電鏡技術
掃描電鏡技術 掃描電鏡是用極細的電子束在樣品表面掃描，將產生的二次電子用特制的探測器收集，形成電信號運送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。(細胞、組織)表面的立體構像，可攝制成照片。?掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定，經脫水和臨界點干燥后,再于樣品表面噴鍍薄層金膜，以增加二波電子數。?電子顯微鏡下的纖維
掃描電鏡簡介
掃描電子顯微鏡 (scanning electron microscope, SEM) 是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及
掃描電鏡介紹
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器。由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。??掃描電鏡的制造是依據電子與
掃描電鏡組成
儀器的組成? 1、?掃描電鏡的組成? ????掃描電子顯微鏡由電子光學系統、信號檢測和放大系統、掃描系統、圖像顯示和記錄系統、電源系統和真空—冷卻水系統組成。?2、?X射線能譜儀的儀器結構? ????X射線能譜儀由半導體探測器、前置放大器、主放大器、脈沖堆積排除器、模擬識數字轉換器、多道分析器、計算
掃描電鏡介紹
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器。由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。??掃描電鏡的制造是依據電子與
掃描電鏡介紹
?掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器。由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。??掃描電鏡的制造是依據電子
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
冷場掃描電鏡和熱場掃描電鏡的區別
冷場：做完測試關燈絲，需要做Cleaning，燈絲束流亮度較低，成像質量較好，不適合做EDS。熱場：燈絲常亮，不需要清潔維護，燈絲亮度高，成像效果較好（相同等級的熱場FESEM成像效果略遜色于冷場FESEM），EDS效果遠優于冷場。
冷場掃描電鏡和熱場掃描電鏡的區別
冷場：做完測試關燈絲，需要做Cleaning，燈絲束流亮度較低，成像質量較好，不適合做EDS。 熱場：燈絲常亮，不需要清潔維護，燈絲亮度高，成像效果較好（相同等級的熱場FESEM成像效果略遜色于冷場FESEM），EDS效果遠優于冷場。
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
掃描式電子顯微鏡，其系統設計由上而下，由電子槍 (Electron Gun) 發射電子束，經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)后，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (Obje
場發射掃描電鏡和普通掃描電鏡的區別
有冷場發射的和熱場發射的，還有環掃。場發射的分辨率較高，達到1nm 環掃達3?4nm,樣品室比較大，景深大，可做斷口和有污染的樣品，電子束流達，可信度高。
冷場掃描電鏡和熱場掃描電鏡的區別
掃描式電子顯微鏡，其系統設計由上而下，由電子槍 (Electron Gun) 發射電子束，經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)后，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (O
掃描電鏡對比以及掃描電鏡基礎知識點
掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器，被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。? 掃描電鏡對比以及掃描電鏡基礎知識點? 圖1.掃描電子顯微鏡外觀圖? 一、特點? 制樣簡單、放大倍數可調范
掃描電鏡廠家講述掃描電鏡測樣，須注意什么？
1.對試樣的要求：試樣可以是塊狀或粉末顆粒，在真空中保持穩定，含有水分的試樣應先烘干除去水分，或使用臨界點干燥設備進行處理。表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結構的前提下進行適當清洗，然后烘干。新斷開的斷口或斷面，一般不需要進行處理，以免破壞斷口或表面的結構狀態。有些試樣的表面、斷口需要進行適當
掃描電鏡的優點
掃描電鏡的優點①有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③試樣制備簡單。電鏡掃描下的面包霉菌
掃描電鏡觀察植物
植物樣品往往都要進行復雜的脫水處理過程——固定、脫水和臨界點干燥，即使這樣，樣品形狀還是會有一定的收縮。對于這個問題，一個潛在的解決方案是使用一個能夠控制溫度的樣品臺，將溫度設置在零下十幾或零下二十幾度，使得含水樣品迅速凝結成固體，然后在背散射模式下直接進行觀察。?SEM在植物科學領域的另一個應用是
掃描電鏡的特點
掃描電鏡的特點和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：(一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。(二) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。(四) 景深大，圖象富有立
掃描電鏡的特點
(1) 可以觀察直徑為0 ～ 30mm的大塊試樣(在半導體工業可以觀察更大直徑)，制樣方法簡單。(2) 場深大、三百倍于光學顯微鏡，適用于粗糙表面和斷口的分析觀察；圖像富有立體感、真實感、易于識別和解釋。(3) 放大倍數變化范圍大，一般為 15 ～ 200000 倍，對于多相、多組成的非均勻材料便于
掃描電鏡的限度
對低電壓操作的優點人們早已認識，但在常規掃描電鏡上選用小于3kV的加速電壓觀察樣品，圖像分辨率低，質量下降。其中主要限度是空間電荷效應、電子光學系統像差和雜散磁場的影響。(1)空間電荷效應空間電荷效應是指電子槍陰極附近的電子相互作用。在髪叉式三級電子槍中，空間電荷密布于陰極與柵極之間，并于陰極前產生
掃描電鏡技術解析
掃描電鏡（SEM）已經成為材料表征時所廣泛使用的強有力工具。而且因為不同應用中使用的材料尺寸都在不斷減小，這在近幾年尤其如此。本篇文章中，我們將描述掃描電鏡 SEM 的主要工作原理。顧名思義，電子顯微鏡使用電子成像，就像光學顯微鏡利用可見光成像。一臺成像設備的zui佳分辨率主要取決于介質的波長。由于