質譜干擾來源
質譜干擾1）多原子離子干擾多原子離子干擾是最常見的質譜干擾類型。這些離子，顧名思義是由兩個或更多的原子結合而成的短壽命的復合離子，其干擾來源為：等離子體/霧化所使用的氣體、溶劑/樣品的基體組分、樣品中其他元素離子或者是來自周圍環境氧氣/氮氣。例如：氬氣等離子體中，氬氣離子及氬氣離子與其他離子形成的復合離子是造成質譜干擾的常見形式。豐度最大的40Ar+對40Ca產生強烈干擾；而40Ar+與氧結合形成40Ar16O+，則明顯干擾56Fe。盡管目前有多重樣品引入技術，但目前大多數 ICP-MS采用溶液霧化法。因此，對于大多數樣品類型而言，樣品分解是常規分析必要的先決條件。樣品通常都用各種無機酸酸化或溶解。在此過程中，Ar同樣會與所使用的酸形成多原子離子干擾。多原子離子的形成程度還與儀器操作參數及樣品處理等有關，只要在樣品制備過程加以注意，只有少數的這種離子才會產生嚴重的干擾效應。而且，多原子離子干擾是可以預測的，可以根據基體類型推算出......閱讀全文
質譜干擾來源
質譜干擾1）多原子離子干擾多原子離子干擾是最常見的質譜干擾類型。這些離子，顧名思義是由兩個或更多的原子結合而成的短壽命的復合離子，其干擾來源為：等離子體/霧化所使用的氣體、溶劑/樣品的基體組分、樣品中其他元素離子或者是來自周圍環境氧氣/氮氣。例如：氬氣等離子體中，氬氣離子及氬氣離子與其他離子形成的復
質譜干擾離子
質譜儀種類很多，不同類型的質譜儀主要差別在于離子源。離子源的不同決定了對被測樣品的不同要求，同時，所得信息也不同。質譜儀的分辨率同樣十分重要，高分辨質譜儀可給出化合物的組成式，對于未知物定性至關重要。因此，在進行質譜分析前，要根據樣品狀況和分析要求選擇合適的質譜儀。 目前，有機質譜儀主要有兩大
質譜干擾離子
質譜儀種類很多，不同類型的質譜儀主要差別在于離子源。離子源的不同決定了對被測樣品的不同要求，同時，所得信息也不同。質譜儀的分辨率同樣十分重要，高分辨質譜儀可給出化合物的組成式，對于未知物定性至關重要。因此，在進行質譜分析前，要根據樣品狀況和分析要求選擇合適的質譜儀。 目前，
解決質譜干擾措施
解決質譜干擾目前，解決質譜干擾除了優化儀器條件(如RF電源、霧化器流速等)外，最常用的方法有：①測定前分離干擾元素；②數學校正法；③冷等離子技術及等離子體屏蔽技術；④碰撞/反應池技術。
質譜圖及其干擾
ICP-MS的圖譜非常簡單，容易解析和解釋。但是也不可避免地存在相應的干擾問題，主要包括質譜干擾和基體效應兩大類。9.3.3.1 質譜干擾當等離子體中離子種類與分析物離子具有相同的質荷比，即產生質譜干擾。質譜干擾主要有四種，即同量異位素干擾、多原子(或加合物)離子干擾、難熔氧化物離子干擾和雙電荷離子
ICPMS－的干擾——質譜干擾
質譜干擾 ICP-MS中質譜的干擾（同量異位素干擾）是預知的，而且其數量少于300個，分辨率為0.8amu的質譜儀不能將它們分辨開，例如58Ni?對58Fe、?40Ar對40Ca、?40Ar16O對56Fe或40Ar-Ar對80Se的干擾（質譜疊加）。元素校正方程式（與ICP-AES中干擾譜線校正相
解決質譜干擾的途徑
解決質譜干擾的途徑目前，解決質譜干擾除了優化儀器條件(如RF電源、霧化器流速等)外，最常用的方法有：①測定前分離干擾元素；②數學校正法；③冷等離子技術及等離子體屏蔽技術；④碰撞/反應池技術。
解決質譜干擾的方法
解決質譜干擾目前，解決質譜干擾除了優化儀器條件(如RF電源、霧化器流速等)外，最常用的方法有：①測定前分離干擾元素；②數學校正法；③冷等離子技術及等離子體屏蔽技術；④碰撞/反應池技術。
解決質譜干擾的方法有哪些？
解決質譜干擾的途徑目前，解決質譜干擾除了優化儀器條件(如RF電源、霧化器流速等)外，最常用的方法有：①測定前分離干擾元素；②數學校正法；③冷等離子技術及等離子體屏蔽技術；④碰撞/反應池技術。
質譜檢測mrm模式哪些離子干擾
正離子模式：[M+H]+、[M+NH4]+、[M+Na]+、[M+K]+、[2M+H]+等， 負離子模式：[M-H]-、[2M-H]-、[M+B]- （B是酸根離子）等。 負離子模式下也可以用甲酸或乙酸，流動相不用換。
X熒光中干擾譜線的來源及消除方法
在X射線光譜分析中,由于譜線之前互相干擾比較少,并且減少這種干擾的方法較多,在多數情況下譜線干擾現象不是影響分析結果的主要因素。但是在某些情況如稀土化合物中稀土元素的測定中,譜線重疊現象仍然是嚴重的。這種干擾,輕則影響強度的確定,增加分析線強度測量的統計誤差,降低分析元素的測定靈敏度;重則是某些分析
概述波長色散X射線光譜分析儀干擾譜線的來源
XRF分為波長色散和能量色散兩大分支，由于激發、色散和檢測方法不同，他們對譜線干擾的處理辦法有所不同。這里主要討論應用普通X光管激發的波長色散X射線光譜分析儀法中的譜線干擾問題。對于利用各種激發源的能散法，只作簡單比較。為區別兩種方法的譜線干擾，分為稱它們為波長干擾和能譜干擾。
氦質譜檢漏儀檢漏時的誤差來源有哪些
氦質譜檢漏是一種靈敏度很高且常用的檢漏技術。螺桿真空泵廠家已經介紹過氦質譜檢漏儀，這次我們來了解下氦質譜檢漏時的誤差來源有哪些，以便更好地降低或消除測量誤差。氦質譜檢漏時，產生測量誤差的主要來源主要包括8個方面：第一，氦質譜檢漏儀在校準靈敏度時，標準漏孔所在的位置與被檢漏孔的位置不同，即，標準漏孔與
電子電位差計的干擾來源
電子電位差計的干擾，來源于儀表的內部和外部。 1.內部的干擾主要是電子放大器中的震動變流器、輸入變壓器、電源變壓器等部件造成的， 2.外部的干擾主要是工業生產中大量使用電阻爐、感應爐等電器加熱爐，而作為儀表變送器使用的熱電偶，又與這些產生強電磁場的設備極為靠近。 3.此外，有時在儀表附近還
風速儀的干擾來源分析解讀
?? 風速儀的干擾來源有很多種，通常我們所說的干擾是電氣的干擾，但是在廣義上熱噪聲、溫度效應、化學效應、振動等都可能給測量帶來影響，產生干擾。在測量過程中，如果不能排除這些干擾的影響，儀表就不能夠正常的工作。根據儀表輸入端干擾的作用方式，可分為串模干擾和共模干擾。串模干擾是指疊加在被測信號上的干擾；
質譜及質譜的目的
質譜，是一種分析方法，原理就是讓帶電原子、分子或分子碎片按質荷比的大小順序排列，打出相應的譜線。待分析的樣品分子在離子源中離化成具有不同質量的單電行分子離子和碎片離子，這些單電荷離子在加速電場中獲得相同的動能并形成一束離子，進入由電場和磁場組成的分析器中；其中離子束中速度較慢的離子通過電場后編轉大，
氣體分析質譜質譜原理
? ? 質譜儀配備QuaderaTM 分析軟件, 操作簡單, 功能強大, 有128 個檢測通道，可生成用戶特殊應用軟件界面. 在參數設置, 多種實測方式, 譜庫, 數據統計, 譜圖放大, 光標, 輸入輸出模塊等性能的支持下, 可以更方便地進行定性定量分析以及在線離線分析.? ? ?Omnistar/
實驗室分析儀器電感耦合等離子體質譜質譜干擾
ICP-MS中的干擾可分為兩大類：“ 質譜干擾”和“非質譜于擾”或稱為“基體效應”。質譜干擾是 ICP-MS中見到的最嚴重的干擾類型，通常對分析物離子流測量結果產生正誤差。可進一步分為：同量異位素重疊干擾；多原子離子干擾；難熔氧化物干擾；雙電荷離子干擾。第二種類型的干擾大體可分為：抑制和增強效應；由
質譜
不同質荷比的離子經質量分析器分離，而后被檢測并記錄下來的譜圖叫作質譜圖。簡稱質譜。質譜圖的橫坐標是質荷比(m/z) ，縱坐標是離子強度；質譜法(Mass Spectrometry) 即質譜分析法， 一般亦簡稱為質譜；質譜計(Mass Spectrometer): 采用順次記錄各種質荷比離子的強度的方
磷脂質的食物來源
磷脂存在于所有動、植物的細胞內。在植物中則主要分布在種子、堅果及谷物中。雞蛋黃和大豆中含有豐富的磷脂。其他植物如玉米、棉籽、菜籽、花生、葵花籽中含有一定量磷脂，不少的研究報道，只是由于含量相對較低，且在國外的油料加工中規模不及大豆，作為副產品就比較少見。
什么是質譜及質譜圖
質譜（又叫質譜法）是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜法在一次分析中可提供豐富的結構信息，將分離技術與質譜法相結合是分離科學方法中的一項突破性進展。在眾多的分析測試方法中，質譜學方法被認為是一種同時具備高特異性
實驗室分析儀器電感耦合等離子體質譜非質譜干擾
一、抑制或增強型干擾空間電荷效應是 ICP-MS中的基體干擾干擾主要原因。通常表現為分析信號的受到抑制或增強。?在等離子體和超聲射流中，離子電流被相等的電子流所平衡，因此，整個離子束基本上呈現出電中性。而當離子束離開截取錐后，由透鏡建立起的電場將收集離子而排斥電子。以使離子被束縛在一個很窄的離子束中
ICPMS可能的干擾來源有哪些
樣品基體，等離子氣體， 溶液都是干擾來源。要消除干擾，先要辨別是哪種干擾？一般都是通過tunning，碰撞/反應池模式來去除。
ICPMS可能的干擾來源有哪些
樣品基體，等離子氣體， 溶液都是干擾來源。要消除干擾，先要辨別是哪種干擾？一般都是通過tunning，碰撞/反應池模式來去除。
局部放電檢測試驗干擾的來源
廣義的局放干擾是指除了與局放信號一起通過電流傳感器進入局部放電檢測儀及監測系統的干擾以外，還包括影響監測系統本身的干擾，諸如接地、屏蔽、以及電路處理不當所造成的干擾等。現場局部放電檢測干擾特指前者，它可分為連續的周期型干擾、脈沖型干擾和白噪聲。周期型干擾包括系統高次諧波、載波通訊以及無線電通訊等。脈
打質譜打質譜！你知道質譜究竟為何物嗎？
隨著質譜技術的日新月異的進步，作為研究科研的有利工具，也越來越受到大家的親睞和歡迎，其中在各類組學中的廣泛應用也會各類質譜儀器的選擇密不可分，那對于組學中常用的儀器你了解多少，對于其區別和優勢有是否清楚，今天我們就主要講一講質譜哪些事兒。 那我們先吊一下書袋子， 什么叫質譜
打質譜打質譜！你知道質譜究竟為何物嗎？
隨著質譜技術的日新月異的進步，作為研究科研的有利工具，也越來越受到大家的親睞和歡迎，其中在各類組學中的廣泛應用也會各類質譜儀器的選擇密不可分，那對于組學中常用的儀器你了解多少，對于其區別和優勢有是否清楚，今天我們就主要講一講質譜哪些事兒。 那我們先吊一下書袋子， 什么叫質譜？質譜（又叫質譜法）
dart質譜和maldi質譜的區別
這個叫做secondary ion mass spectrometry。用在固體分析的多一些。通常直接用粒子束轟擊固體表面，然后固體表面會被“離子化”，采集然后分析這些離子稱為二次離子質譜法。舉個例子，你用DART離子源發射離子到表面，然后生成離子，之后再分析就是二次離子質譜分析。但是如果你用MAL
質譜介紹及質譜圖的解析
質譜法是將被測物質離子化，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜——質譜，利用這一性質，可以進行定性分析（包括分子質量和相關結構信息）；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量分析。質譜儀一般由四部分組成：進
質譜介紹及質譜圖的解析
質譜法是將被測物質離子化，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜——質譜，利用這一性質，可以進行定性分析（包括分子質量和相關結構信息）；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量分析。質譜儀一般由四部分組成：進