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負離子熱表面電離質譜法是近年發展的質譜技術,可以用于金屬同位素年齡的研究,為年代學的研究提供了有力保障[19]。和ICP-MS 不同,該法是通過質譜對 待測元素的負離子進行測試的。由于元素形成負離子所需的能量較形成正離子的能量低很多,所以離子化率高,檢出限比ICP-MS低。 Creaser用NTIMS分析Re2Os 體系,他們的離子產率分別為:2 %～6 %(Os) , > 20 % (Re) ,檢出限達 pg/ml[20]。由于該法分析Re2Os 沒有同量異位干擾,不需要分離 Os和Re ,簡化了整個分析流程。盡管高純金屬多元素的分析越來越多地用等離子體質譜法測定,但是等離子體質譜法存在Os和Re 同位素的同量異位干擾問題,所以能精確測試 Os和Re 的NTIMS方法有不可取代的作用。......閱讀全文
負離子熱表面電離質譜法是近年發展的質譜技術,可以用于金屬同位素年齡的研究,為年代學的研究提供了有力保障[19]。和ICP-MS 不同,該法是通過質譜對 待測元素的負離子進行測試的。由于元素形成負離子所需的能量較形成正離子的能量低很多,所以離子化率高,檢出限比ICP-MS低。 Creaser用
熱電離質譜法（Thermal ionization mass spec-trometry，TIMS）是基于經分離純化的試樣在Re、Ta等高熔點的金屬帶表面上，通過高溫加熱產生熱致電離的一門質譜技術。主要應用于地球化學、宇宙化學及地質年代學等領域的高精度同位素比值的測定，也可應用于原子量測定及高精
鋨同位素在大陸巖石圈地幔定年、殼幔物質來源示蹤、金屬礦床定年、天體化學、環境演化以及核幔相互作用等領域中具有重要應用價值。鋨同位素分析最關鍵的技術進展是負離子熱電離質譜（NTIMS）鋨同位素測定方法的建立。由于NTIMS法測定的是OsO3-負離子，故需將OsO3-負離子的測定結果通過氧校正計算
背景介紹 一片晶圓從開始加工到出廠，涉及到數百個不同的工藝流程。因不同工藝所在車間的位置和設備檔期等原因，這些制程在地點和時間上并不是連續發生的，因此，晶圓在不同工藝設備之間的運輸和不定時長的‘排隊’是很難避免的。半導體行業內通常采用前開式晶圓運輸盒（FOUPs）來運送和臨時儲存晶圓。換句
Sr同位素是環境科學、水文地球化學研究重要的示蹤劑，通過測定不同水體儲庫中的Sr同位素比值(87Sr/86Sr)，有助于認識區域水文地球化學、流域盆地巖石風化速率、地下水的水巖作用等重要地球化學過程，因此Sr同位素在上述研究領域具有廣泛的應用前景。熱電離質譜儀（TIMS）是進行Sr同位素分析最準
電噴霧電離(electrospray ionization, ESI )電離源。質譜儀中較為常用的一種離子化方式。 電噴霧離子源屬于一種軟電離源,能使大質量的有機分子生成帶多電荷的離子,通常認為電噴霧可以用兩種機制來解釋。 （1）小分子帶電殘基機制：在噴針針頭與施加電壓的電極之間形成強電場,該電場使
想必所有的偵探小說迷都知道，提取和分析指紋真是一樁乏味且冗長的活計。如小說中描寫的那樣，嚴謹的法醫們揮著小刷子、在指紋上施粉、再粘上膠帶……即使對最為耐心細致的人，這都是一個不小的挑戰。不過現在，法醫們不必再像《犯罪現場鑒證》(CSI)中描繪的那樣，為辨識指紋焦頭爛額了。只需一個便攜式指紋分析器，
W同位素是開展地球早期演化和核幔相互作用研究的重要工具，近年來已獲重要研究進展。但是，開展地球樣品的W同位素示蹤研究具有挑戰性，對分析技術有較高要求，其原因是地球樣品的W同位素變化范圍小，只有獲取極高的W同位素比值測定精度，才能識別出不同樣品W同位素比值的微小差異，一般要求182W/184W分
近期，中國科學院合肥物質科學研究院醫學物理與技術中心光譜質譜研究室發展的基于光電離的負離子俘獲遷移譜技術，實現了對多種有機酸的檢測。此項工作發表在英國《皇家化學學會進展》（RSC Advances, DOI: 10.1039/C4RA10763B）上。該項技術既為離子遷移譜儀器新增了一種非放射
自從 PerkinElmer-SCIEX 公司于 1983 年商品化電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）以來，它就成為了發展快的痕量元素檢測技術，覆蓋了多個應用領域。隨著中心抽頭接地線圈的設計突破，我們克服了 ICP 源與質譜儀成功聯結的障礙，從而將等離子體電勢降至低，消除了等離子體與接地 MS