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    實驗室光學儀器X射線熒光光譜儀的檢測器的種類及原理

    X射線檢測器又稱探測器,是種能量轉換器,能對光子進行計數。在與光電子作用時,它可以儲存每次入射光子的全部能量。光子流越弱,檢測器工作的精度越高。目前常用的Ⅹ射線檢測器有氣體能量轉化器、半導體能量轉換器和閃爍計數器。 一、氣體能量轉化器氣體能量轉化器也稱充氣型正比計數器(gas proportion counter ,PC),分為氣流型和封閉型兩種,氣流型適用于輕元素的檢測,而封閉型常用于高原子序數的元素,探測波長較長。以波長色散譜儀為例,氣流型和封閉型充Xe氣的正比計數管常常串聯使用以提高Ti ~ Cu的K系線和La ~ W的L系線的靈敏度。氣流型正比計數管通常用90%氬氣和10%甲烷混合氣體,其中甲烷起猝滅作用。對于原子序數很低的元素也可以用96%氦氣和4%丁烷混合氣體。封閉型正比計數管則可分別充氖、氪和氙氣。二、閃爍計數器閃爍計數器適用于重元素的檢測。閃爍計數器結構是由一片用鉈激活的且密封于Be窗口的碘化鈉晶體和光......閱讀全文

    實驗室光學儀器--X射線熒光光譜儀的檢測器的種類及原理

    X射線檢測器又稱探測器,是種能量轉換器,能對光子進行計數。在與光電子作用時,它可以儲存每次入射光子的全部能量。光子流越弱,檢測器工作的精度越高。目前常用的Ⅹ射線檢測器有氣體能量轉化器、半導體能量轉換器和閃爍計數器。?一、氣體能量轉化器氣體能量轉化器也稱充氣型正比計數器(gas proportion

    實驗室光學儀器--X射線熒光光譜儀的的結構及原理

    記錄系統由放大器,脈沖高度分析器和記錄、顯示裝置組成。其中脈沖高度分析器是關鍵性部件。由檢測器將光信號轉換成電脈沖信號輸送到前置放大器,經前置放大器預放大后再送至主放大器,經放大后送入脈沖高度分析器,再顯示記錄或送入計算機。主放大器輸出的脈沖信號包括待測元素脈沖信號、噪聲及高次線脈沖信號。每一個電脈

    實驗室光學儀器--X射線熒光光譜儀的原理

    現代X射線熒光光譜儀已發展成一個大家族,可分為同步輻射X射線熒光光譜、質子X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、波長色散X射線熒光光譜和能量色散X射線熒光光譜等。同步輻射X射線熒光光譜、質子X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜基本上是用Si(Li)半導體探測器進行檢測的。波長色散X射線熒光光譜還可進

    實驗室光學儀器--X射線熒光光譜儀結構及原理

    一、分光晶體分光晶體是晶體分光系統的核心部件,為了獲得最佳的分析效果,晶體的選擇是十分重要的。分光晶體相當于光學光譜儀中棱鏡和光柵,X射線區域之所以不能使用棱鏡或光柵作為的分光單元,是因為X射線的波長短、能量大、穿透力強、幾乎不發生折射。晶體分光的原理是根據布拉格衍射定律2dsinθ=mλ,當波長為

    實驗室光學儀器--X射線熒光光譜儀的定性分析原理及步驟

    一、定性分析的基礎——Moseley定律X射線熒光的波長隨著原子序數的增加有規律地向波長變短方向移動。Moseley(莫塞萊)根據譜線移動規律,建立了X射線波長與元素原子序數的定律。數學表達式為:(1/λ)1/2=K(Z-S)其中,K , S為常數,隨不同譜線系列(K , L)而定;Z是原子序數。由

    實驗室光學儀器--X射線熒光光譜儀的優點

    ①由于不需要晶體及測角儀系統,檢測器的位置可以緊接樣品位置,接收幅度的立體角增大,檢測靈敏度可提高2~3個數量級。②不存在高次衍射譜線的干擾,可以一次同時測定樣品中幾乎所有的元素,分析物件不受限制。③能量色散X射線熒光光譜儀已發展成系列儀器,有便攜式或在線型、臺式和通用的高性能譜儀等三種類型。類型區

    實驗室光學儀器--X射線熒光光譜儀常用的熒光激發方法

    ?一、用放射性同位素源激發源激發是將少量的放射性同位素,如55Fe(鐵)、109Cd(鎘)等物質固封在密封的留有小孔的鉛罐中,連續發射出低能γ射線,經準直后照射到被測物質上產生X熒光。同位素源發出的X射線強度是非常穩定的,但是X射線強度小,能力分布不可調。優點:單色性好、信噪比高、體積小、重量輕。適

    X射線熒光光譜儀的原理

      X射線熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結果,結果準確度對某些樣品可以接近定量

    X射線熒光光譜儀的原理

    X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收

    X射線熒光光譜儀的原理

    X射線熒光的物理原理:當材料暴露在短波長X光檢查,或伽馬射線,其組成原子可能發生電離,如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢,足以驅逐內層軌道的電子,然而這使原子的電子結構不穩定,在外軌道的電子會“回補”進入低軌道,以填補遺留下來的洞。 在“回補”的過程會釋出多余的能源,光子能量是相等兩個軌道

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