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在高溫時,原子失去電子形成離子,使基態原子數目降低,吸光度下降,這種干擾稱為電離干擾。由于某些易電離的元素在火焰中發生電離,減少了參與原子吸收的基態原子數;反之,若火焰中存在能提供自由電子的其他易電離的元素,則使已電離的原子回到基態,使參與原子吸收的基態原子數增加。因此電離干擾對測定結果的影響有正負之分。原子在火焰中的電離度與火焰溫度和電離電位的關系用Saha公式表示: 式中,X為電離度;ρ為火焰氣體中金屬氣體的分壓;Vt為金屬原子的電離電位;T為熱力學溫度;B為常數。由此可知火焰溫度越高,元素的電離電位越低,電離度越大。電離干擾主要發生于電離電位較低的元素,如測定堿金屬,使用高溫火焰(如N2O-乙炔火焰)時,堿金屬和稀土元素也有顯著電離。某一元素的電離還與溶液的組成和它本身的濃度有關。原子在火焰中的電離可表示為 達平衡時 電離度定義為已電離的金屬正離子的濃度與該金屬的總濃度......閱讀全文
在高溫時,原子失去電子形成離子,使基態原子數目降低,吸光度下降,這種干擾稱為電離干擾。由于某些易電離的元素在火焰中發生電離,減少了參與原子吸收的基態原子數;反之,若火焰中存在能提供自由電子的其他易電離的元素,則使已電離的原子回到基態,使參與原子吸收的基態原子數增加。因此電離干擾對測定結果的影響有正負
背景是一種非原子吸收現象,多數人認為主要來自:(1)光散射(微固體顆粒引起)?火焰中的氣溶膠固體微粒存在,會使入射光發生散射,產生高于真實值的假吸收,使結果偏高。(2)分子吸收?分子吸收是指在原子化過程中生成的氣體分子、氧化物及鹽類分子對輻第三射吸收而引起的干擾,包括火焰的成分,如OH、CH、NH、
物理干擾是指溶質和溶劑的物理特性發生變化引起吸光度下降的效應,主要指由于液的黏度、表面張力、密度等的差異引起的霧化效率、溶劑和溶質的蒸發速率等變化而造成的干擾。含有大量的基體元素及其他鹽類或酸類也影響到溶液的物理性質(產生基體效應也會產生干擾。物理干擾是非選擇性干擾。?消除物理干擾的方法有:①避免使
待測元素與其他組分之間的化學作用引起的干擾效應即為化學干擾。例如,待測元素與些物質形成高熔點、難揮發、難離解的化合物,導致吸光度下降,甚至使測定不能進行。主要來自陽離子和陰離子干擾,陽離子往往在一定溫度下,生成難熔混晶體或形成難原子化的化合物(或氧化物),如Ti、Al、Si對Ca、Mg、Sr、Ba產
光譜干擾主要來自吸收線重疊干擾,以及在光譜通帶內多于一條吸收線和在光譜通帶內存在光源發射的非吸收線等。(1)吸收線重疊干擾?原子吸收光譜分析中吸收線重疊干擾比發射光譜要小得多。當被測元素中含有吸收線重疊的兩種元素時,無論測定哪一種元素都將產生干擾,Co?253.649nm對Hg?253.652mm的
物理干擾 ?????物理干擾是指試液與標準溶液物理性質有差異而產生的干擾。如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化，影響樣品的霧化和氣溶膠到達火焰傳送等引起原子吸收強度的變化而引起的干擾。 ????消除辦法：配制與被測試樣組成相近的標準溶液或采用標準加入法。若試樣溶液的濃度高，還可采用稀釋法。
原子吸收光譜法的主要干擾有物理干擾、化學干擾、電離干擾、光譜干擾和背景干擾等。一、物理干擾?????物理干擾是指試液與標準溶液物理性質有差異而產生的干擾。如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化，影響樣品的霧化和氣溶膠到達火焰傳送等引起原子吸收強度的變化而引起的干擾。????消除辦法：配制與被測試樣組成
原子吸收光譜法的主要干擾有物理干擾、化學干擾、電離干擾、光譜干擾和背景干擾等。一、物理干擾?????物理干擾是指試液與標準溶液?物理性質有差異而產生的干擾。如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化，影響樣品的霧化和氣溶膠到達火焰傳送等引起原子吸收強度的變化而引起的干擾。????消除辦法：配制與被測試樣組
一. 光譜干擾 1. 在測定波長附近有單色器不能分離的待測元素的鄰近線 ——減小狹縫寬度 2. 燈內有單色器不能分離的非待測元素的輻射 ——高純元素燈 3. 待測元素分析線可能與共存元素吸收線十分接近——另選分析線或化學分離 二. 電離干擾 待測元素在高溫原子化過程中因電離作用而
電離干擾的原理是:有些元素的基態電子在高溫條件下會發生電離,形成電子與正離子,干擾的程度主要受火焰的溫度和元素的電離電位的影響。針對這些特征,消除原子吸收方法中的電離干擾也應從火焰溫度和電離性入手。首先,不同元素的電離電位是有差異的,而電離電位的高低則象征著原子電離的難易程度,即電離電位越低,越容易