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系統誤差（systematic error）對同一測量物的測量過程中保持不變或以可以預見的方式變化的誤差分量。它是獨立于測量次數的，不能在相同的測量條件下通過增加測量次數的方法使之減小。但是，可以根據對產生誤差的原因分析，用已知的相關因子進行校正來消除系統誤差。......閱讀全文
系統誤差（systematic error）對同一測量物的測量過程中保持不變或以可以預見的方式變化的誤差分量。它是獨立于測量次數的，不能在相同的測量條件下通過增加測量次數的方法使之減小。但是，可以根據對產生誤差的原因分析，用已知的相關因子進行校正來消除系統誤差。
峰匹配測量法（peak matching measurement）一種測定離子精確質量的方法。精度可達（110）×10-6根據扇形磁質譜儀的基本公式:m/z＝KB21V，當B2不變時，質量分別為m1和m2的兩個離子有如下關系:m1:m2＝V1:V2。在離子接收狹縫前裝上一對偏轉電極，并在電極上加一個
同位素稀釋法（isotope dilution method）采用同位素稀釋進行定量分析的方法。如在含有自然豐度的某元素未知濃度溶液中，加入該元素已知豐度的定量濃縮同位素或貧化同位素溶液，等待兩種溶液均勻混合，通過待測樣品、混合溶液的同位素豐度質譜法測量，根據待測、濃縮和混合溶液中的同位素豐度和所加
質譜（mass spectra mass spectrum）按照被測體質量大小排序的譜線。
同位素示蹤法（isotope tracer method）用同位素作為示蹤劑來觀察和研究生命體，或物體中某一物質行為的方法。
質譜圖（mass spectrogram）質譜測定結果經計算機處理統計后，以棒狀圖（或數據列表形式）表示的譜圖。它是二維圖譜，橫坐標表示離子的質荷比（m/z），對于單電荷的離子，電荷數z＝1，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把被記錄的各個質量數的離子峰
質荷比（mass charge ratio，m/z）離子質量（以相對原子質量為單位）與它所帶電荷（以電子電量為單位）的比值。
本底（background）是指在測量條件下，當欲測量樣品的離子還未抵達接收器時，探測器所記錄的電信號。通常“本底”由儀器的記憶效應、殘存氣體分子離子、儀器噪聲和零點漂移等信號組成。
質譜法（ mass spectrometry，MS）亦稱質譜學（ mass spectroscopy），采用不同離子化方式，將待測物電離形成帶電離子，離子按質荷比m/z分離、檢測的方法。質譜法是實現原子（分子）質量測定，同位素分離、分析，物質結構鑒定以及氣相離子化學基礎研究的譜學方法。作為一種檢測手
誤差（error）測量結果減去被測量的“真值”之差。由于真值不能確定，實際上用的是約定真值。誤差是一個單個數值，原則上已知誤差可以用來修正測量結果；通常認為誤差含有兩個分量，即隨機分量和系統分量，分別稱為隨機誤差和系統誤差。