質譜分析法術語元素
元素（element）不能用化學分解方法再分成更簡單組分的基本物質，也可以把元素理解為組成分子的基本單元。......閱讀全文
質譜分析法術語電離效率
電離效率（ionization efficiency）電離效率泛指在特定環境下，經電離生成的原子離子數與進入電離區預測量樣品原子總數之比，電離效率的高低取決于所采用的電離方法、電離機制和電離時的相關參數。
質譜分析法術語表面電離
表面電離（surface ionization，SI）原子或分子與熾熱的固體表面相互作用實現離子化。樣品涂覆在金屬表面，當加熱金屬表面時樣品受熱蒸發，蒸發出的原子（或分子）大部分飛離金屬表面，一部分與熱金屬表面直接作用形成離子的過程即表面電離。樣品受熱激發釋放電子形成正離子稱其為正熱電離；樣品吸收電
質譜分析法術語絕對測量
絕對測量（ absolute measurement）絕對測量泛指不依賴任何參照物，在測量過程中有效消除儀器系統誤差，給出具有不確定度測量值的方法。絕對測量值的不確定度依賴于樣品制備、消除儀器系統誤差等系列操作產生的誤差分量和儀器測量精度。
質譜分析法術語原子量
原子量（atomic weightrelative atomic weight）是該元素所含各穩定性同位素以碳-12的原子質量作為標準計算的原子質量的加權平均值。
質譜分析法術語表面電離質譜法
表面電離質譜法（surface ionization mass spectrometry）熱電離質譜法的一種，將預測量樣品涂覆在高熔點、高功函數的金屬帶表面或金屬絲表面，借助通過帶或絲的電流產生的高溫而電離，電離生成的離子進入質量分析器進行分離和測量。
質譜分析法術語隨機誤差
隨機誤差（random error）在測試過程中因隨機因素作用產生的具有抵償性的誤差稱為隨機誤差。隨機誤差遵循統計規律，隨著測量次數增加逐漸降低；理論上當測量次數足夠多時，隨機誤差的平均值趨向于零。
質譜分析法術語系統誤差
系統誤差（systematic error）對同一測量物的測量過程中保持不變或以可以預見的方式變化的誤差分量。它是獨立于測量次數的，不能在相同的測量條件下通過增加測量次數的方法使之減小。但是，可以根據對產生誤差的原因分析，用已知的相關因子進行校正來消除系統誤差。
質譜分析法術語同位素
同位素（isotope）質子數Z相同，即原子序數相同，中子數N不同，在元素周期表中占有同一位置的核素稱作同位素，同位素的化學性質相似，物理性質不同。
質譜分析法術語磁場掃描
磁場掃描（magnetic field scan）以一定速度運動的離子進入磁場后，其運動行為可以用下式描述：式中，m是離子質量；z是電荷；V是離子加速電壓；B是磁場強度；r是離子運動圓周半徑。當加速電壓V和半徑r固定時，改變磁場強度可獲得不同mz的離子運動軌跡，稱為磁場掃描。大氣壓電離（atmosp
質譜分析法術語標準偏差
標準偏差（standard deviation，SD）表征測定值離散性的一個特征參數。從總體抽取容量為n的樣本進行重復測定，由所測得的n次測定值計算得出，以S表示。其特點:①全部測定值都參與標準偏差的計算，充分利用了得到的所有信息②對一組測定值中離散性大的測定值反應靈敏，當一組測量中出現離散性大的測
質譜分析法術語非彈性碰撞
非彈性碰撞（inelastic collision）在離子與原子或離子與分子發生碰撞時，離子不僅僅改變了運動方向，而且離子與這些粒子還發生能量交換，這類碰撞就稱為非彈性碰撞。
質譜分析法術語精確質量測定
精確質量測定（ exact mass measurement）以12C的質量12.00000000標準，采用高分辨質譜儀準確地測定元素（或核素）質量的方法，稱精確質量測定。
質譜分析法術語靈敏度
靈敏度（sensibility）質譜儀的靈敏度通常用原子離子的轉換效率來定義，即用接收器接收到的離子數去除以進入離子源電離區域的樣品原子總數之比的百分數；質譜儀的絕對靈敏度通常用接收器檢測到的離子最小量度量；定量測量方法的靈敏度記為方法流程空白值標準偏差的3倍。取決于離子源的電離效率，離子在離子源、
質譜分析法術語質量數
質量數（mass number）這里指特定原子的整數質量數，該原子原子核的質子和中子之和計算，無量綱。
質譜分析法術語負離子電離
負離子電離（negative ion ionization，NII）對于具有電子親和力比較大的元素捕獲一個電子可生成負離子，這種離子化的方法稱為負離子電離法。
質譜分析法術語質量范圍
質量范圍（mass range）質譜儀能夠測量的原子質量的范圍，或能夠測量的分子的分子量范圍，單位為質量單位。
質譜分析法術語光致電離
光致電離（photo ionization，PI）亦稱光誘導電離（photo-induced- ionization），用光照射樣品分子，使樣品分子吸收能量而實現離子化的方法。在各種光源中，激光具有高能、單色、易于調制、可聚焦成激光微束等特點。當使用激光為離子化光源時，稱為激光電離（laser io
質譜分析法術語靜態真空質譜法
靜態真空質譜法（static vacuum mass spectrometry，SVMS）當進行樣品分析時，質譜儀的分析系統處于靜態真空，即在離子源、分析器和接收器恒定真空狀態下測量，稱之為靜態真空質譜法。靜態真空質譜法主要應用于惰性氣體同位素分析，故也稱為惰性氣體質譜法（inert gas mas
質譜分析法術語離子化
離子化（ionization）或稱為電離。指中性原子或分子失去電子或捕獲電子生成離子的過程。在質譜分析中，指氣相、液相、固相樣品的原子、分子變為氣態的正離子或負離子的過程。
質譜分析法術語不確定度
不確定度（uncertainty）是表征合理地賦予被測量之值的分散性，與測量結果相關的參數。
質譜分析法術語場致電離
場致電離（field ionization，FI）將金屬絲或金屬針加上高電壓，形成107～108V/cm的高場強，氣態的樣品分子在強電場作用下失去電子生成分子離子，分子離子的能量為12～13eV，適用于可以氣化的有機化合物的離子化，是一種溫和的“軟”電離方式。
質譜分析法術語基體校正
基體校正（matrix correction）克服基體效應的一組操作稱作基體校正。
質譜分析法術語多電荷離子
多電荷離子（multiple charged ion）帶有兩個以上電荷的離子，通常多電荷離子具有非整數質荷比，出現在質譜圖的分數質量上，形成“本底”。
質譜分析法術語火花源質譜法
火花源質譜法（spark source mass spectrometry，SSMS）采用火花源質譜儀對被測成分（元素、同位素）進行定性、半定量和定量分析的質譜方法。該法電離效率高，幾乎能使所有被測成分電離，且對所有元素有大致相同的電離效率，實現多元素同時檢測，曾經是高純材料、痕量雜質測量的有效方法
質譜分析法術語原子量
原子量（atomic weightrelative atomic weight）是該元素所含各穩定性同位素以碳-12的原子質量作為標準計算的原子質量的加權平均值。
質譜分析法術語電離效率曲線
電離效率曲線（ionization efficiency curve）特定離子的離子流強度隨提供的能量大小變化的曲線。
質譜分析法術語電離能
電離能（ionization energyionization potential）亦稱電離電位（ionization potential）。當原子獲得足夠大的能量，其一個或某些外層電子脫離該原子核的作用力范圍，成為自由電子，這時原子由于失去電子成為離子，這種現象稱為電離。為使原子發生電離所需的能量
質譜分析法術語基體效應
基體效應（matrix effects）試樣的基本化學組成和物理化學狀態的變化對待測元素定量分析結果所造成的影響。基體效應包括改變被測元素的蒸發特性，元素分子的不完全解離，已原子化的原子重新復合，被測元素以分子形式逃逸測量區，以及大量基體分子存在造成的散射及對分析譜線的吸收等影響。
質譜分析法術語分辨率
分辨率（resolution ratioresolving power）。或稱分辨本領（resolving power）定義為質譜儀可分辨相鄰兩個質譜峰的能力，廣義以R＝M/△M來度量。M為可分辨兩個質譜峰的質量平均值，△M為可分辨的兩個質譜峰的質量差。實際上，可分辨的兩個質譜峰允許有一定重疊，使用
質譜分析法術語精密度
精密度（precision）或稱精度。定義為在規定條件下所獲得的獨立測量結果之間的一致程度。在理解精密度的定義時，應該充分注意以下要點:精密度只取決于隨機誤差的分布，而與真值或規定值無關；精密度的度量通常用不精密度術語表示，并計成測量結果的標準偏差（standard deviation， SD）