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    掃描探針顯微鏡的應用

    SPM的應用領域是寬廣的。無論是物理、化學、生物、醫學等基礎學科,還是材料、微電子等應用學科都有它的用武之地。SPM的價格相對于電子顯微鏡等大型儀器來講是較低的。同其它表面分析技術相比,SPM 有著諸多優勢,不僅可以得到高分辨率的表面成像,與其他類型的顯微鏡相比(光學顯微鏡,電子顯微鏡)相比,SPM掃描成像的一個巨大的優點是可以成三維的樣品表面圖像,還可對材料的各種不同性質進行研究。同時,SPM 正在向著更高的目標發展, 即它不僅作為一種測量分析工具,而且還要成為一種加工工具, 也將使人們有能力在極小的尺度上對物質進行改性、重組、再造.SPM 對人們認識世界和改造世界的能力將起著極大的促進作用。同時受制其定量化分析的不足,因此SPM 的計量化也是人們正在致力于研究的另一重要方向,這對于半導體工業和超精密加工技術來說有著非同一般的意義掃描隧道顯微鏡(STM)在化學中的應用研究雖然只進行了幾年,但涉及的范圍已極為廣泛。因為掃描隧道顯......閱讀全文

    掃描探針顯微鏡的應用

      目前掃描探針顯微鏡中最為廣泛使用管狀壓電掃描器的垂直方向伸縮范圍比平面掃描范圍一般要小一個數量級,掃描時掃描器隨樣品表面起伏而伸縮,如果被測樣品表面的起伏超出了掃描器的伸縮范圍,則會導致系統無法正常甚至損壞探針。因此,掃描探針顯微鏡對樣品表面的粗糙度有較高的要求;   由于系統是通過檢測探針

    掃描探針顯微鏡的應用

    SPM的應用領域是寬廣的。無論是物理、化學、生物、醫學等基礎學科,還是材料、微電子等應用學科都有它的用武之地。SPM的價格相對于電子顯微鏡等大型儀器來講是較低的。同其它表面分析技術相比,SPM 有著諸多優勢,不僅可以得到高分辨率的表面成像,與其他類型的顯微鏡相比(光學顯微鏡,電子顯微鏡)相比,SPM

    掃描探針顯微鏡廣泛的應用

    ? ? ? ? SPM的應用領域是寬廣的。無論是物理、化學、生物、醫學等基礎學科,還是材料、微電子等應用學科都有它的用武之地。? ? ?SPM的價格相對于電子顯微鏡等大型儀器來講是較低的。? ? ?同其它表面分析技術相比,SPM 有著諸多優勢,不僅可以得到高分辨率的表面成像,與其他類型的顯微鏡相比(

    掃描探針顯微鏡的應用領域

    掃描探針顯微鏡用于單原子操縱:  1959年美國物理學會年會上,諾貝爾物理獎獲得者Richard說:“如果我們能夠按自己的意愿排列原子,將會出現何物?這些物質的性質如何?雖然這個問題我們現在不能回答,但我決不懷疑我們能在如此小的尺寸上操縱原子。”目前,Richard的設想可以實現了。  使用掃描隧道

    掃描探針顯微鏡和掃描探針顯微鏡的光軸調整方法

    掃描探針顯微鏡和掃描探針顯微鏡的光軸調整方法。提供能夠使用配置于掃描探針顯微鏡的物鏡來自動地進行光杠桿的光軸調整的掃描探針顯微鏡和其光軸調整方法。是一種掃描探針顯微鏡(100),所述掃描探針顯微鏡(100)具備:懸臂支承部(11),以規定的安裝角(θ)安裝懸臂(4);移動機構(21),對懸臂的位置進

    掃描探針顯微鏡的性能及應用研究

    掃描探針顯微鏡是一種強有力的表面分析儀器,它主要包括掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM).敲擊模式的AFM更是被廣泛地用來研究各種材料的表面及微觀結構.但是由于敲擊模式工作原理的復雜性,為了得到真實的樣品結構,就必須選擇合適的掃描參數.該文用敲擊模式AFM研究了不同材料的微觀結構,研究

    掃描探針顯微鏡及掃描方法

    掃描探針顯微鏡和掃描方法,其能減小或避免因探針尖與樣品碰撞而造成的損害,縮短測量時間,提高生產力和測量精確度,不受粘附水層的影響收集樣品表面的觀測數據,如形貌數據。顯微鏡具有振動探針尖的振動單元、探針尖與樣品表面接近或接觸時收集觀測數據的觀測單元、探針尖與樣品表面接近或接觸時檢測探針尖振動狀態變化的

    掃描探針顯微鏡的原理

    掃描電子顯微鏡的原理是由最上邊電子槍發射出來的電子束,經柵極聚焦后,在加速電壓作用下,經過二至三個電磁透鏡所組成的電子光學系統,電子束會聚成一個細的電子束聚焦在樣品表面。在末級透鏡上邊裝有掃描線圈,在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。由于高能電子束與樣品物質的交互作用,結果產生了各種信息:二次電子、

    掃描探針顯微鏡的優勢

      SPM作為新型的顯微工具與以往的各種顯微鏡和分析儀器相比有著其明顯的優勢:  首先,SPM具有極高的分辨率。它可以輕易的“看到”原子,這是一般顯微鏡甚至電子顯微鏡所難以達到的。  其次,SPM得到的是實時的、真實的樣品表面的高分辨率圖像。而不同于某些分析儀器是通過間接的或計算的方法來推算樣品的表

    掃描探針顯微鏡簡介

      掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM,磁力顯微鏡MFM等等)的統稱,是國際上近年發展起來的表面分析儀器,是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號

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