蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯系人：張筱沛（010-6270000,18200000000,zxpei@mail.tsinghua.edu.cn）付惟琛（010-62771133,13552241797,875678734@qq.com）劉興濤（010-62795910,13910534338,liuxingtao@tsinghua.edu.cn）分類標簽：形貌 元素分析 掃描 形貌觀察 掃描電鏡 場發射掃描電鏡 場發射 顯微鏡 SEM 能譜 EDS技術指標：加速電壓：0.05-30kV；探測器：SE2，InlensDuo，BSE......閱讀全文
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
蔡司－場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
蔡司－高分辨場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
蔡司－場發射掃描電子顯微鏡應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡1號
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡2號
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡3號
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡1號
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡2號
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡1號
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡1號
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡2號
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡2號
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡1號
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡2號
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
蔡司－高分辨場發射掃描電鏡及EDS能譜儀共享
儀器名稱：Zeiss高分辨場發射掃描電鏡及EDS能譜儀儀器編號：A19000008產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：機械系>材料所電鏡實驗室放置地點：李兆基科技大樓A606（從西門進電梯至6層電梯對面）固定電話：固定手機：固定email：聯系人：閆興昊（13070166866,13
清華大學儀器共享平臺高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡3號
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
清華大學儀器共享平臺高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡3號
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
清華大學儀器共享平臺高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡3號
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
清華大學儀器共享平臺高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡3號
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709樣品要求：粉末、塊體材料。塊體樣品橫向尺寸小于40mm，高度低于7mm。樣品不能有磁性。預約說明：取消預約需提前48小時。工作日中
清華大學儀器共享平臺高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡3號
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享應用
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
場發射掃描電子顯微鏡應用范圍
場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的最大特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用最新數
場發射掃描電子顯微鏡應用范圍
場發射掃描電子顯微鏡應用范圍 1、金屬、陶瓷、高分子、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、生物等材料的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察和分析。 2、各種材料微區化學成分的定性和半定量檢測。 3、粉末、微粒納米樣品形態和粒度的測定。 4、復合材料界面特性的研究。 場發射掃描電子顯微鏡具有高
FEI熱場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：熱場發射掃描電鏡儀器編號：15008701產地：捷克生產廠家：FEI Company型號：Quanta 450 FEG出廠日期：201505購置日期：201505所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：微納平臺光刻間固定電話：01062784044-216固定手機：135
FEI－場發射環境掃描電鏡共享
儀器名稱：場發射環境掃描電鏡儀器編號：06011403產地：荷蘭生產廠家：FEI型號：QUANTA 200 FEG出廠日期：200607購置日期：200611所屬單位：機械系>摩擦學國家重點實驗室>SEM FIB放置地點：李兆基科技大樓A510室固定電話：010-62772522固定手機：固定ema
場發射掃描電子顯微鏡－JEOL－JSM－6301F共享
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
JEOL－JSM－6301F場發射掃描電子顯微鏡－共享
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：