場發射掃描電子顯微鏡送檢樣品的要求
送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。 應有一定的化學、物理穩定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發或變形； 無磁性、放射性和腐蝕性。 含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶自己進行臨界點干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸(異)戊酯置換等處理，最后進行臨界點干燥處理。 觀察圖像樣品應預先噴金膜。一般情況下，樣品盡量小塊些 ( ≤10x10x5mm較方便 ) 。粉末樣品每個需1克左右。納米樣品一般需超聲波分散，并噴涂超細微金膜。......閱讀全文
場發射掃描電子顯微鏡送檢樣品的要求
送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。 應有一定的化學、物理穩定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發或變形； 無磁性、放射性和腐蝕性。 含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶自己進行臨界點干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸(異)戊酯置換等處理，最后進行臨界點干燥處理。
場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）對檢測樣品的要求說明
1、樣品中不得含有水、有機小分子等易揮發、易分解成分。 2、樣品盡量小，最大尺寸：高15mm，直徑30mm。 3、多孔或易潮解樣品，需提前真空干燥處理。 4、粉末樣品中不能含有鐵、鈷、鎳等具有磁性成分，且不易被磁化。超聲分散，滴在鋁箔上，干燥后送樣。 5、需觀察樣品斷面時，斷面自己制備。
掃描電子顯微鏡X－射線能譜儀送檢樣品要求
送檢樣品必須為干燥固體，塊狀、片狀、纖維狀、顆粒或粉末狀均可。 應有一定的化學、物理穩定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發或變形； 無磁性、放射性和腐蝕性。 對含水份較多的生物軟組織樣品，要求用戶預先進行臨界點干燥前的固定、清洗、脫水及用醋酸(異)戊酯置換等處理。 最后再由本室進行臨界點
場發射掃描電子顯微鏡
場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。 該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感極強的
場發射掃描電子顯微鏡的簡介
場發射掃描電子顯微鏡具有超高分辨率，具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子象、反射電子象觀察及圖像處理。 場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌
蔡司－場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
蔡司－場發射掃描電子顯微鏡應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
場發射掃描電子顯微鏡應用范圍
場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的最大特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用最新數
場發射掃描電子顯微鏡應用范圍
場發射掃描電子顯微鏡應用范圍 1、金屬、陶瓷、高分子、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、生物等材料的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察和分析。 2、各種材料微區化學成分的定性和半定量檢測。 3、粉末、微粒納米樣品形態和粒度的測定。 4、復合材料界面特性的研究。 場發射掃描電子顯微鏡具有高
場發射掃描電子顯微鏡的應用范圍
場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的最大特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用最新數字化
場發射掃描電子顯微鏡的功能介紹
場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感極強的樣品表面
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
場發射掃描電子顯微鏡技術參數
場發射掃描電子顯微鏡可對金屬、陶瓷、礦物、巖石、生物等樣品以及各種固體材料進行觀察和分析研究。具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子象、反射電子象觀察及圖像處理。本文主要為大家介紹一下場發射掃描電子顯微鏡技術參數、主要用途及應用范圍。 SIGMA500場發射掃描電子顯微鏡技術參數 分
詳解場發射掃描電子顯微鏡實驗步驟！
場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感極強的樣品
場發射掃描電子顯微鏡的功－能介紹
場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感極強的樣品表面
場發射掃描電子顯微鏡的維護保養方法
（1）檢查光闌對中。在更換試樣、調整加速電壓和探測器類型時需檢查光闌是否對中。具體操作方法是打開調焦搖擺功能，查看高倍數下電子圖像是否上下左右擺動，若擺動則調節光闌對中按鈕，直至圖像僅出現上下擺動。（2）檢查像散情況。像散是電子光學系統中所形成的磁場或靜電場不能滿足軸對稱要求時產生的。圖像聚焦和消像
場發射掃描電鏡
用運載火箭發射航天器，不是任何時候都可以進行，有年份、月份、日期和時刻的選擇。比如，哈雷彗星以76年為周期回歸，哈雷彗星探測器應選在其回自太陽的幾個連續年份中發射；火星與地球的會合周期為780天，火星探測器應在火星與地球會合前后連續的幾個月份中發射；有些航天器必須在某個月內連續的幾天中發射；由于工作
蔡司－高分辨場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
場發射掃描電子顯微鏡主要用途
場發射掃描電子顯微鏡主要用途 場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的最大特點是具備超高分辨掃描圖
場發射掃描電子顯微鏡的操作檢查附件設施
（1）檢查樣品臺狀態。樣品載臺在操作過程中由于高頻次的機械運動，可能出現樣品載臺被卡住、位置記憶亂碼等錯誤，所以需要對樣品載臺定期進行初始化。定期做好觀察維護的方法如下：將高壓關掉，破真空后，打開樣品倉，轉動X，Y，Z 軸，連續旋轉R軸、傾斜角T軸，觀察樣品載臺在移動范圍內的運行狀態、順暢程度、聲音
場發射掃描電子顯微鏡的操作檢查真空系統
電鏡中的真空系統一般由真空泵、管道、真空閥門和真空測量裝置組成。高真空度可減少電子與氣體分子的碰撞，增加燈絲壽命，所以必須高度關注真空系統，定期記錄系統真空和槍真空數值，或是打開真空監控器（Gun Monitor）實時監控真空值。對于ULTRA PLUS掃描電子顯微鏡，需保證系統真空值不小于5.0×
場發射掃描電子顯微鏡的操作注意事項
場發射掃描電子顯微鏡的日常維護中，操作人員應定期檢查儀器設備的環境條件、光學系統、真空系統及附件設施，確保儀器在最佳工作狀態下使用。試樣的前處理好壞對場發射掃描電子顯微鏡的維護保養也有一定的影響，要保持試樣清潔、干燥和具有良好的導電性、導熱性，從加速電壓、焦距、探測器模式等多方面正確處理特性各異的試
高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
場發射掃描電子顯微鏡技術參數等簡介
技術參數 1、分辨率 2、放大倍數 3、加速電壓 4、低壓范圍 5、探針電流 6、樣品室 7、樣品臺 8、傾斜角 主要用途 適用于對金屬、陶瓷、半導體、礦物、生物、高分子、復合材料和納米級一維、二維和三維材料的表面形貌進行觀察（二次電子像、背散射電子像）； 可進行微區的點、線、面成分分析；
場發射掃描電子顯微鏡的指標信息和附件信息
指標信息 二次電子圖像（SEI） 分辨率1.5nm 背散射電子圖像（BEI) 分辨率3.0nm X射線能譜儀（EDS） 分辨率128ev 分析范圍B5～U92 電子背散射衍射（EBSP）空間分辨率 0.5μm 采集時間 20ms～2s/每菊池圖 數字圖像采集系統 分辨率512×384p
場發射掃描電子顯微鏡的產品特點和應用范圍
場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。該儀器的最大特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用最新數字化
場發射槍掃描電子顯微鏡的主要用途
主要用途： 適用于 金屬、 陶瓷、 半導體、 礦物、 生物、 高分子、 復合材料和 納米級一維、二維和三維材料的表面形貌進行觀察（二次電子像、背散射電子像）； 可進行微區的點、線、面成分分析； 指定元素在形貌上成象； 晶體材料的晶體取向及微區取向分析、結構分析、正反極圖、歐拉空間分析等； 圖象定
簡介等離子體原子發射光譜儀對送檢樣品的要求
(1) 、對送檢樣品(檢測條件)的要求： ① 請告知樣品來源、種類、屬性(如，礦石、合金、硅酸鹽、特種固熔體、高聚物等)。盡可能列出主要成份、雜質成份及其(估計)含量；待檢元素中最低(估計)含量是多少?對于溶液，請寫明介質成份(溶劑、酸堿的種類及其(估計)含量)、含氟(F-)與否？因為氟(F-
場發射掃描電子顯微鏡與普通掃描電鏡相比有哪些區別
二次電子象分辨率：1.5nm?加速電壓：0～30kV?放大倍數：10-50萬倍連續可調工作距離：5～連續可調傾斜：-5°～45°?x射線能譜儀：?分辨率：133eV?分析范圍：B-U???? 附件信息：??鍍金鍍炭儀?ISIS圖像處理系統背散射探頭???? 場發射，由于分辨率高，為的研究提供了可