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03030707 /儀器儀表 /成份分析儀器指標信息： 主真空室：1×10-10 Torr XPS：0.5eV, AES: 分辨率：0.4%, 電子槍束斑：75nm , 靈敏度：1Mcps信噪比：大于70:1 角分辨：5°～90°. A1/Mg雙陽極靶 能量分辨率：0.5eV ,靈敏度：255KCPS, 使用多通道檢測器（MCD）......閱讀全文
03030707 /儀器儀表 /成份分析儀器指標信息： 主真空室：1×10-10 Torr XPS：0.5eV, AES: 分辨率：0.4%,?電子槍束斑：75nm , 靈敏度：1Mcps信噪比：大于70:1 角分辨：5°～90°. A1/Mg雙陽極靶 能量分辨率：0.5eV ,靈敏度：255KCP
儀器類別 0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計 指標信息 1.發射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能
1895年11月8日晚，德國維爾茨堡大學校長兼物理研究所所長倫琴在實驗室研究陰極射線。 為了防止外界光線對放電管的影響，也為了不使管內可見光漏出管外，他把房間全部弄黑，創造伸手不見五指的環境，他還用黑色硬紙給放電管做了個封套。為了檢查封套是否漏光，他給放電管接上電源，發現沒有漏光。但他切斷電源
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理
XPS儀器設計與最早期的實驗儀器相比,有了非常明顯的進展,但是所有的現代XPS儀器都基于相同的構造:進樣室、超高真空系統、X射線激發源、離子源、電子能量分析器、檢測器系統、荷電中和系統及計算機數據采集和處理系統等組成。這些部件都包含在一個超高真空(Ultra High Vacuum,簡稱為UHV)封
X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有
X射線光電子能譜（XPS）也被稱作化學分析電子能譜（ESCA）。該方法首先是在六十年代由瑞典科學家K.Siebabn 教授發展起來的。這種能譜最初是被用來進行化學元素的定性分析，現在已發展為表面元素定性、半定量分析及元素化學價態分析的重要手段。此外，配合離子束剝離技術和變角XPS技術，還可以進行