X射線熒光分析儀的基本信息介紹
X 射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面首選儀器之一。......閱讀全文
X射線熒光分析儀的基本信息介紹
X 射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的
X射線熒光分析儀的介紹
X射線熒光分析儀主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上，兩類儀器也有顯著的區別。X射線熒光分析儀按其性能和應用范圍，可分為實驗室用的X射線熒光光譜儀
熒光X射線測厚儀的基本信息介紹
熒光X射線測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。 基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLinkFP應用軟件包，實現了對cmi900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要
微－X－射線熒光－(μXRF)的基本信息介紹
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X
X射線熒光探針儀的基本信息介紹
技術指標 微聚焦X光管最大功率40kV,1.0mA；試樣上X光聚焦點直徑300um,100um,40um；10x黑白，100x(200x)彩色CCD攝像頭；樣品室尺寸330x250x330mm；自動樣品臺行程100x100x100mm。 [1] 主要功能 探頭指標高，性能好，壽命長。；全新
X射線熒光分析法的基本信息介紹
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的缺點
關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現誤差。 不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。 對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的缺點
關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現誤差。 不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。 對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線熒光光譜法基本信息介紹
X射線熒光光譜法是照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時，核的內層電子共振吸收射線的輻射能量后發生躍遷，而在內層電子軌道上留下一個空穴，處于高能態的外層電子跳回低能態的空穴，將過剩的能量以X射線的形式放出，所產生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子內殼
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
選擇X射線熒光分析儀的誤區
強調“熒光”，許多用戶誤認為只有用X光管作為激發源的管激發儀器才是X熒光儀，一味地強調所謂“熒光”。事實上，如前所述，無論是采用X光管還是采用放射性同位素源作為激發源，只要是由X射線激發、通過測定被測樣品發出的熒光X射線得出其化學成分及含量的儀器，都是X熒光分析儀。 源激發和管激發各有優缺點。
選購X射線熒光分析儀的誤區
聽別人多，看自己少。用戶在設備選型時經常會開展一些調研考察，一方面了解一些各種儀器及廠家的基本情況，作一些相互比較；另一方面會去一些與自己情況類似的用戶那里考察。這當然是必要的。但最重要的還是要根據自己的實際情況和具體需求來選擇。比如:以全廠質量控制為主要目的，樣品種類多，需要做全分析，準確度要
X射線熒光分析儀的主要分類
根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也X射線熒光分析就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波
X射線熒光分析儀的發展歷程
1895年倫琴發現X射線； 1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎； 20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段； 60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅速發展，并使現場和原位X射線光譜分析成為可能
X射線熒光儀器的基本介紹
X射線熒光儀器（X Ray Fluorescence，XRF）又稱為X射線熒光光譜法，是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它是指根據原子在原級X射線或粒子的激發下發射出的次級的特征X射線（X射線熒光）的波長和長度，對元素進行定性和定量的分析方法。
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
X射線熒光分析的基本介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
X射線熒光儀的相關介紹
X射線熒光儀一般是采用，激發樣品中的目標元素，使之產生特征X射線，通過測量特征X射線的照射量率來確定目標元素及其含量的儀器。 儀器分為室內分析、野外便攜式和X射線熒光測井儀三種類型。各種類型的儀器均由探測器和操作臺兩部分組成。由于目前使用的探測器（正比計數管及閃爍計數器）能量分辨率不高，不能區
X射線熒光儀器的歷史介紹
X射線熒光儀器是指波長為0.01~10nm的電磁波，1895年倫琴（W. C. Roentgen）在使用放電管工作時發現了X射線，因為這一個重大發現，倫琴于1901年獲得了諾貝爾獎。1913年莫斯萊（H. G. Moseley）建立了X射線波長與原子序數的關系，奠定了X射線熒光光譜分析的基礎，第
X射線熒光的物理原理介紹
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫
X射線熒光儀器的分類介紹
X射線熒光儀器根據能量分辨的原理不同，可分為波長色散型、能量色散X射線型和非色散型。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管作為激發源，產生入射X射線（一次X射線）用于激發被測樣品，受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線。由于不同的元素所放射出的二次
X射線熒光分析的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X射線熒光分析儀的基本原理介紹
X射線熒光分析儀基本原理： 當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能