多相體系銀焊條的X射線能譜定量分析
稀土銀焊條屬多相體系,它由低含量微細稀土氧化物彌散分布在銀基體中所組成。文獻[1][2]提出的多相體系樣品電子探針定量分析法均由樣品面掃描譜獲得實驗數據,對焊條中低含量的第二相元素,其峰強很低,實驗誤差大。因在銀焊條中:基體對第二相各元素無熒光效應;基體對第二相各元素的質量吸收系數相近,第二相各元素特征x射線穿出基體時相對強度的變化可忽略,故基體、第二相之間的相互作用可忽略,宜用Russ法 。......閱讀全文
X射線能譜定量分析
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水平。由于能譜定量分析的方法簡單、操作方便,它既能進行大試樣的平均成份分析,也能進行微粒、薄板、鍍層、
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
硫化物X射線能譜定量分析探討
７１１－Ｆ型能譜儀對常見硫化物（黃鐵礦、磁黃鐵礦、方鉛礦、閃鋅礦等）元素定量分析的條件試驗結果表明，一定要選擇好儀器的最佳試驗條件；保證分析樣品的質量，排除影響元素定量分析精度的因素。經反復條件試驗，獲得硫化物的最佳試驗測試參數：電壓２５ｋＶ、束流６４μＡ、束斑０．１２５μｍ、計數率２３００ｃ／ｓ、
軟骨鈣化的X射線能譜半定量分析
軟骨的鈣化過程實質上是鈣鹽在軟骨內沉積的積累過程。盡管人們一直關注這個問題,但并未完全清楚。本文利用透射電鏡觀察了鈣鹽在軟骨細胞內外沉積的部位和形態,利用 X 射線能譜儀對沉積鈣鹽的 Ca- P 強度、濃度和摩爾數進行了半定量分析。
多相體系銀焊條的X射線能譜定量分析
稀土銀焊條屬多相體系,它由低含量微細稀土氧化物彌散分布在銀基體中所組成。文獻[1][2]提出的多相體系樣品電子探針定量分析法均由樣品面掃描譜獲得實驗數據,對焊條中低含量的第二相元素,其峰強很低,實驗誤差大。因在銀焊條中:基體對第二相各元素無熒光效應;基體對第二相各元素的質量吸收系數相近,第二相各元素
不銹鋼X射線能譜定量分析方法研究
配備X射線能譜儀的掃描電子顯微鏡不僅能夠觀察材料的微觀形貌還可對微區成分進行分析，現已廣泛應用于材料分析測試領域。提高能譜儀定量分析的準確度，是科學研究和工業生產的重要課題。本論文對能譜儀的物理基礎、工作原理、定性分析、定量分析等方面進行了闡述，并圍繞如何獲得不銹鋼標樣定量分析的最佳工作條件以及提高
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
高能脈沖X射線能譜測量
給出了高能脈沖X射線能譜測量的基本原理及實驗結果.采用Monte-Carlo程序計算了高能光子在能譜儀中每個靈敏單元內的能量沉積,利用能譜儀測量了"強光Ⅰ號"加速器產生的高能脈沖X射線不同衰減程度下的強度,求解得到了具有時間分辨的高能脈沖X射線能譜,時間跨度57ns,時間步長5ns,光子的最高能量3
DPF脈沖X射線能譜測量
采用濾光法對ＤＰＦ脈沖Ｘ射線源裝置的Ｘ射線能譜進行了測量，取得了較好的結果，為輻射效應環境測量提供了一種手段。?
X射線能譜數據處理
本文提出運用FFT,對雙路實測能譜信息在變換域中加以濾波修正,同時完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并與諸元素特征峰及背底的譜分析相比較,獲取濾波修正頻窗。文中編制了雙路能譜同時作濾波修正程序。試驗表明:此法實現了數據壓縮及零相位校正,增快了濾波速度,減小了相位滯移量,提高了分
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
X射線能譜定性分析
X射線能譜定性分析快速有效，是電子探針和掃描電鏡分析必須的組成部分。用X射線能譜儀測量試樣特征X射線全譜中各譜峰的能量值，計算機釋譜得出試樣的元素組成。X射線能譜定性分析要注意背景的判別、峰的位移、峰的重疊、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干擾峰等問題，以免導致錯誤的分析結果。(1)背景的判別在使用X射線
X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
X射線能譜測量與模擬
1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作
X射線能譜定量分析初探可伐合金的EDX分析
可伐合金是能與玻璃、金屬匹配封接的合金材料,在電池行業中用作封接材料。其化學組成對確保電池封接件的質量是至關重要的。我們用化學組成與待測試樣相近的標準樣。按下式求出待測試樣中的Mn、Co、Ni的含量。C_i/C_j=I_i/I_j C_j=[I_i/I_j]·C_i式中 C_i—試樣中欲測元素的含量
簿膜X射線能譜定量分析準確度的探討
本文通過在EM400T透射電鏡上用一些標準成分的樣品進行薄膜無標樣成份分析實驗,檢驗了EDAX9100能譜儀的分析準確度。在本試驗所用的樣品范圍內,其準確度為:近鄰元素同一X光線系分析相對誤差為5～10％,非近鄰元素不同線系分析相時誤差較大,可達20～50％。試驗證明在分析元素的質量吸收系數之差Δμ
X射線能譜定量分析中超常誤差產生原因的研究
Ｘ射線能譜定量分析的精度問題一直困擾著能譜生產廠家和使用單位．在某些情況下，用無標樣法所測值的誤差遠大于１０％，即存在著所謂的超常誤差．因而不少分析人員對其定量分析結果持懷疑態度，認為Ｘ射線能譜只適合做定性和半定量分析．本文將對超常誤差的產生原因作一...?
復雜X射線能譜構造方法研究
本文提出了基于最小二乘法的復雜X射線能譜構造方法,介紹了其構造原理,設計了由35~100kV加速電壓條件下的14個X射線過濾譜組成的構造子譜組。目標能譜模擬構造結果表明,構造能譜與目標能譜總體的相對偏差基本控制在10%以內;影響其偏差的主要因素包括構造子譜數量與形態,目標能譜的非連續可微以及射線源特
X射線光電子能譜
X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有
X射線能譜重疊峰的識別
提出了一種通過譜線權重來正確識別X射線能譜重疊峰的新方法。應用該方法 ,成功地分析了Ti合金微區中能量差為 2 0eV的Ti和V的重疊峰。實驗表明 ,該方法簡便、可靠 ,并可適用于K Zn之間元素的分析?
X射線能譜儀的原理介紹
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
X射線能譜儀定量分析植物組織中的多種礦質元素
本文介紹一種用掃描電鏡和X射線能譜儀定量分析植物組織中的Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Mn,Fe元素的方法。本方法樣品前處理簡單,分析速度快,費用低。?
x射線能譜儀定量分析硫在植物器官中的分布
?植物內某些器官中物質的含量能準確反映大氣和土壤污染程度。本實驗選用番石榴幼苗作為供試植物,按下表分組,進行人工污染,觀察其抗S02污染性,并利用掃描電鏡x射線能譜儀來分析植株各部份器官的含硫量以及其吸收SO2的機理,以便探索一個準確監測動植物體內部受污染程度的簡易方法。?
能譜和x射線熒光技術進行元素定性定量分析的區別
激發源不一樣，能譜的激發源是電子束，X射線熒光自然是X射線，所以兩者的檢測深度不一樣，能譜一般只能檢測樣品表面，而XRF可以穿透樣品。測試環境不一樣，能譜是配在電鏡上的，所以只能在真空環境下測試，而XRF則真空和大氣條件都可以。測量元素范圍不同，能譜可以測試Be~U,XRF能測到Na就不錯了(能量色
多元氧化物成分的無標樣x射線能譜定量分析
本文將多元合金成分的無標樣x射線能譜定量分析方法推廣到有固定化合價的氧化物成分的分析。對MgAl2O4、YAG(Y3Al5O12)、La2Ti2O7、YIC(Y3Fe5O12)、GGG(Gd3Ga5O12、Mn0.6Zn0.4Fe2O4和NaxWO3（x=0.68）等氧化物成分的分析,除了Na的誤差
微區成分的X射線能譜無標樣定量分析簡化模型
本文對作者建立的微區成分無標樣定量分析法進行了簡化,使原有的計算量大為減少。用簡化模型對Cu-Si,FeS2,NaCl,GaAs試樣和多元鋼樣原實驗數據進行了定量計算,并與原模型多元程序計算結果進行比較。結果表明,這種簡化是合理的。?
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?