適用于半導體器件的線路修復和精確切割。
聚焦離子束系統（FIB），利用源自液態金屬鎵的離子束來制備樣品。
通過調整束流強度，FIB可以對樣品的指定區域進行快速和極精細的加工。其匯聚掃描方式可以是矩形、線形或點狀。FIB可以制備供掃描透射電鏡觀測用的各種材料的薄膜樣品。
聚焦離子束法適用于半導體器件的線路修復和精確切割。聚焦離子束系統（FIB），利用源自液態金屬鎵的離子束來制備樣品。通過調整束流強度，FIB可以對樣品的指定區域進行快速和極精細的加工。其匯聚掃描方式可以......
TEM制樣原則：a.簡單。b.不破壞樣品表面，如：避免磨樣過程中產生的位錯及離子減薄過程中產生的非晶現象等。c.盡可能獲得大的薄區。TEM樣品要求：a.對電子束透明(電子束穿透固體樣品的厚度主要取決于......
現在一般用于有機化合物的紅外分光光度計，都是雙光束，而且有自動記錄裝置的。分光用的設備分兩種——棱鏡型和光柵型。用氯化鈉制成的棱鏡，可以通過波長直至15微米的紅外光，而用氯化鈉棱鏡，則可以達25微米，......
一、X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激......
日前，在亞太地區紅土鎳礦合作組織首屆理事會上，來自亞太地區12個國家和地區的98家單位近200位代表參加了會議，與會代表一致表決通過了由中國檢驗認證集團檢驗有限公司組織編寫的《紅土鎳礦取樣制樣及檢驗標......