淺談KevexSIGMATMX射線能譜儀中的能譜分析技術
采用質子激發的X射線能譜分析 (PIXE)方法對磁過濾陰極真空弧沉積 (FVAPD)裝置在Al板上合成Ti膜相對厚度進行了測量 ,給出了沉積靶室中不同位置大面積合成薄膜的均勻性 .通過同背散射分析 (RBS)測量結果的比較表明 :利用在輕襯底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、無損和精確地測量FVAPD裝置合成薄膜的均勻性 .......閱讀全文
淺談Kevex－SIGMATMX射線能譜儀中的能譜分析技術
采用質子激發的X射線能譜分析 (PIXE)方法對磁過濾陰極真空弧沉積 (FVAPD)裝置在Al板上合成Ti膜相對厚度進行了測量 ,給出了沉積靶室中不同位置大面積合成薄膜的均勻性 .通過同背散射分析 (RBS)測量結果的比較表明 :利用在輕襯底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、無損和精確地測量F
美國KEVEX公司8000型x射線能譜儀
?8000型X射線能譜儀主要做能量分散X射線分析,可用于冶金、電子、地球化學勘探、化工、石油、生物醫學等許多領域。儀器由X射線探測器,分析儀,小型計算機、大容量存貯器,顯示器,鍵盤和軟件構成。?
X射線能譜分析中譜線重疊問題
掃描電子顯微鏡上配接Si(Li)探測器X射線能譜儀,進行地質樣品分析時,由于它的峰,背比值較低和譜線分辨率不如X射線波譜儀,盡管探測效率很高,仍然存在譜線的干擾或重疊現象。譜線的干擾或重疊現象主要劃分為三個類型:相鄰或相近元素同一線系(K、L、M)的譜線之間重疊;原子序數較低的K線系譜線與原子序數較
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
X射線能譜儀的能譜分析中出現的假峰是什么情況？
分析某些元素時可能會出現和峰，和峰的出現會造成和峰附近的背底變形，如果與其他峰出現重疊，計算結果時即使扣除背底也不能得到滿意的結果。此時，需要改變采譜條件，減少計數率，減小和峰對背底的影響，避免和峰的出現。計數率可通過改變束流、更換光闌、調節探測器與樣品間的距離等措施來調節。 逃逸峰是探測器在
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
X射線能譜分析
能量色散譜儀(EDS)原來是一種核物理分析設備。由于半導體檢測器制造和微信號低噪聲電子學技術的進步,EDS的分辨率(譜線半高寬)由60年代的300ev提高到70年代的150ev,能對Al、Si這類較輕的元素的X射線譜作出明確的鑒別,因此從70年代開始,EDS被大量地用作熒光X射線分析和組裝到掃描電鏡
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
X射線能譜儀的原理介紹
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
X射線能譜分析中應注意的問題
針對X射線能譜分析中譜線的重疊干擾比較普遍這一現象,為使讀者特別是新接觸能譜分析的讀者正確地使用能譜儀進行定性和定量分析,本文介紹了辨認和處理干擾或重疊譜線時應注意的一些問題。?
X射線能譜分析原理
X射線能譜分析原理? ???X射線能譜定性分析的理論基礎是Moseley定律，即各元素的特征X射線頻率ν的平方根與原子序數Z成線性關系。同種元素，不論其所處的物理狀態或化學狀態如何，所發射的? 特征X射線均應具有相同的能量。? ??X射線能譜定性分析是以測量特征X射線的強度作為分析基礎，可分為有標樣
硯石的X射線能譜分析
用 X射線能譜儀對一系列硯石樣品進行成分分析得知硯石主要含鋁、硅、鈣、鐵、鉀等元素 ,為硯石的成因研究打下基礎 ,指出硯石成因研究有助于某些地球課題的深化。?
X射線能譜儀在薄膜器件刻蝕中的應用
锫鈦酸鉛[Pb（Ti,Zr）O3,簡稱 PZT]是一種新型的鐵電薄膜材料,具有獨特的電學,光學性能,有很廣泛的應用價值。PZT 薄膜與器件的制造,均采用集成電路制造工藝。使用掃描電鏡與 X 射線能譜儀對其進行工藝監控,可以得到比較滿意的結果。
能譜干擾波長色散X射線光譜分析儀的介紹
在各種探測器結合脈沖幅度分析器使用時，對一定波長的譜線，將產生具有平均脈沖幅度正比于光子能量的脈沖幅度分布。這種脈沖幅度分布的能譜干擾，不只是來自激發源、樣品成光路中的干擾線，也可能來自計數器的逃逸峰在氣體探測器中，決定于所充的情性氣體種類（Ar、Kr或Xe等）及其能量分辨率；閃爍探測器則決定于
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
淺談利用X射線能譜儀分析導線絕緣層火災痕跡特征
本文以銅芯聚氯乙烯絕緣軟導線作為實驗材料,使用火災痕跡物證綜合實驗臺和箱式電阻爐等模擬火場條件,分別制備出導線絕緣層在過負荷、火燒和短路三種狀態下的炭化痕跡樣品,利用EDS2100X射線能譜儀對導線絕緣層炭化樣品表面進行成分分析,分別獲得了導線絕緣層碳化物x射線能譜圖。經分析發現導線絕緣層過負荷、火
X射線能譜分析過程、原理
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電流脈
利用X射線能譜儀測量大蟾蜍組織中的元素
蟾蜍在農業.醫用,科研及教學上具有多方面的用途.本文用 X 射線能譜儀對大蟾蜍(Bufo bufo)的腎、肝、胃、氣管等組織中所含的元素作了初步分析.其結果是:這些組織中都含有 Al、Fe、Si,除肝不含 Nb、Tb、Ta 外,其它組織都含這些元素,同時肝、腎、胃中還含有元素 Y、Nb、Tb、Ta
黑色墨水的x射線能譜分析
本文用 KYKY—2000型掃描電鏡和SERIES—Ⅱ型 X 射線能譜分析儀,檢測了16種黑色墨水樣品的無機組成,并考查了紙張及墨跡量的影響。當同種紙上字跡筆劃處的墨跡量接近時,可達到比對檢驗的目的。
X射線光電子能譜儀的技術參數
指標信息： 主真空室：1×10-10 Torr XPS：0.5eV, AES: 分辨率：0.4%, 電子槍束斑：75nm , 靈敏度：1Mcps信噪比：大于70:1 角分辨：5°～90°. A1/Mg雙陽極靶 能量分辨率：0.5eV ,靈敏度：255KCPS, 使用多通道檢測器（MCD）
應用X射線能譜儀檢驗原子印油
?原子印章是一種新型的印章。原子印章攜帶和使用極為方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊結構,其印油的成份不同于普通的印臺油及印泥。早期的原子印油多為國外進口,目前國內亦有一些廠家生產。我們應用掃描電子顯微鏡和 X 射線能譜儀對原子印油進行檢驗,獲得一些有用的信息。
軟X射線能譜儀數據采集系統
在 線 存 儲 軟X射線能譜儀的結構框圖見圖1。不同能量的軟X射線被Johann彎晶衍射分光,分光后的能量分布轉化成在探測器上對應的位置分布。位置靈敏、時間分辨好的MWPC和MCP都可做為這種探測器。軟X射線區適用的MWPC采用逐絲陽極讀出法以允許高計數率,同時也是為了滿足將可測能區延伸到更低能區
硫化物中微量金的X射線能譜分析
介紹了一種用加熱去硫來制備硫化物能譜試樣的方法 ;將黃鐵礦在400～500℃下加熱3～10min制備成X射線能譜試樣 ,可以保持試樣的原始結構 ,提高硫化物中包體金的X射線能譜峰背比 ,了解礦物之間的共生關系 ;并對黃鐵礦中微量的包體金作了X射線能譜半定量分析 ;該法簡便、有效。?
軟X射線能譜定量測量技術研究
采用每毫米 10 0 0線的自支撐透射光柵配上背照射軟X射線CCD(charge coupleddevice)組成了透射光柵譜儀 ,利用北京同步輻射裝置 (BSRF) 3W1B光束線軟X射線實驗站上X射線源分別對透射光柵的衍射效率和軟X射線CCD的響應靈敏度進行了準確的實驗標定 ,獲得了 15 0
多層鏡軟X射線能譜儀的研制
軟X射線能譜測量是ICF實驗中的重要內容,測量意義重大。軟X射線能診斷通過光譜分析,可以得到X射線總的通量,輻射溫度,轉換效率以及反照率。這些都是間接驅動黑腔熱力學的重要參數。作為黑體腔特征診斷系統,軟X射線能診斷系統測量黑體腔中發射出的X射線,可得出黑腔中輻射溫度的時間變化圖。針對目前常用的譜儀往
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點 分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 ?目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。Si(Li)能譜儀的優點 ?分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和
X射線能譜儀的工作原理和應用
1 X射線能譜儀的工作原理 當電子槍發射的高能電子束進入樣品后，與樣品原子相互作用，原子內殼層電子被電離后，由較外層電子向內殼層躍遷產生具有特定能量的電磁輻射光子，即特征X射線。X射線能譜儀就是通過探測樣品產生的特征X射線能量來確定其相對應的元素，并對其進行相應的定性、定量分析。 2 掃描電