SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性更強。 SDD探測器的突出特點有： 1.高計數率。 由于收集陽極的電容極低，相比通常的硅PIN器件，SDD具有更短的上升時間，因而特別適合在高計數率的情況下工作。 2.高能量分辨率。 SDD的陽極面積小于通常硅PIN器件，由于電容的減小，在收集等量電荷的情況下具有更高的電壓，提高了其能量分辨率。 3.可在常溫下工作。 SDD的電容和漏電流要比一般探測器小兩個數量級以上，通常把場效應管（FET）和Peltier效應器件都整合到一起； 這樣儀器在常溫下就能滿足SDD的制冷需求......閱讀全文
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
基于SDD探測器X熒光儀的應用探討
本文分析不銹鋼樣品并進行主成分Cr、Ni、Fe含量研究,通過Pu-238同位素源和微功耗X光管激發對比,以及SDD和Si-PIN探測器探測對比,評價SDD探測器在不銹鋼主成分X射線熒光分析中的應用效果。實驗中Pu-238同位素源采用雙源對稱布置,總活度為1.48×109Bq；X光管為Rh靶端窗結構,
X射線熒光光譜儀探測器簡介
X射線熒光光譜儀常用的探測器有流氣正比計數器和閃爍計數器，流氣正比計數器用于輕元素檢測，閃爍計數器用于重元素檢測。 流氣正比計數器由金屬圓筒（陰極）、金屬絲（陽極）、窗口及探測氣體（惰性氣體）構成。陽極都制成均勻光滑的細絲線，一般由鎢、鉬、鉑、金等穩定的金屬絲制成。 流氣正比計數器中一般選用
X熒光光譜儀三種X射線探測器的比較及應用
X熒光光譜儀是測定材料發光性能的基本設備。主要包括光源、激發單色器、樣品池、熒光單色器及探測器等主要部件。而探測器是很重要的一環，它的重要作用是接受和分辨信號，由于探測器性能的不同，在選用探測器時，就需要綜合考慮多種因素。 好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數率，還需要有較寬的元素分析范圍
硅漂移(SDD)陣列探測器X射線能譜測量診斷
采用最新的SDD探測器陣列測量HL-2A托卡馬克等離子體軟X射線(1～20keV)輻射的能譜,獲得電子溫度、Zeff、重金屬雜質含量絕對值及其時、空分布。由于SDD探測器較之傳統的Si(Li)探測器有體積小、計數率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷卻的特點,并采用高速ADC和海量緩
X射線熒光光譜儀在翡翠鑒定中的應用
X射線熒光光譜儀 X射線熒光光譜儀是一種用于材料分析的科學儀器，它可以快速、準確地分析材料的化學成分和結構。 它的工作原理是利用高能X射線的能量激發物質分子中的電子，使之處于激發態，當電子回到基態時會放出特定波長的熒光光線。不同元素的熒光光線具有一定的特征性，通過檢測這些特征熒光光線，可以確
以色列X熒光光譜儀XRFCaliburSDD
儀器介紹： XRF-Calibur?SDD非常適合于傳統的實驗室操作，它有完全整合的電腦控制系統。重型設計及制造使得該儀器成為移動實驗室的理想選擇。 主要特點： 1.?真正實現了快速，準確的檢測，直接顯示元素的ppm含量或者百分比。 2.?礦石、巖石、礦渣、碎片、土壤、泥土、泥漿等固體和液體物質。
X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
簡述X射線熒光光譜儀的應用
X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在
X射線熒光光譜儀的探測器應該如何選擇
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應用用途，X射線熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術可以對一些低原子序數元素進行
X射線熒光光譜儀特點及應用
1.優點: 設備相對簡單。 可以在大氣中工作，靈敏度高。 2.缺點: X射線入射深度較大，因而當薄膜厚度在微米級以下時，常規射線技術在測定薄膜結構和成分信息時沒有優勢。 如:實驗使用Cu靶X射線的波長約為0.15 nm，其在固體中的穿透厚度一般在100~10000 m之間，然而一般薄膜
x射線熒光光譜儀在不同方面的應用介紹
x射線熒光光譜儀具有廣泛的應用，包括火成巖，沉積巖和變質巖學研究土壤調查采礦（例如，測量礦石品位） 水泥生產 陶瓷和玻璃制造 冶金（例如質量控制） 環境研究（例如，對空氣過濾器上的顆粒物進行分析） 石油工業（例如，原油和石油產品的硫含量） 地質和環境研究中的現場分析（使用便攜式手持式
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光光譜儀的廣泛應用
X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析最重要的技術手段之一，各種與X射線熒光光譜相關的分析技術，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術等，在痕量和超痕量分析中發揮著重要的作用。 X射線熒光光譜儀主要性能優勢： 1.集合
X射線熒光光譜儀的廣泛應用
X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析重要的技術手段之一，各種與X射線熒光光譜相關的分析技術，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術等，在痕量和超痕量分析中發揮著重要的作用。 X射線熒光光譜儀主要性能優勢： 1.集合了多年
x射線熒光光譜儀的應用領域
熒光光譜儀被廣泛應用于化學、環境和生物化學領域。 是研究小分子與核酸相互作用的主要手段。通過藥物與核酸相互作用，使DNA與探針鍵合的程度減小，反映在探針熒光光譜的改變，從而可以了解藥物和核酸的作用機理。 熒光光譜儀是研究藥物與蛋白質相互作用的常用儀器。藥物與蛋白質相互作用后可能引起藥物自身熒
簡述X射線熒光光譜儀（XRF）的應用
可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，X射線熒光光譜法XRF測試的元素范圍包含有效的元素測量范圍為1號元素 （Na）到92號元素（U）
X射線熒光光譜儀的應用領域
X射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金，地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分
高靈敏度X射線熒光光譜儀的特點
高靈敏度X射線熒光光譜儀具備重金屬痕量檢測能力，快速基本參數法（Fast FP）提升元素精確定量水平，兩項核心技術的結合，為XRF元素檢測帶來新的應用前景。 1、單色化聚集激發技術 高靈敏度X射線熒光光譜儀采用雙曲面彎晶單色化器，優化元素的激發效率與減少X射線管連續散射線背景，提升元素熒光射
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
關于X－射線熒光儀探測器的介紹
流（充）氣正比計數器和閃爍計數器用于探測不同的元素，其中充氣正比計數器一般是填充 Ar、Kr 等惰性氣體；一定要注意此類計數器頭部玻璃很容易破碎，不能碰撞；長期使用后，充氣正比計數器頭部容易吸附灰塵影響計數，應該定期清理。流氣正比計數器是讓探測器氣體流動，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光光譜儀分類中波長和能量有什么區別
X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。??波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍
開放式微區X射線熒光光譜儀在顏料中的應用
鉑悅儀器X射線熒光分析技術由于其分析速度快，可測元素范圍廣，無損檢測等優點被廣泛應用于科技考古領域。而微區X射線熒光分析技術將光學圖像與元素分布成像相結合，為科研工作者提供了新的分析手段。Bruker開放式微區X射線熒光光譜儀M6 Jetstream能夠對大尺寸文物進行原位、無損掃描分析，尤其適