X射線熒光光譜儀的探測器應該如何選擇
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應用用途，X射線熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術可以對一些低原子序數元素進行檢測分析，甚至是在空氣氣氛中也能進行檢測，例如用于測量化學鍍鎳涂層中磷元素（原子序數Z=15）的含量。但是，大多數的低原子序數元素的檢測分析依然還需要隔離空氣氣氛。近年來比較流行的是一種密封的、充氣的正比計數器，正比計數器探測器較大的半寬高（FWHM）會導致相鄰元素的檢測譜圖嚴重重疊，以至于利用峰值搜索算法和/或可見光譜觀察法都無法探測出其中某種或者多種成分的存在。對于一些需要鑒別元素成分的工業制造品，其質量檢驗結果由于發生嚴重重疊，難以分辨，造成難以檢測。雖然利用硅探測器也會發生譜圖上的峰重疊現象，但在大多數的情況下，這些重疊峰能夠......閱讀全文
X射線熒光光譜儀的探測器應該如何選擇
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應用用途，X射線熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術可以對一些低原子序數元素進行
如何選擇X射線熒光分析儀的探測器？
真正評估一款分析儀是否合適，是了解它可以為您想要檢測的元素提供怎樣的分析結果。首先要從探測器上進行選擇： X射線熒光分析儀的探測器類型：PIN還是SDD 手持式XRF分析儀有兩種類型的探測器：PIN和SDD。PIN探測器是一種較為落后的技術，與SDD(硅漂移探測器)相比，價格更便宜，不過，其
X射線熒光光譜儀探測器簡介
X射線熒光光譜儀常用的探測器有流氣正比計數器和閃爍計數器，流氣正比計數器用于輕元素檢測，閃爍計數器用于重元素檢測。 流氣正比計數器由金屬圓筒（陰極）、金屬絲（陽極）、窗口及探測氣體（惰性氣體）構成。陽極都制成均勻光滑的細絲線，一般由鎢、鉬、鉑、金等穩定的金屬絲制成。 流氣正比計數器中一般選用
XRF(X射線熒光光譜儀)選擇寶典
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 ?????對六種有害物質總量的定量檢測： 一、?按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 ???該方法建議對來料先便攜式（手持式）ROHS檢測儀檢測，能通過的就算合
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
如何選擇X熒光光譜儀（XRF）
??應選擇歷史悠久，技術過硬，故障率低，日常運行成本低，使用年限長，性價比高，品牌過硬的儀器。Niton公司成立超過20年，其便攜式光譜儀在世界上處于ling先地位，在世界各地已安裝超過12000臺，可快捷測試元素周期表中從22號元素鈦(Ti)至83號元素鉍(Bi)中的23個標準合金成分元素，輔助氦
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X熒光光譜儀三種X射線探測器的比較及應用
X熒光光譜儀是測定材料發光性能的基本設備。主要包括光源、激發單色器、樣品池、熒光單色器及探測器等主要部件。而探測器是很重要的一環，它的重要作用是接受和分辨信號，由于探測器性能的不同，在選用探測器時，就需要綜合考慮多種因素。 好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數率，還需要有較寬的元素分析范圍
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
關于X－射線熒光儀探測器的介紹
流（充）氣正比計數器和閃爍計數器用于探測不同的元素，其中充氣正比計數器一般是填充 Ar、Kr 等惰性氣體；一定要注意此類計數器頭部玻璃很容易破碎，不能碰撞；長期使用后，充氣正比計數器頭部容易吸附灰塵影響計數，應該定期清理。流氣正比計數器是讓探測器氣體流動，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射線熒光分析中，如何調整探測器顯示的能量范圍
你看一下半導體探測器上面有沒有能量范圍旋鈕，有的話就可以直接在上面調節。沒有就要調節軟件，打開分析軟件，找到energy range或energy region，調節至0——100Kev即可。
X射線熒光光譜儀在選購時應該注意什么細節？
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，
X射線熒光光譜儀在選購時應該注意什么細節
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
教你如何識別X射線熒光光譜儀縮略術語
X射線X射線(Xray)是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現，故又稱倫琴射線。其特性通常用能量(keV)或波長(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射線是原子內層電子在高速運動電子的沖擊下產生躍遷而發射的光輻射，其波長很短約介于0.001~2
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線熒光光譜儀中的X射線原理科普
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。x射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應。X射線初用于醫學成像診斷和X射線結晶學。X射線也是游離輻射等這一類對人體有危害的
X射線熒光光譜儀X射線防護系統的故障分析
為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。射線防護系統正常與否，主要檢查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射線熒光光譜儀是一個封閉系統，面板是最外層的射線防護裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒有完全合
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。