實驗室分析儀器質譜分析詞匯化學電離(CI)
通過導入反應試劑,在低真空(0.4托)誘發碰撞,以增加分子離子的產率和提高靈敏度;因為這種電離,相比于電子撞擊電離,是一能量非常低的過程,所得碎片減少,通常稱為軟電離技術。可參見電子電離中的相關內容。......閱讀全文
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－化學電離(CI)
通過導入反應試劑,在低真空(0.4托)誘發碰撞,以增加分子離子的產率和提高靈敏度;因為這種電離,相比于電子撞擊電離,是一能量非常低的過程,所得碎片減少,通常稱為軟電離技術。可參見電子電離中的相關內容。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯大氣壓化學電離(APCI)
原本稱為溶劑介導的電噴霧,通常有效的應用于直接脫離溶液不易電離的中性分子。APCI在尖銳的針尖提供電流,被放置在進入的氣霧流中,以建立來自溶液自身的亞穩離子等離子體,當被分析物通過等離子體時,將來自這些離子的電荷傳遞給被分析物。加熱LC或溶劑流通過的探針,形成氣溶膠。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－場電離－(FI)
FI為軟電離技術,對大量的各種被測物,幾乎沒有碎裂作用。該技術對石油化學方面的應用尤其顯著,在這個領域里,采用其它電離技術會有局限性,因為存在碎裂(EI)問題或其電離特點復雜(CI)。帶高電壓的一根細金屬絲,在有機化合物蒸汽中,比如茚,被加熱。產生的呈樹突狀沉積在金屬絲表面的結構,被熱分解,生成非常
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－－電噴霧電離(ESI)
為所謂的‘軟'電離技術。大氣壓電離(API)是已被廣泛使用的技術。自從1980年代后期以來,該技術顯示出顯著的商業價值,這要歸功于,對引導流體在其內部流動的導電管(不銹鋼毛細管)施加過多的能量(電壓范圍在3-5千伏),當液體從導電管經過時,超過瑞利極限,形成氣溶膠而被射出,產生包含離子,半徑
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－－電子電離－(EI)
有時錯誤地稱為"電子撞擊"電離,這種電離技術是電子與顆粒(原子或分子)相互作用的結果;該技術被認為是‘硬'電離技術,因為電離過程中傳遞大量能量,破壞分子內部化學鍵,破壞這些化學鍵需要高達千卡/摩爾的能量。電離電壓(通常70eV)指的是引起電子加速的電壓差,該電壓誘導電子電離。不同于CI,EI
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－解離電噴霧電離－(DESI)
在2002年,Graham Cooks第一次描述了該電離技術,將其作為從惰性基質表面(通常條件下)產生軟次級離子的方式。該技術類似于MALDI,使用ESI探針,以相對于惰性基質表面大約50度的入射角瞄準,使離子化學噴射,進入質譜儀。已表明不需樣品制備,能得到直接來自很多極性和非極性表面材料的信息(皮
實驗室分析儀器質譜分析詞匯大氣壓電離(API)
該專業用語通常指的是,諸如電噴霧電離(ESI)、大氣壓化學電離(APCI)和其它在大氣壓下操作的技術。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－硅上的脫吸電離(DIOS)
曾經被視為MALDI制備樣品的基質替代物,尤其對小分子,因為基底(裸露的硅表面)不產生干擾離子。在1990年代后期,其商業潛力減小,因為板的制造存在難處,并且表面容易被污染。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯大氣壓光電離(APPI)
1980年代已被開發出,但是在2000年后,發現氪氣燈能夠產生10eV(大約)足夠的光子能量,電離諸如PAH和甾體等通常不適合采用ESI和APCI電離的非極性被測物,這項技術才被商業化。
化學電離(CI)在β阻斷劑確證中的應用研究——化學電離(CI)法
實驗方法原理興奮劑檢測工作中, 當發現陽性可疑的樣品時, 一般是借助化合物的氣相保留時間及質譜圖來進行確證分析。但是, 有一些 Β2阻斷劑(或其代謝物) 的質譜圖極其相似, 給確證工來帶來很大麻煩, 甚至造成錯誤的結果。我們曾使用光氣衍生化的方法取得好的結果, 但光氣的劇毒使操作十分不便, 不適合日
實驗室分析儀器質譜儀器的離子源化學電離（CI）
在電子轟擊電離中，樣品分子與具有一定能量的電子直接作用，產生的分子離子具有較高熱力學能，從而進一步發生碎裂。其缺陷是分子離子信號變得很弱，甚至檢測不到。化學電離（chemical ionization，CI）引入大量的試劑氣，使樣品分子與電離離子不直接作用，試劑氣分子被電子轟擊電離后因離子-分子反應
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－掃描
通過計算機調整控制電壓(DC和RF),在指定的范圍內,隨時間掃描(檢測)給定質量范圍內的任何帶電顆粒。能夠檢測多種帶電離子則會降低靈敏度,因為檢測器能夠響應一些目標離子,但檢測器卻被設置在其它的檢測范圍。參見選定離子的監測,四級桿和離子電流章節的內容。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－校正
通常以恒定流速導入已知的物質,質譜儀軟件按指定的過濾條件(例如,四級桿質譜儀的RF/DC比率)采集信號。將采集信號與參照文件比較后,在軟件中建立校對查詢表。然后將校正表作為通過四級桿質荷比的基準,分配具體數值。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－－細絲
在電子電離中,細絲是電子的來源,電子與被測物相互作用,引起電離。通常由金屬絲制成(扁平或圓形),在電流加熱時,釋放出70eV的電子。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－基峰
通常指與波譜圖中其它峰相比最強的峰;在能給出大量結構信息的電離技術中,比如EI,基峰可能不是母離子或分子離子。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－精確質量
化合物質量的準確理論值。準確測定質量是化合物的質量測定值,存在測量誤差,如5ppm。準確測定質量也通常是指具體的技術,而不是測量的質量。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－元素分析
離子、分子或自由基的名義質量是,其基本組成元素名義質量的總和。準確質量測定基于計算的基本組成,但是‘元素分析'通常針對無機材料-只確定基本的組成,不確定結構-在一些情況下,可分析固體金屬樣品。誘導偶合等離子體(ICP)源通常通過放電(或較低能量的發光放電)電離樣品。在萬億分之一水平使用精密儀
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－碎片離子
碎片離子是由母體分子離子發生碎裂產生。解離出的所有碎片的質量數之和等于母離子的質量數,在指定的條件下,以可預測的方式,斷裂相同的內鍵,分子碎裂方式是可以預測的(碎片離子相同,其相對豐度也相同)。也可參見從具體MRM試驗得到的產物(子代)離子。
實驗室分析儀器質譜分析的詞匯豐度
類似于UV檢測器上的吸光度在背景值上信號的垂直增加,表示某特定離子的強度(當x軸被校正為質量單位)或存在的總離子強度(當水平軸被校正為時間或掃描)。單個被測物或化合物產生的所有碎片離子分別與基峰相比的值(每個離子的相對豐度)被作為該化合物的特定碎裂模式,進行質譜圖。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－電荷殘留機制
該機制與電噴霧電離相關;1968年由Malcolm Dole第一次提出該理論,在該理論中,他假定當小液滴揮發時,其電荷仍然保持不變。液滴的表面張力最終不能平衡帶電電荷的斥力,將小液滴炸裂成很多的更小液滴。持續發生庫侖分解,直到小液滴只含單一的被測物離子。當溶劑從最后形成的小液滴中揮發掉,將形成氣相離
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－延時提取－(DE)
為MALDI-TOF質譜儀開發的一項技術,在離子形成后,加速離子進入飛行管之前,冷卻"并聚焦離子大約150納秒。與未冷卻的離子相比,冷卻的離子具有較低的動能分布,當冷卻離子進入TOF分析器時,冷卻離子最終降低離子時間展寬,結果增加了分辨率和準確度。DE對大分子不具有顯著的效益(例如,蛋白質>3000
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－氣相離子
為了質譜儀能夠工作和采集,被測物必須實現從靜止狀態像離子狀態轉換。如該手冊所述,有很多途徑完成這一轉換-一些途徑采用比較激烈方式產生碎片,而另外的一些途徑能保持被測物完好。能量作用于被測物,在氣相產生離子,跟在LC中根據冷凝相用于被測物分離的過程完全相反。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯常壓氣相色譜
由DuPont的Chales McEwen于2002年開發而來。使用加熱的轉移管線,GC流出物能夠引入到質譜儀的標準API(或ESI/APCI)離子源。這便于那些適合用GC分析的化合物簡單方便地從ESI向GC轉換。電離方式可以是APCI或APPI。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－實時直接分析(DART)
2002年,由Robert Cody和其它研究人員開發出,在應用上類似于DESI,雖然在功能上更接近于APCI。樣品放置在一種底物之上,通過類似于APCI的過程,形成的高能粒子,轟擊樣品。更確切的說,通過等離子體形成亞穩離子,再由加熱后的氮氣,直接將亞穩離子輸送到靶點。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－直流電流
當描述四級桿作為質量過濾器怎樣工作時,這一專業用語通常與"射頻"聯合使用。在1953年,Wolfgang Paul證明在4根平行桿之間,將射頻(RF)和恒定直流電流(DC)電勢疊加,可作為質量分離器或過濾器,只有特定質量范圍的離子,可以恒定振幅振蕩,通過四極桿而被分析器收集。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－碰撞誘導解離(CID)
也稱碰撞激活解離(CAD),是氣相中破碎成分子離子的一種機制,分子離子通過在真空區域加速(采用電勢)到高動能,隨后與中性分子,如氦、氮或氬,碰撞,碎裂形成碎片離子。一部分動能通過碰撞轉化或內化,結果使化學鍵斷裂,分子離子碎裂為更小的片段。一些類似的‘特殊目的'的破碎方法,包括電子轉移解離(E
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－快原子轟擊(FAB)
是較早的所謂的軟電離技術之一,轟擊的結果通常有密集的分子離子,并且幾乎不發生碎裂。被測物放入流動的基質中(通常是甘油),或更常見置于探針的頂端,然后將其置于高能原子的路徑上-通常是氙或化銫。該技術對分子量大于10000原子單位的生物分子有效,但可與扇形磁場聯用的特點更加重要,使用這種聯用技術,能夠確
實驗室分析方法質譜分析的質譜儀化學電離源特點
電離能小,質譜峰數少,譜圖簡單;最強峰為(M+1)+準分子離子峰;不適用難揮發試樣。
實驗室分析儀器質譜分析詞匯－均方根誤差測定(RMS)
為評估儀器質量準確測量功能(類似于預期使用)的綜合方法,數值上等于均方根或RMS誤差。RMS誤差按下列關系計算,在此Eppm是ppm誤差,n是考察質量的個數。RMS =n
實驗室分析儀器質譜分析的詞匯準確測定的質量
以一定誤差值測得的化合物質量數,如測量誤差為5ppm。精確測定的質量通常也用于指具體的技術,而不是測量的質量。精確質量是化合物質量的準確理論值。