X射線熒光光譜儀定量分析方法簡介
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強度，要找到熒光強度與樣品濃度的關系，需要一套高質量的標準樣品，根據元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強度按一定關系進行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎測試同類型樣品元素的組成和含量。......閱讀全文
X射線熒光光譜儀定量分析方法簡介
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強度，要找到熒光強度與樣品濃度的關系，需要一套高質量的標準樣品，根據元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強度按一定關系進行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎測試同類型樣品元素的組成和含量。
x射線熒光光譜儀簡介
x射線熒光光譜儀提供了一種最簡單，最準確，最經濟的分析方法，可用于確定多種類型材料的化學成分。它是無損且可靠的，不需要或只需很少的樣品制備，適用于固體，液體和粉末狀樣品。它可以用于從鈉到鈾的多種元素，并提供亞ppm級以下的檢測限；它也可以輕松，同時地測量高達100％的濃度。
X射線熒光光譜儀簡介
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X射線熒光光譜儀的簡介
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特
X射線熒光分析方法的簡介
X射線熒光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時，除發生散射現象和吸收現象外，還能產生次級X射線，即熒光X射線。熒光X射線的波長只取決于物質中原子的種類。因此，根據熒光X射線的波長就可確定物質的元素組分；再根據該熒光X射線的強度，還可定量分析所屬元素的含量。20世紀50年代開始發展，6
X射線熒光發射光譜儀的簡介
中文名稱X射線熒光發射光譜儀英文名稱X-ray fluorescent emission spectrometer定 義用于測量熒光X射線的X射線光譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
波長色散X射線熒光光譜儀簡介
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。 優點： 不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高,樣品制備簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀簡介
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。
X射線熒光光譜儀原理的簡介
X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。 XRF工作
X射線熒光光譜儀(XRF)－簡介
X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的
X射線熒光光譜儀分光晶體簡介
分光晶體是光譜儀的重要元件，應用了X射線的衍射特性，將樣品發射的各元素的特征X射線熒光，按波長分開以便測量每條譜線。不同的晶體和同一晶體的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。 由上式可以看出，晶體角色散率和所用晶體的晶面間距2d、衍射角θ及衍射級有關，即2d間距越小，角色散率越大；衍射角越大，角
X射線熒光光譜定性定量分析方法
樣品制備 進行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產生的誤差；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數率也不同；成份不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要
手持X射線熒光光譜儀的用途簡介
針對巖石粉末、巖心、野外露頭塊樣等樣品，可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。 (標準型)合金分析儀器Innov-X Delta DPO2000的分析模式與元素種類 元素分析范圍：從12號元素Mg鎂到94號元素PU范圍內的31種基本元素，在以上范圍內，可以根據客戶需要更換其
波長色散型X射線熒光光譜儀簡介
波長色散型X射線熒光光譜儀是一種用于化學、食品科學技術領域的分析儀器，于2008年12月23日啟用。 1、技術指標 最大功率3.6KV；0～60KV間，1KV連續可調；高壓發生器輸出穩定度±0.0001％；12位自動進樣器；下照式，六塊晶體。 2、主要功能 能對樣品中O～U之間的元素進行
X射線熒光光譜儀探測器簡介
X射線熒光光譜儀常用的探測器有流氣正比計數器和閃爍計數器，流氣正比計數器用于輕元素檢測，閃爍計數器用于重元素檢測。 流氣正比計數器由金屬圓筒（陰極）、金屬絲（陽極）、窗口及探測氣體（惰性氣體）構成。陽極都制成均勻光滑的細絲線，一般由鎢、鉬、鉑、金等穩定的金屬絲制成。 流氣正比計數器中一般選用
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光分析技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
波長色散式X射線熒光光譜儀的簡介
布拉格角范圍：13到98度28波 分析晶體：氟化鋰200，可選其他晶體 元素范圍：Kα 22-48（鈦到銀） 元素范圍：Lα 56-92（鋇到鈾） 準直器: 20千分之一發散 （探源） 檢測器：10千分之一接收 X-射線探源：X-射線管、鎢電極、鈹窗 X-射線管電壓：30KV連續電壓 X-射線管
X射線熒光光譜儀初級濾光片簡介
當需要分析痕量元素時，X射線光管產生的連續譜被輕基體強烈散射，在痕量元素的譜峰附近產生高背景，嚴重干擾測定。解決方法之一是在X射線光管和樣品之間的光路中插入一塊金屬濾光片，利用濾光片的吸收特性消除或降低X射線光管發射的原級X射線譜，尤其是消除靶材特征X射線譜和雜質線對待測元素的干擾，提高分析靈敏
多道X射線光譜儀簡介
中文名稱多道X射線光譜儀英文名稱multichannel X-ray spectrometer定 義能對多種不同波長或能量同時進行測量的X射線光譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線光譜儀的簡介
中文名稱X射線光譜儀英文名稱X-ray spectrometer定 義X射線波譜儀和X射線能譜儀的總稱。用于獲得試樣X射線光譜，并測量譜線的位置和強度。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
關于X射線熒光分析的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組
X射線熒光光譜儀概述
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X射線熒光光譜儀優點
X射線熒光光譜儀優點：1)可在一臺儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、游離氧化鈣X射線衍射分析。2)波長色散通道（波譜核）和能量色散通道（能譜核）可同時分別得到Be-?Am?和Na-Am?所有元素的光譜數據和定量分析結果。3)軟件可以得到上述各種分析技