X射線光譜儀的吸收效應和增強效應
吸收效應和增強效應，曲線a表示氫元素中重元素的X射線和含量的關系，種元素的分析光譜受輕元素發生的吸收效應較小，所以在低含量范圍，重元素的X射線強度隨含量的增加而迅速上升，重元素含量很高以后曲線的斜率就變小了；曲線b時分析由原子序數相近的元素所構成的樣品時所得到曲線，待測元素自身吸收稍大于其他共存元素吸收的情況；與a相反，曲線c時被測元素本身對其譜線的吸收比其他共存元素的吸收小的情況。作為檢測線所用的標樣要選用跟未知樣品成分比例相似的標品，這對避免吸收激發增加效應的影響是很重要的。......閱讀全文
X射線光譜儀的吸收效應和增強效應
吸收效應和增強效應，曲線a表示氫元素中重元素的X射線和含量的關系，種元素的分析光譜受輕元素發生的吸收效應較小，所以在低含量范圍，重元素的X射線強度隨含量的增加而迅速上升，重元素含量很高以后曲線的斜率就變小了；曲線b時分析由原子序數相近的元素所構成的樣品時所得到曲線，待測元素自身吸收稍大于其他共存
X射線熒光光譜儀的吸收與激發(增強)效應
① 原級入射線進人樣品時所受的吸收效應； ② 熒光譜線出射時受樣品的吸收或分析元素受樣品中其它元素的激發效應； ③ 第三級的激發效應。 以上各級吸收和激發效應，都隨著樣品基體化學組成的差異而發生變化。
X射線熒光光譜儀的吸收與激發效應
對一給定元素的某一吸收限的短波側，質量衰減系數pm迅速地隨著波長λ的增加而變大，根據式μm=Kλm及勒魯的研究結果，對于若干主要譜系，在0.18-10A的波段，λ的冪值m變化在2.1~2.8之間。因此越是接近吸收限短波側的譜線，所受的吸收或衰減就越大。而且，對一譜系，由于km隨的變化是連續的，故
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀的表面效應
樣品表面狀態和熒光譜線強度的關系不可忽視。當樣品是由磨料、鋸料或鋒料制成大小一定的塊狀物體時，其表面必須經過適當的磨平或拋光。 熒光譜線強度不僅與樣品的表面構造和紋溝的性質有關，而且也受樣品位置、紋溝和進出X射線方向影響。對于后者，可以通過測量過程中同時轉動樣品減少或消除，如不能轉動則應使紋溝
X射線吸收[式]光譜儀的簡介
中文名稱X射線吸收[式]光譜儀英文名稱X-ray absorption spectrometer定 義測定連續X射線透過試樣后產生的特征吸收單色X射線的儀器，最適合于有機溶劑等的分析。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線的物理效應
●穿透作用X射線因其波長短,能量大,照在物質上時,僅一部分被物質所吸收,大部分經由原子間隙而透過,表現出很強的穿透能力。X射線穿透物質的能力與X射線光子的能量有關,X射線的波長越短,光子的能量越大,穿透力越強。X射線的穿透力也與物質密度有關,利用差別吸收這種性質可以把密度不同的物質區分開來。●電離作
X射線熒光光譜儀的粒度效應介紹
在熒光強度的推導公式中，假設的樣品都是均勻且表面光滑的。但是實際上只有液體樣品或經過充分拋光的純金屬或某些合金樣品才能滿足這些條件。對于其他固體樣品特別是粉末樣品常常存在著樣品不均勻及粒度效應和表面效應。 均勻樣品，對于固體粉末樣品來說是指粉末的粒度和化學組成完全相同的樣品。實驗表明這種樣品在
簡述X射線的化學效應
化學效應中有兩個主要的標簽：感光作用和著色作用。 感光作用：X線與可見光一樣，當它照射到膠片的溴化銀上時，由于電離作用，使溴化銀藥膜發生化學變化，出現銀粒沉淀，這就是X線的感光作用。 著色作用：某些物質如鉑氧化鋇、鉛玻璃、水晶等，經X線長期照射后，其結晶脫水而改變顏色，稱作著色作用。
簡述X射線的生物效應
X射線照射到生物機體時，可使生物細胞受到抑制、破壞甚至壞死，致使機體發生不同程度的生理、病理和生化等方面的改變。不同的生物細胞，對X射線有不同的敏感度，可用于治療人體的某些疾病，特別是腫瘤的治療。在利用X射線的同時，人們發現了導致病人脫發、皮膚燒傷、工作人員視力障礙，白血病等射線傷害的問題，在應
X射線熒光光譜儀的基體效應的概述
在X射線熒光分析中，隨著高度精密、穩定儀器的出現與發展，基體效應已成為元素定量測定中分析誤差的主要來源。所謂基體效應，全面說來，是指樣品的基本化學組成和物理-化學狀態的變化，對分析射線強度所造成的影響。樣品的基本化學組成，通常指包括分析元素在內的主量元素；樣品的物理-化學狀態，則應包括固體粉末的
X射線的物理效應相關介紹
（1）穿透作用。X射線因其波長短，能量大，照在物質上時，僅一部分被物質所吸收，大部分經由原子間隙而透過，表現出很強的穿透能力。X射線穿透物質的能力與X射線光子的能量有關，X射線的波長越短，光子的能量越大，穿透力越強。X射線的穿透力也與物質密度有關，利用差別吸收這種性質可以把密度不同的物質區分開來
關于X射線的化學效應介紹
（1）感光作用。X射線同可見光一樣能使膠片感光。膠片感光的強弱與X射線量成正比，當X射線通過人體時，因人體各組織的密度不同，對X射線量的吸收不同，膠片上所獲得的感光度不同，從而獲得X射線的影像。 （2）著色作用。X射線長期照射某些物質如鉑氰化鋇、鉛玻璃、水晶等，可使其結晶體脫水而改變顏色。
X射線熒光光譜儀的其它物理化學效應
① 樣品的均勻性、粒度和表面效應； ② 化學態的變化對分析線強度的影響。 以上兩類物理-化學效應，尤其是前者，時常也會給分析線強度的測量帶來重大誤差。
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光分析的基體效應
試樣內部產生的X熒光射線，在到達試樣表面前，走位的共存元素會產生吸收（吸收效應）。同事還會產生X熒光射線并對共存元素二次激發（二次激發效應）。因此即使含量一樣，由于共存元素的不同，熒光射線強度也會有所差別，這就是基體效應。在定量分析時，尤其要注意基體效應的影響。
X射線光譜儀的簡介
中文名稱X射線光譜儀英文名稱X-ray spectrometer定 義X射線波譜儀和X射線能譜儀的總稱。用于獲得試樣X射線光譜，并測量譜線的位置和強度。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
吸收X射線譜法的簡介
中文名稱吸收X射線譜法英文名稱absorption X-ray spectrum定 義利用試樣對X射線的特征吸收進行試樣元素定性定量分析的方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）
X射線吸收光譜的光源
X光吸收光譜可借由調變X光光子能量，于目標原子束縛電子之激發能量范圍內進行掃描而得。通常需使用同步輻射設施以提供高強度并可調變波長之X光光束。
X射線熒光光譜儀中的X射線原理科普
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。x射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應。X射線初用于醫學成像診斷和X射線結晶學。X射線也是游離輻射等這一類對人體有危害的
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線熒光光譜儀X射線防護系統的故障分析
為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。射線防護系統正常與否，主要檢查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射線熒光光譜儀是一個封閉系統，面板是最外層的射線防護裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒有完全合
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。