白光干涉條紋的應用
白光干涉條紋的這種特點在干涉測量中有著重要的應用，它是判斷所用干涉儀是否等光程的可靠方法。......閱讀全文
白光干涉條紋的應用
白光干涉條紋的這種特點在干涉測量中有著重要的應用，它是判斷所用干涉儀是否等光程的可靠方法。
白光干涉條紋的應用
白光干涉條紋的這種特點在干涉測量中有著重要的應用，它是判斷所用干涉儀是否等光程的可靠方法。
白光干涉儀白光干涉條紋不對稱是什么原因？
白光干涉條紋不對稱。 原 因： （1）受運輸沖擊或使用過程中碰過分光板和補償板兩板平行 度已被破壞。 檢修方法：調整分光板與補償板的平行性，在沒有自準直儀時，可通過兩板同時觀察室內目標物。如日光燈，調節兩板上的寬頭螺釘，使雙象基本重合，這時調出的白光彩色條紋可達到基本對稱，如仍有不對稱現象
干涉條紋的應用
干涉現象及干涉條紋的出現對于光學測量微小變形具有重要意義，牛頓環、劈尖干涉等都可以經過簡單改造制成測量微小變形的儀器。由于其方式是將距離轉化為條紋數與光波長的函數，故精度很高，可以達到光波長量級。如圖1為牛頓環的干涉條紋。同時也廣泛應用于生活中。如車窗玻璃的反射膜，是利用膜兩側反射光波疊加削弱來達到
白光條紋的定義
白光是由可見光區各種波長的光按一定比例組成。只有當對可見光區各種波長光的光程差等于零或等于幾個波長時，才可能觀察到白光的干涉條紋。
白光條紋的定義
白光是由可見光區各種波長的光按一定比例組成。只有當對可見光區各種波長光的光程差等于零或等于幾個波長時，才可能觀察到白光的干涉條紋。以楊氏干涉實驗為例,說明白光干涉條紋的特點。在這種裝置中,當以單色光照明狹縫時，在屏上呈現出明暗相間的、與狹縫平行的直條紋；而當以白光照明狹縫時，則得數目不多的彩色直條紋
白光條紋的特征
白光條紋之所以具有這樣的特點，是因為所有波長光的零級干涉條紋都重合在一起，而同一波長的相鄰條紋間的間隔又與波長成正比。附圖以干涉光強分布曲線表示出白光干涉的這種特點。為簡明起見，畫出兩個不同波長的干涉光強分布。實線代表較短波長的光的強度分布，虛線代表較長波長的光的強度分布。如果畫出白光中各種波長光的
白光條紋的特征
白光條紋之所以具有這樣的特點，是因為所有波長光的零級干涉條紋都重合在一起，而同一波長的相鄰條紋間的間隔又與波長成正比。附圖以干涉光強分布曲線表示出白光干涉的這種特點。為簡明起見，畫出兩個不同波長的干涉光強分布。實線代表較短波長的光的強度分布，虛線代表較長波長的光的強度分布。如果畫出白光中各種波長光的
什么是白光條紋？
白光是由可見光區各種波長的光按一定比例組成。只有當對可見光區各種波長光的光程差等于零或等于幾個波長時，才可能觀察到白光的干涉條紋。
白光條紋的產生原理
白光是由可見光區各種波長的光按一定比例組成。只有當對可見光區各種波長光的光程差等于零或等于幾個波長時，才可能觀察到白光的干涉條紋。以楊氏干涉實驗為例,說明白光干涉條紋的特點。在這種裝置中,當以單色光照明狹縫時，在屏上呈現出明暗相間的、與狹縫平行的直條紋；而當以白光照明狹縫時，則得數目不多的彩色直條紋
白光干涉儀的應用領域
應用領域： 1、半導體晶片 2、液晶產品（CS,LGP,BIU） 3、微機電系統 4、光纖產品 5、數據存儲盤（HDD,DVD,CD） 6、材料研究 7、精密加工表面 8、生物醫學工程
薄膜干涉條紋間距
因為等厚干涉現象的兩任意相鄰條紋之間的厚度差等于λ／2,即薄膜層介質中光的波長的一半,而條紋間距△X*sinΘ=λ／2因為角度小的時候可以認為sinΘ=Θ,所以推出：△X＝λ／2Θ
薄膜干涉條紋間距
因為等厚干涉現象的兩任意相鄰條紋之間的厚度差等于λ／2,即薄膜層介質中光的波長的一半,而條紋間距△X*sinΘ=λ／2因為角度小的時候可以認為sinΘ=Θ,所以推出：△X＝λ／2Θ
干涉條紋的產生原理
光波是以正弦波的形式在介質中傳播的，由于光波傳播的獨立性和線性疊加性，兩束或兩束以上同頻光波相遇時，會根據相位的不同出現光強增強或減弱的現象。以相干光（周期及振動方向相同且相位差恒定的光）為例，簡要解釋一下干涉條紋的產生原理。如圖所示，間隔為d的兩條狹縫S1和S2產生的兩束波長為?的相干光發生干涉，
干涉條紋的產生原理
光波是以正弦波的形式在介質中傳播的，由于光波傳播的獨立性和線性疊加性，兩束或兩束以上同頻光波相遇時，會根據相位的不同出現光強增強或減弱的現象。以相干光（周期及振動方向相同且相位差恒定的光）為例，簡要解釋一下干涉條紋的產生原理。如圖所示，間隔為d的兩條狹縫S1和S2產生的兩束波長為?的相干光發生干涉，
白光干涉儀優勢及應用領域
白光干涉儀優勢：? 價格優勢：市場上性價比的白光干涉儀。? 簡單易用：只需將樣品放置于樣品臺上，即可直接進行測量；? 可以測量非接觸式非平坦樣品：由于光學輪廓測量法是一種非接觸式技術，可以輕松測量彎曲和其他非平面表面。還輕松地測量曲面的表面光潔度，紋理和粗糙度。除此之外，作
白光干涉儀簡介
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介
白光干涉儀的介紹
白光干涉儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，它是以白光干涉技術為原理，光源發出的光經過擴束準直后經分光棱鏡后分成兩束，一束經被測表面反射回來，另外一束光經參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發生干涉，顯微鏡將被測表面的形貌特征轉化為干涉條紋信號，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌。白光
怎么維護白光干涉儀？
1、儀器應妥善地放在干燥、清潔的房間內，防止振動，儀器搬動 時，應托住底座，以防導軌變形。 2、光學零件不用時，應存放在清潔的干燥盆內，以防止發霉。反光鏡、分光鏡一般不允許擦拭，必要擦拭時，須先用備件毛刷小心撣去灰塵，再用脫脂清潔棉花球滴上酒精和乙醚混合液輕拭。 3、傳動部件應有良好的潤滑。
白光干涉儀工作原理
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測
干涉條紋的產生原理和特點
干涉現象為簡諧波傳導過程中的基本現象之一，光波、水波及聲波等都會發生干涉。當兩束光波發生干涉時，會使有些區域變亮而有些區域變暗，即出現干涉條紋。干涉條紋的出現對于光學測量微小變形具有重要意義，同時也廣泛存在于生活中，如半透膜，彩色的肥皂泡等。
白光干涉式表面測量儀
白光干涉式表面測量儀是一種用于機械工程領域的計量儀器，于2011年1月1日啟用。 1、技術指標 白光干涉式表面測量儀：（1）高度測量范圍為 10nm ---200μm；（2）表面測量范圍為 0.1×0.1mm；（3）垂直分辨率可以達1nm。 。 2、主要功能 干涉儀是利用干涉原理測量光程
白光干涉儀該怎樣選購？
白光干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經半反半透分光鏡分威兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光，并由成像系統在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉，在CCD相機感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干涉條
如何選購合適的白光干涉儀？
(1)精度。精度高的白光干涉儀是較好的白光干涉儀。為什么這么說呢?這么說并非說白光干涉儀的其他功用不重要，咱們都知道任何一款電子衡器其構成結構多大同小異的，而許多產品不同只是用材的差異性，并非技能型的差異性。但精度這個不是單獨用材就能夠處理的，它是一款白光干涉儀的規范，因而也決定其價格。? (
白光干涉儀的原理是什么
白光干涉儀：是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。 白光干涉儀基本原理：就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由所
白光干涉儀的原理及維護
白光干涉儀工作原理：是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此
干涉實驗條紋間距公式的推導方法
因為等厚干涉現象的兩任意相鄰條紋之間的厚度差等于λ／2，即薄膜層介質中光的波長的一半，而條紋間距△X*sinΘ=λ／2因為角度小的時候可以認為sinΘ=Θ，所以推出：△X＝λ／2Θ?
白光干涉儀干涉環不圓正故障分析
干涉環不圓正 原 因： （1）分光板膜層面反向。 （2）兩組出射光瞳錯位。 （3）分光板、補償板、移動鏡及參考鏡有壓應力。 檢修方法：分光板膜層應是入射光的第二面，如裝在第一面，則調出的等傾干圓涉環是直的橢圓形干涉環，可旋松分光板的三只寬頭螺釘，取出分光 板，反過180°重新裝入金屬框
白光干涉儀的的特點有哪些？
白光干涉儀的主要功能： 觀察、分析、應用 特點： 1 、非接觸式測量：避免物件受損。 2 、三維表面測量：表面高度測量范圍為 1nm ---200μm。 3 、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。 4 、納米級分辨率：垂直分辨率可以達0.1nm。 5、高速數字信號處理器：實現測量僅需幾秒
白光干涉儀該怎樣選購呢
白光干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經半反半透分光鏡分威兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光，并由成像系統在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉，在CCD相機感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干